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本发明公开了一种铁氧体单晶谐振子饱和磁化强度快速测试装置，属于微波元器件测试领域，其装置包括样品杆（1）、谐振器（2）、模拟信号发生器（3）、扫场电源（4）和示波器（5）；其中，所述样品杆（1）置于谐振器（2）中，所述谐振器（2）分别通过数...
该专利属于中国电子科技集团公司第九研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第九研究所授权不得商用。

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