发光二极管测试机台的自动化装置制造方法及图纸

一种发光二极管测试机台的自动化装置，其特征是：主要由一组进料结构、一定位测试结构及一组出料结构所组成，一组进料结构由下列各构件所组成，其进料端为一圆形振动盘，并有一平形振动盘与其相连接，且该平形振动盘延伸至测试区前端，并与测试组前端相连接；该平形振动盘向前延伸至测试端前方处的上方设置有一挡爪，该挡爪为一弹簧联动体；该挡爪上方处设置有一辅助进料送风口，其与空气输送管连接；平形振动盘下方与挡爪相对位置的前端处设置有一进料夹爪组；挡爪末端处设置有一导正爪，导正爪后端设置有一带料爪组，其呈一Γ型，前端立面处设置有数个等距缺口；一组定位测试结构由一定位爪组，设置于带料爪组对面的相对位置，其呈一Ｅ字型，凸出的三爪的前端分别设有一内凹的定位口，并与各测试站相对应；定位爪组的正下方为一测试组，其前端与平形振动盘的末端相连接，该测试组上方呈三个测试站，第一测试站下设一极性测试框脚探针座，第二测试站下为一旋转座，第三测试站下方为另一框脚探针座，其主要由该框脚探针座与发光二极管的针脚产生极性接触，并配合上方的亮度波长检测头；一组出料结构接设于测试区的末端由一胶质履带，其内侧有等宽的凹槽，且供与传动齿轮相啮合，并有数个出料座等距卡持于履带上；出料座为一倒Ｌ型的承接座，上方有一宽度及深度适中的沟槽；数气动推杆装设于出料座后方，且与各出料座相对应。（*该技术在2011年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种发光二极管测试机台的自动化装置。有鉴于此，本专利技术者集多年来从事相关行业的实际经验，不断的研发及设计，依据测试程序的需要，将整个检测流程予以自动化，并研发出适用的自动化设备，今终有所成。本技术在于提供一种一种发光二极管测试机台的自动化装置，主要由一组进料结构、一定位测试结构及一组出料结构所组成，一组进料结构由下列各构件所组成，其进料端为一圆形振动盘，并有一平形振动盘与其相连接，且该平形振动盘延伸至测试区前端，并与测试组前端相连接；该平形振动盘向前延伸至测试端前方处的上方设置有一挡爪，该挡爪为一弹簧联动体；该挡爪上方处设置有一辅助进料送风口，其与空气输送管连接；平形振动盘下方与挡爪相对位置的前端处设置有一进料夹爪组；挡爪末端处设置有一导正爪，导正爪后端设置有一带料爪组，其呈一Γ型，前端立面处设置有数个等距缺口；一组定位测试结构由一定位爪组，设置于带料爪组对面的相对位置，其呈一E字型，凸出的三爪的前端分别设有一内凹的定位口，并与各测试站相对应；定位爪组的正下方为一测试组，其前端与平形振动盘的末端相连接，该测试组上方呈三个测试站，第一测试站下设一极性测试框脚探针座，第二测试站下为一旋转座，第三测试站下方为另一框脚探针座，其主要由该框脚探针座与发光二极管的针脚产生极性接触，并配合上方的亮度波长检测头；一组出料结构接设于测试区的末端由一胶质履带，其内侧有等宽的凹槽，且供与传动齿轮相啮合，并有数个出料座等距卡持于履带上；出料座为一倒L型的承接座，上方有一宽度及深度适中的沟槽；数气动推杆装设于出料座后方，且与各出料座相对应。本技术在于还提供一种一种发光二极管测试机台的自动化装置，该定位测试结构设置有三个测试站。本技术在于还提供一种一种发光二极管测试机台的自动化装置，该出料结构以履带承载出料座。本技术在于还提供一种一种发光二极管测试机台的自动化装置，该导正爪侧面设置有一∏字型的定位孔，其另一垂直端面设置有一∏型导正孔。本技术在于还提供一种一种发光二极管测试机台的自动化装置，该进料夹爪组由特殊凸轮联动，该特殊凸轮的一横向端面为板凸轮，而纵向端面为筒凸轮的合体。本技术在于还提供一种一种发光二极管测试机台的自动化装置，该测试站下方的旋转座，下接一由空气致动的汽缸。本技术在于还提供一种一种发光二极管测试机台的自动化装置，该第三测试站的一端设置有一凸起的定位柱。本技术在于还提供一种一种发光二极管测试机台的自动化装置，该框脚探针座接设于定位爪组下方，其上面为两相间隔的长型片，并该两长型片下面各装设有探针。本技术可达到检测流程自动化，且效率高，并可达到依测试结果分类及其受检测的准确度更加精准。图2本技术出料结构立体外观图。图3～10本技术的出料流程示意图。附图说明图11、12本技术的进料夹爪组的结构平面示意图。图13本技术进料夹爪组的结构动作放大图。图14本技术导正爪结构的立体外观图。图15本技术带料爪组的立体外观图。图16本技术定位爪组的立体外观图。图17本技术框脚探针座测试示意图。图18本技术旋转结构的立体外观图。图19本技术定位爪组三点定位示意图。图20本技术气动推杆的立体外观图。图21本技术气动推杆的动作示意图。具体实施方式为使贵审查委员能充份了解本技术的结构组成及其动作流程，兹以下列图示配合说明。本技术是有关一种发光二极管测试机台的自动化装置，其主要系由一组进料结构、一定位测试结构及一组出料结构所组成，详图如图1及图2所示，该进料结构由下列各构件所组成其进料端为一圆形振动盘11，并有一平形振动盘12，如轨道般与其相连接，且该平形振动盘12延伸至测试段P前端，并恰可与测试段P前端相连接；该平形振动盘12向前延伸至测试段P前方的适当处时，上方设置有一挡爪21，该挡爪21为一由弹簧联动可供开合并具挡置发光二极管的作用；挡爪21上方适当处设置有一辅助进料送风口22，其与空气输送管连接，并有持续送风且可将发光二极管向前吹置的作用；平形振动盘12下方与挡爪21相对位置的前端适当处，设置有一进料夹爪组23，(请参阅图11、12、13)其由凸轮232配合横向传动轮235及纵向传动轮233产生联动，藉以控制进料夹爪组23的闭合及其前后往复运动；挡爪21末端适当处设置有一导正爪24(请参阅图14)，该导正爪21侧面与平形振动盘12的轨道相对位置有一∏字型缺口，其前端面亦有一相同大小的∏字型缺口；导正爪21后端设置有一带料爪组26，其呈一Γ型，前端立面处设置有四个等距缺口(请参阅图15)。(请参阅图16～19)又，该定位测试结构由下列各构件所组成(请参阅图16)一定位爪组25，设置于带料爪组26对面的相对位置，其呈一E字型，凸出的三爪的前端分别设有一内凹的定位口(251、252、253)，并与各测试站(P1、P2、P3)相对应；(请参阅图18)定位爪组25的正下方为一测试段P，其前端恰可与平形振动盘12的末端相连接，该测试组上方呈三个测试站(P1、P2、P3)，第一测试站P1为极性测性，下接一极性探针座254(请参阅图17)，可测试发光二极管的极性是否符合测试的极性方向，第二测试站P2下为一旋转座28，该旋转座28下接一由空气致动的汽缸，其旋转与否乃取决于第一测试站P1下方的极性探针座254检测的结果，若不符合测试的极性方向，则由空气致动汽缸，并使其产生180度的旋转，使欲受测的发光二极管的受测极性向符合受测要求，第三测试站P3下方为一框脚探针座255，其主要由该框脚探针座255与发光二极管L的针脚L1产生极性接触，并配合上方的亮度波长检测头27，以检测该受测发光二极管的亮度及光波长；(请参阅图18及图19)再者，第三测试站P3的一端并设置有一凸起的定位柱P3，其目的在使发光二极管受定位爪组25的第三定位口253卡持时，除第三定位口253两边能夹持外，并与该定位柱P31能产生三点定位，使发光二极管不会有倾斜受测的情况。(请参阅图2)另，该出料结构接设于测试区的末端，其由下列各构件所组成一胶质履带32，其内侧有等宽的凹槽，可供与传动齿轮33相啮合，并有数个出料座31等距卡特于履带32上；出料座31为一倒L型的承接座，上方有一宽度及深度适中的沟槽，该沟槽可承接受测完毕的料件。由上述的进料结构、定位测试结构及出料结构所组而成的发光二极管测试机台的自动化装置，即为本技术。本技术发光二极管测试机台的自动化结构所提供的测试进程如下单一进程欲受测的发光二极管集中于圆形振动盘11内→因振动，故由平形振动盘12沿轨道向前移行→发光二极管沿轨道集中于挡爪21前→进料夹爪组23夹住发光二极管的针脚向前移行出挡爪21→进料辅助送风口22以空气将发光二极管吹入导正爪24的侧面挡置孔241内→导正爪24向后退出(发光二极管因导正爪24前端面的导正孔242，故经导正后定位停留于轨道上)→带料爪组26纵向向前靠持，并以第一缺口261靠持发光二极管→带料爪组26将发光二极管横向带至第一测试站P1，完成后以纵向后退后再横向覆位→定位爪组25以纵向向前，并以第一定位口251靠持发光二极管L，以确实定位于第一测试站P1(定位爪组25下方的极性探本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡忠谚，
申请(专利权)人：蔡忠谚，
类型：实用新型
国别省市：