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廉价的蓝硅对数指示测光表制造技术

技术编号:2551889 阅读:290 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术是一种主要用于摄影工作的光强度测量仪器,由蓝硅光电池、放大器、零位电路、表头等组成,其特点是最低能测量0.05勒克斯的弱光,表头读数与曝光量呈线性对应关系,测量错误可低达十分之一挡光圈数,由于采用了CMOS数字集成电路,故成本低廉.(*该技术在1995年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种主要用于摄影工作的测光表,由兰硅光电池、放大电路、表头组成,其特征在于表头与电阻串联后其一端接到放大器,上述放大器的输入与输出端分别与兰硅光电池的两端连接,表头的另一端与零位电路连接,上述零位电路上接有由稳压管、电阻、电位器组成的零位调节电路。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:俞义华
申请(专利权)人:俞义华
类型:实用新型
国别省市:31[中国|上海]

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