同时分析多个样品的方法及其装置制造方法及图纸

同时对多个样品进行处理的分析装置和方法，将包含多个所需波长的辐射，如激光束（１２，１４）同时射入通过多个样品（３２ａ－ｄ），如沿一条光路射入通过所有的样品。通过监测诱发效应而不是应用辐射本身（４２）的强度监测对于每个波长的响应。以每个样品的低吸收可获得有用的信噪比。要求一个样品的组分是已知的，把它作为内部校准标准。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及通过暴露于激光一类辐射对多个样品，诸如气体样品进行分析的方法和装置。分析测试方法涉及使辐射透过被测试材料(通常称为“被分析物”)样品。例如，有些光度测试方法是在与特定物质有关的特定波长上测量样品吸收的光量。如果某种特定化学物质强烈吸收红光，那么，通过将一束红光射入样品可确定样品中该物质的含量。用光电检测器可测量穿过样品后仍存留于光束中的红光量。照射量越大，保留在光束中的红光越少。利用不同的辐射波长，有多种不同基本方案。由于到达光电池的光量依赖于光源的性能，如灯提供的照射量，因此，当移开样品时可以沿原路径射入灯的参考光束，提供参考或校准读数，或者沿单独的路径到达独立的光电检测器，提供连续的校准读数。此外，被分析物可能含有几种不同的物质，每种物质吸收不同波长的光，可以在每一种不同波长上对样品进行测试，确定每种物质的含量。通常，采用这种类型的光度测量方法可监测不同化学物质，即样品中不同元素或化合物的含量。正如Daniel E.Murnick的美国专利5,394,236所述，可以采用另一种测量技术来确定样品中存在的特定原子同位素的含量。同位素为同一化学元素的不同形式，具有本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种对被分析物进行分析的方法，其特征在于包括下列步骤：（ａ）维持所述被分析物的多个单独样品；（ｂ）将含有多个波长的辐射取入通过所述多个样品，多个波长与可能存在于所述被分析物中的多个物质的跃迁能量相对应，使所述辐射从一个公共辐射源同时 通过所有样品，由此所有的所述样品将曝露了光谱成分基本相同的辐射中；（ｃ）监测所述样品对所述辐射的响应，确定每个所述波长的响应；（ｄ）对于所述波长，将每个所述样品的响应进行相互比较，产生每个所述样品中所述物质相对丰度的测量结果。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：DE默尼克，
申请(专利权)人：拉脱格斯州立大学，
类型：发明
国别省市：US[美国]