直接标定谱线波长的平面晶体谱仪制造技术

一种直接标定谱线波长的平面晶体谱仪，包括在基体内长梯形内腔的斜平面上置有以平板晶体作为平行平板的反射体，在平行平板反射体的表面上置有包含有金属线构成的ｎ≥３条等间距平行线的辅助光阑。当被测光源发射的光束射到平行平板反射体上形成了一个是覆盖了辅助光阑的参考区和一个未覆盖辅助光阑的测量区。参考区内辅助光阑上的平行线在接收器接收面上形成阴影像，通过测量形成的阴影像之间的距离，能够确定接收面上谱片中任意谱线的绝对波长。与在先技术相比，具有直接自定标谱线波长，定标精度较高，应用范围更广泛的特点。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是关于一种能直接标定谱线波长的平面晶体谱仪。主要适用于在没有任何参考谱线情况下精确标定发射谱的场合，尤其适用激光等离子体的X射线发射谱的测定。
技术介绍
晶体谱仪在使用前必须经过波长标定，即确定谱线波长(或谱线在晶面的衍射角)与谱线在谱片上的位置之间的函数关系。谱线波长的精确标定有助于谱线的正确辨认和归类，它是X射线光谱学分析的前提。平面晶体谱仪的工作原理是基于晶体对所接收射线衍射的布喇格公式2d sinθ＝nλ (1)其中d为晶体的晶面间距，θ为晶面衍射角，n为衍射级次。对于激光等离子体的波长λ为X射线，从光源发出后，经晶体表面以唯一确定的角度θ衍射后被接收器接收，在接收器的谱片上形成一条谱线，如图3所示。由于激光等离子体的体积线度很小，其直径一般为几十微米，因此可看作是点光源O，在图3中用S表示点光源。CX为晶体平面，FY为谱片平面。以CX为X轴，以FY为Y轴，两轴的夹角为α，交点为O。S’为S点在晶体平面的虚像点，SS’与X轴交点为N，设SN＝S′N＝h。过S’点作Y轴的垂线，垂足为K，S′K＝f。过S’点作X轴的平行线，与Y轴交点为T。x为X射线与晶体表面的交点在本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种直接标定谱线波长的平面晶体谱仪，包括带有长梯形内腔（５）的基体（２），有平行平板反射体（４）置于长梯形内腔（５）的斜平面上，长梯形内腔（５）的一端是入射窗口（１），另一端是出射窗口（６），出射窗口（６）上装有探测器（７），探测器（７）的接收面与置有平行平板反射体的长梯形内腔（５）斜平面的夹角α＜９０°，平行平板反射体（４）的中心点（Ｏ）恰好在入射窗口（１）的中心轴线（Ｏ’Ｏ）上，其特征在于在平行平板反射体（４）的表面上置有包含由金属线构成的ｎ≥３条等间距（３０２）的平行线（３０１）的辅助光阑（３）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘智，李儒新，范品忠，曾志男，徐至展，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]