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一种直接标定谱线波长的平面晶体谱仪，包括在基体内长梯形内腔的斜平面上置有以平板晶体作为平行平板的反射体，在平行平板反射体的表面上置有包含有金属线构成的ｎ≥３条等间距平行线的辅助光阑。当被测光源发射的光束射到平行平板反射体上形成了一个是覆盖了...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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