一种电子元件X光无损检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种电子元件X光无损检测装置，包括第一升降机构、第二升降机构、平移机构、X光发射器、X光接收器、载物台。第一升降机构位于平移机构的上方；第二升降机构位于平移机构的下方。X光接收器装设在第一升降机构上。X光发射器装设在第二升降机构上。载物台装设在平移机构上。第一升降机构包含第一升降滑轨、第一升降驱动电机、摆动驱动电机、横梁。摆动驱动电机通过第二传动组件与旋转轴相连接。摆动驱动电机带动第一升降滑轨在横梁上左、右倾斜，从而调整X光接收器相对于载物台的角度，实现对待测电子元件的多角度检测，操作简单、节省检测时间，提高了电子元件的检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元件X光无损检测装置
本技术涉及无损探伤检测
，尤其涉及一种电子元件X光无损检测装置。
技术介绍
电子元件X光无损检测装置利用X光线(X-Ray)穿透不同密度物质后其光强度的变化，产生的对比效果可形成影像，即可显示出待测电子元件的内部结构，进而可在不破坏待测电子元件的情况下观察待测电子元件内部有缺陷的区域。然而，现有的电子元件X光无损检测装置，具有以下方面的不足：需要手动调整待测电子元件的角度和位置，既难以满足电子元件全方位检测的要求，也耗费检测时间，电子元件检测效率低。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本技术提出了一种电子元件X光无损检测装置。为了实现上述目的，本技术技术方案如下：一种电子元件X光无损检测装置，包括第一升降机构、第二升降机构、平移机构、X光发射器、X光接收器、载物台。第一升降机构位于平移机构的上方；第二升降机构位于平移机构的下方。X光接收器装设在第一升降机构上。X光发射器装设在第二升降机构上。载物台装设在平移机构上。第一升降机构包含第一升降滑轨、第一升降驱动电机、本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子元件X光无损检测装置，其特征在于：/n包括第一升降机构(1)、第二升降机构(2)、平移机构(3)、X光发射器(4)、X光接收器(5)、载物台(6)；/n第一升降机构(1)位于平移机构(3)的上方；第二升降机构(2)位于平移机构(3)的下方；X光接收器(5)装设在第一升降机构(1)上；X光发射器(4)装设在第二升降机构(2)上；载物台(6)装设在平移机构(3)上；/n第一升降机构(1)包含第一升降滑轨(11)、第一升降驱动电机(12)、摆动驱动电机(13)、横梁(14)；第一升降滑轨(11)通过旋转轴安装在横梁(14)上；第一升降驱动电机(12)、摆动驱动电机(13)装设在第一升降滑...

【技术特征摘要】
1.一种电子元件X光无损检测装置，其特征在于：
包括第一升降机构(1)、第二升降机构(2)、平移机构(3)、X光发射器(4)、X光接收器(5)、载物台(6)；
第一升降机构(1)位于平移机构(3)的上方；第二升降机构(2)位于平移机构(3)的下方；X光接收器(5)装设在第一升降机构(1)上；X光发射器(4)装设在第二升降机构(2)上；载物台(6)装设在平移机构(3)上；
第一升降机构(1)包含第一升降滑轨(11)、第一升降驱动电机(12)、摆动驱动电机(13)、横梁(14)；第一升降滑轨(11)通过旋转轴安装在横梁(14)上；第一升降驱动电机(12)、摆动驱动电机(13)装设在第一升降滑轨(11)上；X光接收器(5)可滑动的装设在第一升降滑轨(11)上；第一升降驱动电机(12)通过第一传动组件与X光接收器(5)相连接；摆动驱动电机(13)通过第二传动组件与所述旋转轴相连接。


2.根据权利要求1所述的电子元件X光无损检测装置，其特征在于：
第二升降机构(2)包含第二升降滑轨(21)、第二升降驱动电机(22)；
第二升降滑轨(21)设置在载物台(6)的下方；
第二升降驱动电机(22)装设在第二升降滑轨(21)上；
X光发射器(4)可滑动的装设在第二升降滑轨(21)上；
第二升降驱动电机(22)的转轴通过第三传动组件与X光发射器(4)相连接。


3.根据权利要求1所述的电子元件X光无损检测装置，其特征在于：
载物台(6)的中间设置有圆盘(61)，载物台(6)上装设有旋转驱动电机(62)；
旋转驱动电机(62)的转轴通过第四传动组件连接于圆盘(61)；
旋转驱动电机(62)用于带动圆盘(61)转动。


4.根据权利要求1所述的电子元件X光无损检测装置，其特征在于：
平移机构(3)包含X轴...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢光红，赵红艳，
申请(专利权)人：深圳市康姆智能装备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44