扁平探针制造技术

本实用新型专利技术公开了一种扁平探针，包括上转接部、下转接部和用于连接上转接部和下转接部的弯折部，所述上转接部、所述下转接部和所述弯折部一体成型，所述弯折部包括并联设置且具有弹性的第一金属导带和第二金属导带，所述第一金属导带和第二金属导带相互对称，所述第一金属导带和第二金属导带均采用实体结构。本实用新型专利技术的弯折部不仅可以增加扁平探针的弹性，达到弹性接触待测器件的目的，还能够有效地增加了用于导电的弯折部的面积，提高扁平探针的阻抗和导通性。此外，所述第一金属导带和第二金属导带均采用实体结构，一方面可以保证弯折部具有良好的弹性和较强的过电流能力，不会在探针使用时因弹性小出现压接不紧的问题。

【技术实现步骤摘要】
扁平探针
本技术涉及检测设备领域，特别涉及一种扁平探针。
技术介绍
探针主要应用于测试各种制作完成后的电子元件及电路板，具体是将探针配置于测试治具上从而与电子元件或电路板接触，接着由探针将测试的结果经导线传回计算机，以确认待测物是否有不良之处。目前的探针结构，探针安装在探针座中，测试时，需要向探针的两头施加压力，进行导通检测，长期操作后，容易对探针造成损伤，甚至使探针的针体发生折断，探针使用寿命短。
技术实现思路
本技术提供一中扁平探针，以解决现有技术中探针使用寿命短的问题。为解决上述技术问题，本技术提供一种扁平探针，包括：上转接部、下转接部和用于连接上转接部和下转接部的弯折部，所述上转接部、所述下转接部和所述弯折部一体成型，所述弯折部包括并联设置且具有弹性的第一金属导带和第二金属导带，所述第一金属导带和第二金属导带相互对称，所述第一金属导带和第二金属导带均采用实体结构。作为优选，所述上转接部和所述下转接部均包括与弯折部连接的连接部和与连接部连接的探针头。作为优选，所述探针头的端部形状为V型、W型、M型、O型、U型、匚型或T型。作为优选，所述探针头采用实体结构。作为优选，所述上转接部的连接部为Y型，以分别与第一金属导带和第二金属导带连接。作为优选，所述下转接部的连接部位T型结构，以分别与第一金属导带和第二金属导带连接。作为优选，所述第一金属导带和第二金属导带的形状均包括C形、M形、S形、工形、弓形、多S形中的任意一种。与现有技术相比，本技术的扁平探针包括上转接部、下转接部和用于连接上转接部和下转接部的弯折部，所述上转接部、所述下转接部和所述弯折部一体成型，所述弯折部包括并联设置且具有弹性的第一金属导带和第二金属导带，所述第一金属导带和第二金属导带相互对称，所述第一金属导带和第二金属导带均采用实体结构。本技术将弯折部设置为对称的第一金属导带和第二金属导带，不仅可以增加扁平探针的弹性，达到弹性接触待测器件的目的，还能够有效地增加了用于导电的弯折部的面积，提高扁平探针的阻抗和导通性。此外，所述第一金属导带和第二金属导带均采用实体结构，一方面可以保证弯折部具有良好的弹性，不会在探针使用时因弹性小出现压接不紧的问题；另一方面，第一金属导带和第二金属导带具有更大的过电流能力，不会在上电时因电流电压过大被烧断。附图说明图1为本技术的扁平探针的立体结构示意图；图2为本技术的扁平探针的平面结构示意图。图中所示：1、上转接部；11、连接部；12、探针头；2、下转接部；3、弯折部；31、第一金属导带；32、第二金属导带。具体实施方式为使本公开实施例解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面将结合附图对本公开实施例的技术方案作进一步的详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本公开实施例中的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本公开实施例中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开实施例保护的范围。需要说明的是，本公开实施例中提到的“和/或”是指”包括一个或更多个相关所列项目的任何和所有组合。本公开的说明书和权利要求书及附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于限定特定顺序。还需要说明是，本公开实施例中下述各个实施例可以单独执行，各个实施例之间也可以相互结合执行，本公开实施例对此不作具体限制。下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本公开实施例的技术方案。如图1和图2所示，本技术提供一种扁平探针，包括：上转接部1、下转接部2和用于连接上转接部1和下转接部2的弯折部3，所述上转接部1、所述下转接部2和所述弯折部3一体成型。所述弯折部3可以在扁平探针受到冲压或者拉伸时进行弹性形变，达到弹性接触待测器件的目的，避免扁平探针因受力过大发生损坏，从根本上提高了扁平探针的使用寿命。所述弯折部3包括并联设置且具有弹性的第一金属导带31和第二金属导带32。该第一金属导带31和第二金属导带32可以有效地增加用于导电的弯折部3的面积，提高扁平探针的阻抗和导通性。进一步的，所述第一金属导带31和第二金属导带32相互对称，可以均匀分担扁平探针的受力，相对于单个金属导带，具有更长的使用寿命。所述第一金属导带31和第二金属导带32均采用实体结构，该实体结构一方面可以保证弯折部3具有良好的弹性，不会在探针使用时因弹性小出现压接不紧的问题；另一方面，第一金属导带31和第二金属导带32具有更大的过电流能力，不会在上电时因电流电压过大被烧断。继续参照图1和图2，所述上转接部1和所述下转接部2均包括与弯折部3连接的连接部11和与连接部11连接的探针头12。所述探针头12为实体结构，且端部形状为V型、W型、M型、O型、U型、匚型或T型，可以适应不同的产品连接器。作为优选，所述上转接部1的连接部11为Y型，Y型连接部11的一端可以分别与第一金属导带31和第二金属导带32连接，另一端连接至探针头12。作为优选，所述下转接部2的连接部11为T型结构，该T型连接部11的一端分别与第一金属导带31和第二金属导带32连接，另一端与探针头12连接。作为优选，所述第一金属导带31和第二金属导带32的形状均包括C形、M形、S形、工形、弓形、多S形中的任意一种或任意一种的变形。本实施例中的第一金属导带31和第二金属导带32优选采用S形或弓形结构。综上所述，本技术的扁平探针，包括上转接部1、下转接部2和用于连接上转接部1和下转接部2的弯折部3，所述上转接部1、所述下转接部2和所述弯折部3一体成型，所述弯折部3包括并联设置且具有弹性的第一金属导带31和第二金属导带32，所述第一金属导带31和第二金属导带32相互对称，所述第一金属导带31和第二金属导带32均采用实体结构。本技术将弯折部3设置为对称的第一金属导带31和第二金属导带32，不仅可以增加扁平探针的弹性，达到弹性接触待测器件的目的，还能够有效地增加了用于导电的弯折部3的面积，提高扁平探针的阻抗和导通性。此外，所述第一金属导带31和第二金属导带32均采用实体结构，一方面可以保证弯折部3具有良好的弹性，不会在探针使用时因弹性小出现压接不紧的问题；另一方面，第一金属导带31和第二金属导带32具有更大的过电流能力，不会在上电时因电流电压过大被烧断。以上描述仅为本公开实施例的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本公开实施例中所涉及的公开范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离上述公开构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本公开实施例中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。显然，本领域的技术人员可以对技术进行各种改动和变型而不脱离本技术的精神和范围。这样，倘若本本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种扁平探针，包括：上转接部、下转接部和用于连接上转接部和下转接部的弯折部，所述上转接部、所述下转接部和所述弯折部一体成型，其特征在于，所述弯折部包括并联设置且具有弹性的第一金属导带和第二金属导带，所述第一金属导带和第二金属导带相互对称，所述第一金属导带和第二金属导带均采用实体结构。/n

【技术特征摘要】
1.一种扁平探针，包括：上转接部、下转接部和用于连接上转接部和下转接部的弯折部，所述上转接部、所述下转接部和所述弯折部一体成型，其特征在于，所述弯折部包括并联设置且具有弹性的第一金属导带和第二金属导带，所述第一金属导带和第二金属导带相互对称，所述第一金属导带和第二金属导带均采用实体结构。


2.根据权利要求1所述的扁平探针，其特征在于，所述上转接部和所述下转接部均包括与弯折部连接的连接部和与连接部连接的探针头。


3.根据权利要求2所述的扁平探针，其特征在于，所述探针头的端部形状为V型、W型、M型、O型、U...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏伟，江斌，
申请(专利权)人：苏州华兴源创科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32