本实用新型专利技术涉及一种一体化烙铁温度计的校准装置。该装置包括升降台、烙铁温度计、固定支架、恒温腔体、温度控制与显示系统。通过温度控制与显示系统控制加热体，产生温度稳定可控的热源，经精密薄膜铂电阻传感器反馈调节后实现各校准点的温度；精密薄膜铂电阻传感器安分别装在恒温腔体内和测量头内部，可实时感应温度变化，以便控制系统快速调节；校准时，装置的测量头模拟烙铁的焊嘴，以测量头铂电阻传感器测得的温度值作为标准，对烙铁温度计进行不同温度点的校准。本装置通过PID快速调节热源温度，克服了校准时测量头接触温度低的烙铁温度计产生的温度瞬变，实现了烙铁温度计的温度传感部分和结果显示部分的整体性能校准。
【技术实现步骤摘要】
一种一体化烙铁温度计校准装置
本技术涉及一种温度计校准装置，尤其是涉及一种烙铁温度计校准装置。
技术介绍
烙铁温度计广泛应用于高精密电子元器件或集成电路的人工焊接工艺上，主要用于快速准确测量电烙铁焊嘴的瞬间即时温度，根据测得的温度来判断电烙铁的焊嘴温度是否满足工艺要求，并采取相应的措施。对于高要求的焊接工艺而言，焊接工艺中除了电烙铁、焊料及正确的焊接方法外，其中最关键的是焊接时电烙铁应有足够的热量以保证达到焊料熔点的稳定焊接温度，这样才能保证电子产品的焊接质量并防止虚焊和日久脱焊。焊接温度过低达不到焊料熔点，温度过高又会对元器件造成热冲击，因此烙铁温度计的测温准确性就显得尤为重要。目前多将烙铁温度计当作数字温度指示仪来进行校准。这种方法存在一个明显缺陷，它仅仅对烙铁温度计的温度指示部分进行了校准，而没有对烙铁温度计的温度传感器进行校准，不能准确测量烙铁温度计的整体误差。
技术实现思路
为了解决
技术介绍
中存在的问题，本技术提供了一种一体化烙铁温度计的校准装置。本技术解决技术问题所采取的技术方案为：本技术包括升降台、固定支架、恒温腔体、温度控制与显示系统。所述恒温腔体安装在固定支架上，恒温腔体的下方设置有用于放置被校烙铁温度计的升降平台，恒温腔体由温度控制与显示系统闭环自动控制调节，产生稳定而确定的温度标准源；恒温腔体上的测量头模拟烙铁的焊嘴，对烙铁温度计温度传感部分和结果显示部分的整体性能进行校准。进一步说，所述恒温腔体包括防烫罩、加热体、测量头和第一铂电阻；加热体布置在恒温腔体中心内部，用于产生稳定可调的热源；测量头置于恒温腔体的下方位置，通过热传导体接收来自加热体的热量，测量头内部安装有所述第一铂电阻，用于测量头温度控制的反馈，也作为温度的参考标准，所述第一铂电阻与所述的温度控制与显示系统信号连接。进一步说，所述的温度控制与显示系统包括控温模块、温控表、AD转换模块和触摸屏，所述的AD转换模块与第一铂电阻信号连接，所述控温模块与加热体信号连接，温控表与所述控温模块信号连接，所述的触摸屏与AD转换模块、温控表信号连接。进一步说，所述的测量头采用高纯度紫铜材料，外表面镀有合金层。进一步说，所述的加热体为模块化电热加热体。进一步说，所述的恒温腔体靠近外侧位置布有用于反馈恒温腔体温度的第二铂电阻，所述的第二铂电阻与所述的温控表信号连接，所述热传导体周向设置有一层保温层，保温层外围为防烫罩。本技术具有的有益效果是：1.本技术装置的恒温腔体中的第二铂电阻与测量头的第一铂电阻能快速感知温度的变化并经过PID调节迅速恢复到设定的温度，从而保证热源的稳定，克服了因校准时测量头接触温度低的烙铁温度计时产生的温度瞬变。2.本技术可用于烙铁温度计的温度传感部分和结果显示部分的性能校准得到烙铁温度计的整体误差。3.本技术具有操作方便、准确度高、易于携带等特点。4.本技术装置的结构设计精确计算恒温腔体的热容量及环境热辐射、对流和传导的影响并通过数值仿真，保证测量头温度的实时准确性。附图说明图1是本技术的装置组成示意图；图2是本技术的装置恒温腔体部分的结构原理图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术做进一步说明。本技术中的恒温腔体安装在固定支架上，工作时，被检的烙铁温度计放置在升降平台上，恒温腔体由温度控制与显示装置控制调节后，产生确定的温度标准源，恒温腔体上的测量头模拟烙铁的焊嘴，对烙铁温度计的整体性能进行校准。所述恒温腔体包括防烫罩、加热体、测量头和第一铂电阻。加热体均匀布置在恒温腔体中心内部并布设第二铂电阻，可产生稳定可调的热源，测量头置于防烫罩的下方位置，测量头内部安装的第一铂电阻作为温度的参考标准。恒温腔体内的第二铂电阻与测量头的标准温度实时比较，形成温度反馈，达到温度测量和控制的同步性和实时性。实施例：如图1所示，固定支架3的底面安装有升降台1，升降台1的台面用来放置被检的烙铁温度计2，通过升降高度的调节可以使得烙铁温度计2的温度传感区域与恒温腔体4的测量头8良好接触；恒温腔体4安装在固定支架上，通过温度控制与显示系统5的控制，产生稳定可控的热源，恒温腔体4下方的测量头8模拟烙铁的焊嘴，对烙铁温度计2进行校准。如图2所示，恒温腔体4由测量头4-1、加热体4-2、热传导体4-3、保温层4-4、防烫罩4-5、第二铂电阻4-6和第一铂电阻4-7组成。加热体4-2均匀布置在防烫罩4-5的内部，给以定量的电流，即可产生稳定可调的热源；测量头4-1置于腔壳6的下方位置，为防止氧化，采用高纯度紫铜材料，外面镀以合金的形式制成。测量头8内部安装有第一铂电阻4-7，第一铂电阻4-7既用于加热体4-2温度控制的反馈，又作为的温度的参考标准，加热体4-2的热量还通过周围的热传导体4-3传递至测量头4-1，在所述热传导体4-3周向包覆有保温层4-4，保温层4-4的外围就是防烫罩4-5。所述的温度控制与显示系统5包括控温模块5-1、温控表5-3、AD转换模块5-2和触摸屏5-4，所述的AD转换模块5-2与第一铂电阻4-7信号连接，接收来自第一铂电阻4-7的温度数据（表征测量头4-1的温度），所述控温模块（5-1）与加热体4-2信号连接，用于对加热体4-2进行温度控制，温控表5-3与所述控温模块5-1信号连接，同时温控表5-3接收来自于第二铂电阻4-6的温度数据（表征加热体的温度），所述的触摸屏5-4与AD转换模块5-2、温控表5-3信号连接，用于显示测量头、加热体的温度，同时可进行控温操作，改变加热体的温度。温度控制与显示系统具有PID参数自整定和铂电阻参数设定功能，保证经检定的铂电阻温度传感器能精确到标准铂电阻测温水平。本技术的工作原理如下：该技术以恒温腔体产生的热源为标准，以恒温腔体下方的测量头模拟烙铁的焊嘴对烙铁温度计进行校准。该装置工作时，通过温度控制与显示系统设置校准的温度点，加热体通电后，按照控温程序快速稳定升温，恒温腔体下方的测量头内安装有第一铂电阻，可以实时感应测量头的温度，以该温度值为反馈，温度控制与显示系统对加热体进行PID调节，最后实现所设置的校准温度。被校烙铁温度计放置在升降台上，调节升降台的高度，使得烙铁温度计的温度传感区域与测量头紧密接触；此时，烙铁温度计对测量头进行温度测量，显示结果为T1；以第一铂电阻测得的温度值T2为标准，则烙铁温度计的温度测量误差E按下式计算：E=T1-T2上述具体实施方式仅用来解释说明本技术，而不是对本技术进行限制。在本技术的精神和权利要求的保护范围内，本领域的普通技术人员能从本技术公开的内容中直接导出或联想到的所有变形，都落入本技术的保护范围。本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种一体化烙铁温度计校准装置，包括升降平台（1）、固定支架（3）、恒温腔体（4）、温度控制与显示系统（5），其特征在于：/n所述恒温腔体（4）安装在固定支架（3）上，恒温腔体（4）的下方设置有用于放置被校烙铁温度计（2）的升降平台（1），恒温腔体（4）由温度控制与显示系统（5）闭环自动控制调节，产生稳定而确定的温度标准源；恒温腔体（4）上的测量头（4-1）模拟烙铁的焊嘴，对烙铁温度计（2）温度传感部分和结果显示部分的整体性能进行校准。/n
【技术特征摘要】
1.一种一体化烙铁温度计校准装置，包括升降平台（1）、固定支架（3）、恒温腔体（4）、温度控制与显示系统（5），其特征在于：
所述恒温腔体（4）安装在固定支架（3）上，恒温腔体（4）的下方设置有用于放置被校烙铁温度计（2）的升降平台（1），恒温腔体（4）由温度控制与显示系统（5）闭环自动控制调节，产生稳定而确定的温度标准源；恒温腔体（4）上的测量头（4-1）模拟烙铁的焊嘴，对烙铁温度计（2）温度传感部分和结果显示部分的整体性能进行校准。
2.根据权利要求1所述的一种一体化烙铁温度计校准装置，其特征在于：所述恒温腔体（4）包括防烫罩（4-5）、加热体（4-2）、测量头（4-1）和第一铂电阻（4-7）；加热体（4-2）布置在恒温腔体（4）中心内部，用于产生稳定可调的热源，测量头（4-1）置于恒温腔体（4）的下方位置，通过热传导体（4-3）接收来自加热体的热量，测量头（4-1）内部安装有所述第一铂电阻（4-7），用于测量头（4-1）温度控制的反馈，也作为温度的参考标准，所述第一铂电阻（4-7）与所述的温度控制与显示系统（5）信号连接。
3.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员：余时帆，崔超，陈慧云，仇亿，王丽建，
申请(专利权)人：浙江省计量科学研究院，
类型：新型
国别省市：浙江;33
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