【技术实现步骤摘要】
一种新型光敏铁电拓扑畴纳米岛的制备方法
本专利技术涉及铁电材料
,特别是涉及一种新型光敏铁电拓扑畴纳米岛的制备方法。
技术介绍
在大数据时代的背景下,传统半导体芯片尺寸已经接近量子极限,难以进一步发展,这推动了人们探寻新型半导体电子材料体系下的存储器件以满足人类日益增长的存储需求。其中,铁电材料体系下的铁电存储器是一种新型存储器。在铁电材料中,铁电畴壁作为一种超薄的异质结存在着很多新颖的物性,如其具有较好的导电性、容易被人为擦除与产生等,故而以畴壁调控来实现数据存储能够极大提升存储密度、缩短响应时间、降低系统能耗。近年来,随着人们对存储器件的存储能力的要求不断提高,实现纳米尺度下的有序高密度铁电畴壁调控以提升储存器密度显得至关重要。拓扑畴结构因其高稳定性、小尺寸等特点,而能够避免其被调控场以外的其他外场所破坏、减小存储器的体积。目前,人们尝试了多种拓扑畴的制备与调控手法,如在薄膜或块体上通过施加点电场来诱导产生单个涡旋畴,但该方法存在获得的铁电拓扑畴存在密度低、结构受限、难以集成化等缺陷,并且难以保证单点稳定往复调控;又如在超晶格中形成涡旋畴阵列,但该方法工艺复杂、产生的涡旋畴难以被人为调控,且其拓扑畴阵列存在于面内,难以探测,故而影响其作为集成化器件的实际应用价值,难以实现产业化;与此同时,还有研究在自组装的纳米岛中发现了中心型畴结构,并通过外加电场调控其畴结构中心汇聚或者发散,但此方法调控手段单一,并且自组装结构限制了半导体工艺上的可控性,再者,其畴结构只是在形状上呈现拓扑性,导电特性上与二维拓扑缺 ...
【技术保护点】
1.一种新型光敏铁电拓扑畴纳米岛的制备方法,其特征在于,制备方法包括以下步骤:/nS1:采用脉冲激光沉积法在(001)方向的STO单晶衬底上沉积一层SRO导电层作为底电极;/nS2:采用脉冲激光沉积法在SRO导电层上沉积一层菱方相BFO薄膜;/nS3:在S2所述的BFO薄膜表面铺展单层PS小球作为掩模板,再用氧等离子体刻蚀处理,然后置于离子束刻蚀机中进行刻蚀,最后去除残留的单层PS小球掩模板,得到菱方相BFO纳米岛阵列的铁电材料;/nS4:紫外光调控:通过压电响应力显微镜和紫外光诱导所述菱方相BFO纳米岛阵列铁电材料,获得具有中心汇聚畴结构的光敏铁电拓扑畴纳米岛。/n
【技术特征摘要】
1.一种新型光敏铁电拓扑畴纳米岛的制备方法,其特征在于,制备方法包括以下步骤:
S1:采用脉冲激光沉积法在(001)方向的STO单晶衬底上沉积一层SRO导电层作为底电极;
S2:采用脉冲激光沉积法在SRO导电层上沉积一层菱方相BFO薄膜;
S3:在S2所述的BFO薄膜表面铺展单层PS小球作为掩模板,再用氧等离子体刻蚀处理,然后置于离子束刻蚀机中进行刻蚀,最后去除残留的单层PS小球掩模板,得到菱方相BFO纳米岛阵列的铁电材料;
S4:紫外光调控:通过压电响应力显微镜和紫外光诱导所述菱方相BFO纳米岛阵列铁电材料,获得具有中心汇聚畴结构的光敏铁电拓扑畴纳米岛。
2.根据权利要求1所述的新型光敏铁电拓扑畴纳米岛的制备方法,其特征在于,步骤S4包括如下步骤:
S41:采用压电响应力显微镜的导电探针对S3获得的铁电材料施加偏压,再采用365nm-525nm波长的紫外光照射样品表面;
S42:采用导电原子力显微镜对通过紫外光照射前后的样品进行表征,获得样品在紫外光照射前后的导电特性;
S43:采用开尔文探针显微镜对样品表面电势的变化进行表征。
3.根据权利要求1所述的新型光敏铁电拓扑畴纳米岛的制备方法,其特征在于,步骤S4中,对S3获得的铁电材料采用压电响应力显微镜(PFM)的导电探针施加-4.0V的偏压;紫外光照射的单次照射时间为100ms。
4.根据权利要求1所述的新型光敏铁电拓扑畴纳米岛的制备方法,其特征在于,步骤S2所述的菱方相BFO薄膜厚度为30nm。
5.根据权利要求1所述的新型光敏铁电拓扑畴纳米岛的制备方法,其特征在于,步骤S1所述的SRO导电层厚度为20nm-40nm。
6.根据权利要求1所述的新型光敏铁电拓扑畴纳米岛的制备方法,其特征在于,步骤S3包括以下步骤:
S31:在盛满去离子水的...
【专利技术属性】
技术研发人员:高兴森,杨文达,田国,
申请(专利权)人:华南师范大学,
类型:发明
国别省市:广东;44
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