多用仪器测量位移装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种多用仪器测量位移装置，其特征在于，由底板、滑轮、拖板、锁紧螺钉、移动螺杆、微分读数筒、螺杆支座、安装仪器托板组成，４个滑轮两个一组通过细轴平行地固定在底板上，两组滑轮之间设有拖板，拖板两侧的二条凸槽分别与每组的两个滑轮镶嵌，底板的底部设有用于安装测量支架的螺孔，外面设有微分读数筒的移动螺杆，通过螺杆支座与拖板连接，仪器托板置于拖板的上端，移动螺杆可正、反旋转，并带动拖板和仪器托板沿水平方向来回移动，在托板顶部的中间置有用于安装经纬仪的连接螺丝，周围设有用来安装准直望远镜的连接环螺孔，锁紧螺钉置于一组滑轮的一侧。本实用新型专利技术的优点是可用于电子经纬仪和准直望远镜的测量，小巧，便于携带、适合现场测量。（*该技术在2014年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种多用仪器测量位移装置，可用于核电、化工等大工件产品及飞机、轮船制造及路桥建设等几何形状测量上，属于测量

技术介绍
核电、化工等大工件产品及飞机、轮船制造和路桥建设等被测件的几何形状测量时，被测件的几何形状是由点、线、面等几何要素结合而成的，测量基准就是用以确定这些几何要素、尺寸、方向、位置的基础，在大型物件测量中，为了保证测量结果的准确性和可靠性，建立轴线基准或测量平面基准是测量几何尺寸和形状位置的保证。建立测量中心轴线基准或测量平面基准，需要光学仪器或附件具备水平X向、垂直Y向都能移动和旋转的能力。现有电子经纬仪的测量支架设计用于电子测量，未考虑光学测量的因素。当需运用电子经纬仪的光学系统测量时，由于测量支架水平X向不能位移，给光学测量时建立中心或平面基准带来了困难。
技术实现思路
本技术的目的是专利技术一种供水平X向能位移的多用仪器测量位移装置。为实现以上目的，本技术的技术方案是提供一种多用仪器测量位移装置，其特征在于，由底板、滑轮、拖板、锁紧螺钉、移动螺杆、微分读数筒、螺杆支座、安装仪器托板组成，4个滑轮每两个一组通过细轴平行地固定在底板上，两组滑轮之间设本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多用仪器测量位移装置，其特征在于，由底板（１）、滑轮（２）、拖板（４）、锁紧螺钉（５）、移动螺杆（６）、微分读数筒（７）、螺杆支座（８）、安装仪器托板（１０）组成，４个滑轮（２）每两个一组通过细轴（９）平行地固定在底板（１）上，两组滑轮（２）之间设有拖板（４），拖板（４）两侧的二条凸槽分别与每组的两个滑轮（２）镶嵌，底板（１）的底部设有用于安装测量支架的螺孔（３），外侧设有微分读数筒（７）的移动螺杆（６），通过螺杆支座（８）与拖板（４）连接，仪器托板（１０）置于拖板（４）的上端，移动螺杆（６）可正、反旋转，并带动拖板（４）和仪器托板（１０）沿水平方向来回移动，在托板（１０）顶部的中间置有用...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：江燕云，
申请(专利权)人：上海锅炉厂有限公司，
类型：实用新型
国别省市：31[中国|上海]