测量涂层状态的方法和设备技术

本发明专利技术以平行光照射涂层光纤的侧面，用带有聚光透镜和针孔的图象传感器检测被树脂部分的外表面反射到一个特定方向的光束及被树脂部分和玻璃部分之间界面而反射到与该特定方向平行的方向上的光束。测量出表面反射光束和界面反射光束的间距ｄ↓［２］及对应这些反射光束的入射光束间距ｄ↓［１］。根据这样测定的ｄ↓［１］和ｄ↓［２］来估计涂层状态。（*该技术在2012年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及对线状物体表面形成的涂层厚度及厚度变化(变化程度和方向)的测量。由于光纤材料所存在的问题，很难使用光纤本身作为光传播介质。所以，为了保持光纤的初始强度(在刚生产出来之后的强度)以及保证其长距离的耐用性，现在的一般(生产)过程是在拔丝之后立即用树脂涂敷光纤，从而得到有涂层的光纤维。图36说明了这一过程，用加热炉2对光纤材料1的端部加热并使之熔化，通过拔丝形成了光纤3。作为一般过程，光纤3接着依次通过第一个加压模(die)4A、第一个固化处理炉(curing furnace)5A、第二个加压模4B和第二个固化处理炉5B，从而形成在其外表面有两层树脂涂层的涂层光纤6，然后通过绞盘7绕在轴6上。用于涂层光纤6的树脂涂层材料的实例是各种聚合物，包括热凝(thermosetting)树脂(如硅树脂、氨基甲酸乙酯树脂和环氧树脂)、紫外线固化树脂(如环氧-丙烯酸树脂、氨基甲酸乙酯-丙烯酸树脂和聚酯-丙烯酸树脂)以及放射性固化树脂。为了改善涂层光纤6的传输特性和机械特性，重要之点是使树脂涂层以同轴方式围绕在光纤1的周围。另一方面，当提高拔丝速度以改进光纤生产效率时，便有可能使光纤本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种涂层状态测量方法，由下列步骤组成：以入射光照射一个圆柱形线状物体的侧面，该线状体具有一个主体及在主体形成的至少一层的涂层；检测被涂层外表面的反射到至少一个特定方向上的反射光束以及被涂层和主体间界面反射或被涂层的相邻两层间界面反射到与该特定方向平行的方向上的反射光束；以及根据表面反射光束和界面反射光束之间的反射光距离确定涂层厚度和厚度变化。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：井上享，小林勇仁，筱木秀次，
申请(专利权)人：住友电气工业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]