【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于滚动轴承精度测量
双列圆锥滚子轴承轴向游隙的测量,是当前轴承行业长期存在而又未能解决的技术难题之一。由于双列圆锥滚子轴承的轴向游隙,受到轴承上列内组件中的滚子球基面与内圈直档边出现的间隙δ的影响(见附图说明图1),故目前双列圆锥滚子轴承的轴向游隙的测量,一般采用分体测量法。采用该方法对双列圆锥滚子轴承进行轴向游隙测量时,为消除轴承上列内组件中滚子球基面与内圈直档边出现的间隙,须分两次分别将内组件上的圆锥滚子的大头朝下,使其球基面在重力的作用下与内圈直档边相接触,然后进行测量,最后通过计算,才能得到其轴向游隙的准确数值。这种分体式测量方法用于单件生产的大直径双列圆锥滚子轴承的轴向游隙的测量尚可。但由于其测量效率低、劳动强度大、工序多,而且还需逐个配置测量,因此,很难在工业化生产中推广应用。针对上述存在的问题,本专利技术的目的是提供一种测量方法简单、劳动强度低,且测量效率高而又精确的整体式动态。本专利技术所述的是这样来实现的它将被测量的双列圆锥滚子轴承的内圈固定,在其外圈施加一个由下而上的外力负荷,同时使其内外圈作相对转动,以消除轴承内组件中滚子球基面与内圆直档边之间的间隙,然后通过轴向游隙检测仪测出轴承外圈上、下移动的极限值,并计算出两者之差,从而即可得到被测双列圆锥滚子轴承的轴向游隙。本专利技术所述的的优点是构思科学、使用简便、劳动强度低,且测量效率高而又精确,因而适用于在批量生产中使用。附图中给出了本专利技术的实施例,其中图1是现有的分体式轴向游隙测量方法的示意2是本专利技术的示意图以下结合附图对本专利技术的具体实施方案进行详 ...
【技术保护点】
一种用于双列圆锥滚子轴承轴向游隙的测量方法,其特征是该测量方法是将被测量的双列圆锥滚子轴承的内圈固定,在其外圈施加一个由下而上的外力负荷,同时使其内外圈作相对转动,消除轴承内组件中滚子球基面与内圈直档边之间的间隙,然后通过轴向游隙检测仪测出轴承外圈上、下移动极限值,两者之差,即为该双列圆锥滚子轴承的轴向游隙。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:刘寿祥,沈国祥,张天平,沈彩仙,
申请(专利权)人:浙江万向特种轴承有限公司,
类型:发明
国别省市:33[中国|浙江]
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