座标及表面特性测量的零件加工程序分析及该程序的编制制造技术

本发明专利技术公开一种坐标及表面特性测量的零件加工程序的分析及零件加工程序的编制方法，其通过零件加工程序进行测量的控制坐标及表面特性测量，分析零件加工程序，提取出测量信息或测量条件，通过对该测量条件可改写存储，就可以使实际测量中的最佳测量条件反映在零件加工程序中，并在以后的测量控制中可增加实际测量条件。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及座标及表面特性测量的零件加工程序分析及该程序的编制，特别是涉及，从实际测量所采用的零件加工程序中提取各种测量信息或测量条件，并将其作为通用信息，对该座标及表面特性测量仪或其他三维座标测量仪等，能作为可发展性使用的信息而存储的零件加工程序分析方法和装置，及零件加工程序编制方法和装置。三维座标测量仪及表面特性测量仪主要是对工件的尺寸和形状进行测量评价的测量装置，通过更换测量头还可以同时对工件的表面光洁度进行测量评价。另外，由于三维座标测量仪可以利用接触触发式检测器、照相机、激光束检测器等多种测量头，所以被广泛利用于各种产业领域。三维座标测量仪及表面特性测量仪是通过在测量零件加工程序中所写入的信息规定其操作，而计算机数字控制三维座标测量仪(CNC三维座标测量仪)则是通过输入零件加工程序自动控制其操作。通常在零件加工程序中编入探测头更换命令及测量命令等有关测量操作的命令、以及送进速度命令及测量速度命令等有关测量仪控制的命令。为了高精度高效率进行测量作业，在零件加工程序中必须编入适合于测量对象的工件及控制对象的测量仪两方面的命令。现有编制测量零件加工程序的方法包括操作员用操作盘控制三维座标测量仪等，示教测量步骤的所谓联机示教；及利用工件的CAD数据等电子图面信息，在不开动三维座标测量仪等实际机器的情况下，示教测量步骤的所谓脱机示教。与通过操作员进行的联机示教相比，通过CAD数据进行的脱机示教由于在不占有测量仪的情况下就可编制测量的零件程序，所以特别对在线测量时是一种宝贵的方法。在联机示教中，一般来说操作员以工件的图面和测量操作指示书为基础就能简单地确定测量的位置和项目，但是测量头的选定、测量速度的设定，对各项目测量几个点这些具体测量方法则由技能和经验决定。当然，技能和经验不足的操作员为了完成高质量的零件加工程序，必须反复进行零件加工程序修改和试验测量。而脱机示教时，脱机编程工具则利用输入的工件图面数据及存有测量操作指示数据、编程工具内部的有关测量仪规格的数据库及有关测量条件、方法的数据库等，编制测量的零件加工程序，但是一般来说这样编制的原零件加工程序很难说是最佳零件程序。因此，为了完成高质量的零件加工程序，还需要对测量路线进行优化，及对探测头的选定、测量速度的设定、测量点数的设定等测量方法进行优化。为此，必须反复进行模拟及试验测量、根据测量结果对零件加工程序进行修改这一过程。如上说明，在现在采用的三维座标测量的零件加工程序编制方法中，不论是通过操作员的联机示数，还是通过CAD数据的脱机示数，为了完成高质量的零件加工程序，都存在必须反复进行试验测量和程序修改的问题。而且，在为完成高质量的零件加工程序的上述一系列过程中所得到的测量方法有关的知识和技术可变成操作员个人的技能和经验，但是却存在缺乏再利用性，不能与集团组织内的共有信息积累联系在一起的重大问题。本专利技术鉴于这些现有问题，其目的在于可以对测量的零件加工程序、特别是对修改·试验结束的实际测量零件加工程序进行分析，提取可反映操作员的技能、经验、专门技术的测量信息或测量条件，并可作为在以后的测量中利用的数据库使用。通过这样提取的测量信息或测量条件，按系统与探测头信息、测量仪信息、工件的原材料信息·加工方法信息等联系起来，就可以从零件加工程序编制的初期阶段开始，将适合于测量对象的工件和控制对象的测量仪二者的命令编入零件加工程序中。并通过参照反馈·积累的这些数据库，就可以在各种情况下对最佳的测量零件加工程序进行瞬时地自动编程。并且，这些数据库不仅用于自己的测量仪器，还可以作为对其他测量仪器的数据进行提供，通过将这些数据库对CIM(计算机综合生产系统)组成单元的所有测量仪器开放，就可以使所有的修改编辑不再依赖于熟练操作员，而通过使其大部分与数据库间的对话，就可以利用了。专利技术的公开鉴于上述问题，本专利技术，在用零件加工程序进行测量控制的座标及表面特性测量中，其特性在于具有分析零件加工程序以提取测量信息或测量条件的测量方法分析装置或步骤；及对上述测量条件进行可改写存储的存储装置或步骤。本专利技术，在用零件加工程序进行测量控制的座标及表面特性测量中，其特性在于具有分析零件加工程序以提取测量信息或测量条件的测量方法分析装置或步骤；及使上述测量条件对应各要素测量进行可改写存储的存储装置或步骤。本专利技术，在用零件加工程序进行测量控制的座标及表面特性测量中，其特性还在于具有输入实际测量零件加工程序、工件的加工信息数据，分析上述实际测量零件加工程序以提取各要素测量的测量条件的测量方法分析装置或步骤；将在上述各要素测量中所提取的测量信息或测量条件，变换为编制零件程序中所需数据库的数据库编制装置或步骤；使上述测量条件对应于各测量要素进行可改写存储的编制零件加工程序用数据库。另外本专利技术的特征还在于数据库是关系数据库。本专利技术的特征还在于参照数据库，编制座标及表面特性测量用零件加工程序。本专利技术的座标及表面特性测量用零件加工程序编制装置，其特征还在于为了决定测量条件而分析数据库的数据，对其结果进行显示或输出。本专利技术的座标及表面特性测量用零件加工程序编制装置，其特征还在于分析数据库的数据，自动决定测量条件。正如以上说明，根据本专利技术有关的三维座标测量系统，从最终在现场实际测量中所用的零件加工程序分析测量方法，提取必要的测量条件，使其能反映在编制零件加工程序时的数据库中，因此可以确实提取包括只由熟练的操作员的专门技术、模拟或试验测量所得到的零件加工程序修改编辑的测量条件，实现数据库化，从而可以很容易构筑对编制数据库极其有用的知识数据库。根据本专利技术，通过将从每次必要的测量所编制的零件加工程序中提取的测量条件，按系统与探测头信息、测量仪信息、工件的原材料信息·加工方法信息等联系起来进行积累，就可以将包括全部每个操作员具有的技能·经验·专门技术结果的测量条件实现数据库化。结果，就可以从零件加工程序编制的初期阶段开始，将适合于测量对象的工件和控制对象的测量仪二者的命令编入零件加工程序中，并通过参照反馈·积累的这些数据库，可以在各种情况下，对最佳的测量零件加工程序进行瞬时地自动编程。这样，即消除了由于操作员的个人差别造成的测量条件误差，又可在最佳的测量条件下高效进行测量，从而，可以维持高的测量精度或缩短测量时间。另外，在将为特定的测量仪编制的零件加工程序用于规格不同的其他测量仪上时，也可以通过个别使用模块化的测量条件，在考虑编制零件加工程序时的测量仪与当前新的测量仪间的规格差异的同时，自动编制出新的测量零件加工程序。例如，在老式的测量仪上积累的测量条件的数据可以作为在新式测量仪中除变更之外的信息使用，只加入与该变更有关的新的信息，通过自动编程，就可以很容易进行反映过去所积累的数据的编程了。附图的简单说明图1表示本专利技术的适用于三维座标测量的零件加工程序的分析和零件加工程序的三维座标测量系统的整体构成。图2表示测量信息数据库整体构成的一实施例。图3表示适用于一般三维座标测量的编制零件加工程序的三维座标测量系统的整体构成。图4表示基本条件数据库中的测量仪数据的一例。图5表示基本条件数据库中的测量工作台数据的一例。图6表示基本条件数据库中的探测头数据的一例。图7表示基本条件数据库中的公差数据的一例。本文档来自技高网...

【技术保护点】
座标及表面特性测量的零件加工程序分析装置，在由零件加工程序进行测量控制的座标及表面特性测量中，其特征在于具有：测量方法分析装置，分析零件加工程序以提取测量信息或测量条件；及对上述测量条件可改写存储的存储装置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张玉武，采女政义，深谷安司，山崎和雄，
申请(专利权)人：三丰株式会社，株式会社森精机制作所，大隈株式会社，山崎和雄，
类型：发明
国别省市：JP[日本]