【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及座标及表面特性测量的零件加工程序分析及该程序的编制，特别是涉及，从实际测量所采用的零件加工程序中提取各种测量信息或测量条件，并将其作为通用信息，对该座标及表面特性测量仪或其他三维座标测量仪等，能作为可发展性使用的信息而存储的零件加工程序分析方法和装置，及零件加工程序编制方法和装置。三维座标测量仪及表面特性测量仪主要是对工件的尺寸和形状进行测量评价的测量装置，通过更换测量头还可以同时对工件的表面光洁度进行测量评价。另外，由于三维座标测量仪可以利用接触触发式检测器、照相机、激光束检测器等多种测量头，所以被广泛利用于各种产业领域。三维座标测量仪及表面特性测量仪是通过在测量零件加工程序中所写入的信息规定其操作，而计算机数字控制三维座标测量仪(CNC三维座标测量仪)则是通过输入零件加工程序自动控制其操作。通常在零件加工程序中编入探测头更换命令及测量命令等有关测量操作的命令、以及送进速度命令及测量速度命令等有关测量仪控制的命令。为了高精度高效率进行测量作业，在零件加工程序中必须编入适合于测量对象的工件及控制对象的测量仪两方面的命令。现有编制测量零件加工程序...
【技术保护点】
座标及表面特性测量的零件加工程序分析装置，在由零件加工程序进行测量控制的座标及表面特性测量中，其特征在于具有：测量方法分析装置，分析零件加工程序以提取测量信息或测量条件；及对上述测量条件可改写存储的存储装置。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张玉武，采女政义，深谷安司，山崎和雄，
申请(专利权)人：三丰株式会社，株式会社森精机制作所，大隈株式会社，山崎和雄，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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