计测仪检查用计测校准器的设定装置制造方法及图纸

技术编号:2510998 阅读:125 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
提供一种不通过人工在计测仪的计测台上对计测校准器迅速进行设定,同时常设的计测仪在较小的设置空间可容易地设置的计测仪检查用计测校准器设定装置。具有在计测仪2的计测台3端部附近的退避位置与计测台3上的计测位置之间移动计测仪2检查用计测校准器M的移动体。在计测仪进行被计测物的计测时,移动体及计测校准器退避到计测台端附近的退避位置上,在能够有效地使用计测台全体进行计测作业的同时,在被计测物的计测作业的间隙,计测校准器由移动体快速地移动到计测位置并设定,能够高效率地进行精度检查。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种机械部件尺寸计测中使用的3元计测仪的在计测台上进行精度检查或动作检查用的计测校准器设定装置。作为这种计测仪的一例,如特开平2-306101号公报中所公开的,其具有如附图说明图13所示的将计测仪A1从计测台A2的两侧沿轨道A3在X方向移动的门柱状移动体A4,在前述移动体A4上安装有可在与X方向成直角的Y方向上移动的移动体A5。在移动体A5上,设置有在与形成X方向和Y方向的平面成直角的Z方向上可上下移动的主轴部A5,在此主轴部A5的前端上安装着固定有球的计测头(记录头)A6,在载置于计测台A2上的被测物W的上面,与计测头A6的球接触的同时在X、Y方向滑动,检测出Z方向的尺寸。在前述计测仪A1中,由于一旦计测头A6前端的球磨耗就不能检测出正确的尺寸,所以在计测台A2上安装有作为基准件的V形块规,与前述球接触,检测出V形块规各部的尺寸,检查出由于球的磨耗所生产的误差。在前述的特开平2-306101号公报所记载的以往的计测仪中,由于计测仪自体的精度检查是在通常计测作业中在计测台上以手工作业进行设定基准块规,在设定上需要劳力和时间,且存在为了精度检查,长时间中断通常的被计本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种计测仪检查用计测校准器的设定装置,其特征为,具有在计测仪的计测台端部附近的退避位置与计测台上的计测位置之间移动计测仪检查用计测校准器的移动体。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:浅沼进
申请(专利权)人:株式会社浅沼技研
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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