【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于利用激光进行精密测量
自激光出现后，人们利用其优良的高方向、高单色、高能量等性能对许多传统的技术进行了革命性改造。传统的机械轴对中(即调同轴)采用千分表，必须人眼读数，手工计算；不便且费时。经激光对中仪取代后，可用计算机进行数据的采集和处理，使测量过程变得简单、迅速。现有的激光对中仪主要有双光束型，其基本结构有两种。一种是半导体激光器(LD)与位敏探测器(PSD)作为一方(装在一个盒内)，直角棱镜作为另一方(装在另一盒内)，分别置于待对中的两轴上，由棱镜将激光束返回。另一种结构是在两轴上各有一对LD和PSD。个别采用单光束者，则安装了两个位敏探测器，利用半反半透镜将激光束一分为二。以上两种结构不但所用元件多，而且用途单一。本专利技术的目的是提供一种采用单光束激光、一个位敏探测器PSD的上述激光对中仪，使结构简化，功能扩大，并可兼作激光准直仪，并提出了对计算机所采集的数据进行处理的数据模型。本仪器由半导体激光器LD、位敏探测器PSD及其装卡机构和计算机C组成(如图l所示)。LD发出作为直线基准的激光束K，并照射到PSD上。PSD能够输出光...
【技术保护点】
一种利用单光束激光进行准直／对中测量技术，其特征是将半导体激光器ＬＤ和位敏探测器ＰＳＤ分别安装到待对中的两轴上，图１中示出主动轴Ａ（１）和从动轴Ｂ（２），以ＬＤ支柱的轴线与从动轴Ｂ的轴线之交点为坐标原点Ｏ，作直角坐标系Ｏ－ＸＹＺ（图１），Ｘ轴沿支柱轴线向上，Ｚ轴沿Ｂ轴轴线向右，Ｙ轴则垂直于纸面向外。设ＰＳＤ支柱的轴线与主动轴Ａ的轴线之交点在该坐标系的坐标为ｘ↓［０］、ｙ↓［０］、ｚ↓［０］，两轴的夹角在竖直面和水平面的投影分别是θ和φ，利用本系统进行测量时，需同步、同向转动两轴（设转角为α），测出光斑位置（即光点在ＰＳＤ上的坐标），则可计算出上述表征两轴相对位置的参量ｘ↓［...
【技术特征摘要】
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