【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种表面粗糙度测量方法，包括：测量待测的第一物体的表面的多个典型测点的表面粗糙度和表面彩色图像信息，并且准备标定信息，该标定信息指示出在用于所述表面彩色图像信息的色刺激值和所述表面粗糙度之间的关系；和获取待测的第二物体的表面 的多个测点的表面彩色图像信息，从所述测点的所述表面彩色图像信息获得色刺激值，利用所述标定信息将所述测点的所述色刺激值转换为所述测点的表面粗糙度，以及将所述待测的第二物体的所述测点的所述表面粗糙度作为表面信息显示出来。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：松田寿，川上宏，猪亦麻子，大友文雄，川岸裕之，
申请(专利权)人：株式会社东芝，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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