平面度及平行度测试系统及测试方法技术方案

一种平面度及平行度测试系统，其包括一放置待测工件的测试仪器及一数据处理器，其中测试仪器包括一箱体及一量测机构，该箱体包括若干可确定一基准面的支持件，该量测机构可测量测试点与该基准面之间的距离作为测试数据；数据处理器与量测机构连接，该数据处理器包括一输入／输出模块、一参数设置模块及一数据处理模块。一种平面度及平行度测试方法即采用上述平面度及平行度测试系统测量工件受测面的平面度及受测面与基准面之间的平行度。与现有技术相比，本发明专利技术提供的平面度及平行度测试系统体积小巧，结构简单，其相应的测试方法操作简便快捷。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，特别涉及一种将平面度及平行度测量转化为距离测量的。
技术介绍
实际生产中经常需要对多种工件进行平面度或平行度的测量。目前在该领域主要采用三次元量测技术对工件进行抽样量测，一般情况下对每一被测工件需要依次序测量受测面上多个测试点的相关数据，然后由电脑处理后输出受测面平面度或受测面与基准面之间平行度的测量结果。该方法的主要缺点在于操作较为复杂，逐一地对每个测试点进行测量及数据处理需要较长时间，测试速度较低；且现有的三次元测量仪器体积较为庞大，结构复杂，移动不便，只适合在实验室中对少数产品样本进行检测，不能满足在生产线上进行大规模测试的要求。
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种体积较小，结构简单的平面度及平行度测试系统。另外，有必要提供一种操作简便快捷的平面度及平行度测试方法。一种平面度及平行度测试系统，其包括一放置待测工件的测试仪器及一数据处理器，其中测试仪器包括一箱体及一量测机构，该箱体包括若干可确定一基准面的支持件，该量测机构可测量测试点与该基准面之间的距离作为测试数据；所述数据处理器与量测机构连接，该数据处理器包括一输入/输出模块、一参数设置模块及一数据处理模块，其中输入/输出模块用于在测试仪器及数据处理器之间传输数据，参数设置模块用于设置测试参数，数据处理模块用于处理测试数据。一种平面度及平行度测试方法，该方法包括以下步骤提供一种平面度及平行度测试系统，其包括一放置待测工件的测试仪器及一数据处理器，其中测试仪器包括一箱体及一量测机构，该箱体包括若干可确定一基准面的支持件，该量测机构可测量测试点与该基准面之间的距离作为测试数据；所述数据处理器与量测机构连接，该数据处理器包括一输入/输出模块、一参数设置模块及一数据处理模块，其中输入/输出模块用于在测试仪器及数据处理器之间传输数据，参数设置模块用于设置测试参数，数据处理模块用于处理测试数据；设置所述测试仪器及数据处理器的测试参数；用所述量测机构测量受测面上若干测试点与基准面之间的距离作为测试数据，并输入数据处理器；用数据处理器对测试数据加以分析并与测试参数进行比较，得出平面度及平行度测试结果。与现有技术相比，本专利技术提供的平面度及平行度测试系统体积小巧，结构简单；本专利技术提供的平面度及平行度测试方法能够将复杂的平面度及平行度直接测量转化为测试点到基准面的距离，操作简便快捷。附图说明图1为本专利技术平面度及平行度测试系统的较佳实施例中测试仪器的外观示意图。图2为本专利技术平面度及平行度测试系统的较佳实施例中测试仪器的箱体内部元件的结构框图。图3为本专利技术平面度及平行度测试系统的较佳实施例中数据处理器的功能模块图。图4为本专利技术平面度及平行度测试方法的较佳实施例的操作流程图。具体实施方式请参阅图1至图3，本专利技术平面度及平行度测试系统的较佳实施例包括一测试仪器1及一与该测试仪器1相互连接的数据处理器2，用于对具有平面结构的工件的受测面的平面度及受测面与基准面之间的平行度进行测试。测试仪器1包括一箱体12、一量测机构14、一接口16、一标准校零块18及一控制装置19。其中箱体12包括一水平的顶板121及若干个支持件122，该支持件122的数量不少于三个，间隔地设置在顶板121上，且所有支持件122的顶端共同确定一水平的基准面(图未示)。量测机构14可测量该基准面与从待测工件上选取的测试点之间的距离作为测试数据，该量测机构14包括若干个千分表141，所有千分表141均装设在箱体12内，且每个千分表141均包括一可伸缩的测杆142，该测杆142的顶端穿透顶板121伸出箱体12之外，且测杆142顶端的位置与从待测工件上选取的测试点的位置一一对应。所有千分表141均与接口16连接。标准校零块18具有一高精度的校零平面181，用于在对工件进行测试之前对系统进行校零。控制装置19由装设在箱体12外部的按钮191、装设在箱体12内部的驱动机构192及控制器193组成，该控制装置19与千分表141连接，可调节测杆142的位置。数据处理器2用于处理测得的数据并输出平面度及平行度测试结果。该数据处理器2为计算机等数据处理装置，其包括一输入/输出模块22、一参数设置模块24、一数据处理模块26及一显示模块28。其中输入/输出模块22与接口16连接，可通过接口16及该输入/输出模块22在数据处理器2与测试仪器1之间传输数据。参数设置模块24用于设置及储存测试参数。数据处理模块26用于处理来自测试仪器1的数据，该数据处理模块26可将来自测试仪器1的数据与参数设置模块24中储存的参数进行比较与分析。显示模块28用于显示测试仪器1及数据处理器2的相关参数及对工件的测试结果。请参阅图4，本专利技术平面度及平行度测试方法的较佳实施例即采用上述平面度及平行度测试系统对工件进行测试，该平面度及平行度测试方法的较佳实施例包括以下步骤对上述平面度及平行度测试系统进行安装，将测试仪器1通过接口16与数据处理器2连接(步骤S1)，并开启数据处理器2及测试仪器1的电源(步骤S2及S3)。对系统进行校零操作(步骤S4)，其目的是在测试前将测杆142顶端的位置调节至基准面内。校零的具体方法是将标准校零块18放置在顶板121上并由支持件122支撑，令该标准校零块18的校零平面181与由所有支持件122顶端所确定的基准面重合，然后通过控制装置19调节量测机构14的测杆142的位置，令测杆142顶端尽量接近校零平面181。确定测杆142顶端已经位于校零平面181之内后，即可通过控制机构19进行清零操作(步骤S401)，将测杆142此时所在的位置设定为千分表的零值位置，同时千分表141通过接口16将测杆142的位置信息传输至数据处理器2并加以储存(步骤S402)；最后取下标准校零块18，即完成校零操作。另一种方法是先通过控制机构19调节测杆142上升，使所有测杆142顶端的高度均超过支持件122的高度，然后将标准校零块18的校零平面181置于测杆142顶端并垂直地下压，此时测杆142的顶端在校零平面181的压力下持续下降。持续下压标准校零块18直至其被支持件122挡止，此时校零平面181即与上述基准面重合，同时所有顶杆142的顶端均被标准校零块18下压至基准面内，即可进行清零操作(步骤S401)并储存测杆142的位置信息(步骤S402)；最后取下标准校零块18，即完成校零操作。校零操作完成后，检测系统是否已经设置测试参数(步骤S5)，若尚未设置测试参数，则需要通过参数设置模块24在数据处理器2中设置平面度及平行度的测试参数(步骤S501)并加以储存(步骤S502)。本方法中采取每一测试点与基准面之间的距离作为该测试点的测试数据，测试参数为能够表现测试数据波动程度的参数，例如各测试数据之差的可接受的范围，或所有测试数据的样本方差的可接受的范围。测试参数设置完成后即可进行测试操作(步骤S511)，具体方法是将待测试的工件放置在顶板121上并由所有测杆142共同支撑，且令所有测杆142顶端均接触工件受测面上与其相对应的测试点，必要时可在工件上加配重块(图未示)以确保测杆142顶端能够与测试点紧密配合。当工件放置稳定后，每一测杆142顶端的位移即为每一测试点与基准面之间的距离，该距离作为该测试点的测试数据由千分表1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种平面度及平行度测试系统，包括一放置待测工件的测试仪器及一数据处理器，其中测试仪器包括一箱体及一量测机构，其特征在于：该箱体包括若干可确定一基准面的支持件，该量测机构可测量测试点与该基准面之间的距离作为测试数据；所述数据处理器与量测机构连接，该数据处理器包括一输入／输出模块、一参数设置模块及一数据处理模块，其中输入／输出模块用于在测试仪器及数据处理器之间传输数据，参数设置模块用于设置测试参数，数据处理模块用于处理测试数据。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李雷，成智，陈平，孙爱鸽，翟学良，孙长发，
申请(专利权)人：深圳富泰宏精密工业有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]