一种校准工具和包括该校准工具的研磨机制造技术

本发明专利技术涉及一种用于研磨机的校准工具（４０），该研磨机用于研磨眼镜片，并且包括支撑在支架上的两个镜片支撑轴和用于移动所述轴的装置。所述校准工具（４０）包括可安装在镜片支撑轴上的支架（６８）、连接到支架（６８）的至少一个压电元件（９２）和至少一个支撑在支架（６８）上的传感器部件（７２），所述传感器部件（７２）包括检测区（１２４）和至少一个支撑面（１３２，１３４），所述支撑面（１３２，１３４）用于在检测区（１２４）接触研磨机（２）的表面时在压电元件（９２）上施加压力，从而所述元件产生接触检测信号。本发明专利技术用于校准研磨机。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于打磨眼镜片的研磨机的校准工具，该研磨机具有两个由 支架支撑的镜片承载半轴和用于移动所述半轴的装置，并且本专利技术还涉及一 种包括该校准工具的研磨机。
技术介绍
为了精确和自动地打磨眼镜片，必须精确地知道一组砂轮中每个砂轮的 位置，并且可能的话，也必须精确地知道辅助工具的每个元件(如用于开槽 或斜削的小砂轮，或者小钻头)的位置。为了这个目的，众所周知的是，可以将已知半径的金属校准工具置于支 架的镜片承载半轴之间，并且通过移动支撑柱塞以相对砂轮的轴线基本径向 地移动所述支架，直到校准工具支撑砂轮为止。校准工具是否支撑一组砂轮 中的一个砂轮由与支架移动装置的柱塞的接触损失来检测。然而，由于这种测量方法的执行与置于校准工具上的支架的重量有关， 因此这种柱塞接触损失的检测不是很精确，并且缺乏重现性。因此，支架和 镜片承载半轴的变形会降低测量质量。此外，该测量方法会导致在砂轮的表 面上施加较大的力。此外，为了确定砂轮或者辅助工具的轴向位置，所述支架被驱动平移的 步进电机沿着与镜片承载半轴的轴线垂直的轴线平移，直到电机的一步不对 应任何位移为止。但是，该方法在砂轮上产生很大的力，而砂轮可能是易碎的。此外，歩 进电机在损失一步时的测量精确性与增加或减少两步时的测量精确性几乎 相等。这种测量方法不足以精确地调整研磨机。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种校准工具，该校准工具更加精确，并且不存在 损坏研磨机的砂轮或者辅助工具的风险。基于这个目的，本专利技术提供上述类型的校准工具，其特征在于，该校准 工具包括适于安装在镜片承载半轴上的支撑件；固定在所述支撑件上的至少 一个压电元件；以及由所述支撑件承载的至少一个检测件，该检测件具有检 测区和至少一个支撑面，该支撑面适于在所述检测区和研磨机的表面接触 时，在所述压电元件上施加压力，使该压电元件产生代表所述接触的检测信号在具体实施方式中，所述校准工具包括如下的一个或多个特征 所述检测件的安装方式使得所述检测件相对于所述支撑件移动，并且当 检测区与研磨机的表面之间产生接触时，所述检测件适于相对于所述支撑件位移。所述校准工具还包括将所述支撑件连接到检测件的弹性件，当检测件与 研磨机的表面接触时，所述弹性件发生变形。所述支撑件包括至少一个用于限定所述检测件的检测区的位移行程的 邻接件。所述检测件包括至少两个支撑面，每个支撑面适于将压力施加在所述压 电元件的相应的不同的面上，并且所述压电元件适于产生两个检测信号，每 个检测信号代表被施加压力的面。所述检测件包括将固定到弹性件的固定部连接到接触部的角形部(弯曲 部)，所述固定部适于在接触部沿垂直于或平行于所述镜片承载半轴的轴线 的方向位移的过程中，仅沿基本垂直于镜片承载半轴的轴线的方向位移。所述检测件的检测区适于仅沿基本垂直于所述镜片承载半轴的轴线的 方向位移。所述校准工具包括第二压电元件和第二检测件，所述第二压电元件固定 到所述支撑件上，所述第二检测件适于仅沿基本平行于镜片承载半轴的所述 轴线的方向位移，并且适于在与研磨机的第二表面接触时将压力施加在第二 压电元件上。所述压电元件或每个压电元件包括压电板，所述压电板通过一端刚性固 定到所述支撑件上并且从所述支撑件伸出，检测件的所述支撑面适于与压电 板的自由端协作。所述弹性件包括靠近压电元件安装在支撑件上的弹性薄膜，所述弹性薄 膜的安装方式使得该弹性薄膜具有面向压电元件的面和相反的面，检测件的 支撑面固定在弹性薄膜的相反的面上，从而所以支撑面适于在检测件位移的 过程中通过弹性薄膜的变形将压力施加在压电元件上。所述弹性件为薄板。本专利技术还提供一种该类型的研磨机，该研磨机包括两个由支架承载的镜 片承载半轴和用于位移所述半轴的装置，其特征在于，该研磨机包括如上所 述的校准工具。附图说明通过阅读下面仅通过实施例给出并且参考附图的详细描述，将会更好地 理解本专利技术，在附图中图1是根据本专利技术的包括一组砂轮并支撑校准工具的硏磨机的示意性正 面视图2是图1所示的研磨机的部分和图1中没有示出的辅助工具的正面视图3是图1和图2所示的校准工具的放大的示意图4是安装在图3所示的校准工具中的压电板的纵向截面示意图； 图5是图3所示的校准工具的示意图，其中在校准工具与砂轮接触过程 中接触力的方向平行于镜片承载半轴的轴线；图6是在接触力的方向垂直于镜片承载半轴的轴线时类似于图5所示的 视图的示意图。具体实施例方式用于容纳本专利技术的校准工具的研磨机2示意性地表示在图1和图2中。 该研磨机2包括固定结构4、研磨组件6和用于支撑眼镜片的支架8，所述研磨组件和支架安装在固定结构4上；以及用于使支架8相对于研磨组件6移动的装置10。研磨组件6具有砂轮组12，所述砂轮组12的安装方式使其可以围绕固定结构4中的第一水平轴线A-A，旋转，并且砂轮组12在电机14的驱动下快速旋转。该砂轮组12由多个并肩安装并固定到砂轮轴26上的砂轮组成。例如， 该砂轮组12由用于粗磨矿物镜片(mineral lenses)的砂轮16、用于粗磨合 成镜片(synthetic lenses)的砂轮18、具有环形槽22的带有斜削功能的用于 精磨的砂轮20、以及具有环形槽28的带有斜削功能的用于拋光的砂轮24 构成。支架8围绕用于摇摆的、位于图1的平面后面并平行于第一轴线A-A' 的第二轴线X-X'铰接，所述第一轴线A-A'包含在图1的平面中。所述支架8上设置有镜片承载半轴30和32，并具有用于驱动所述镜片 承载半轴30缓慢旋转的电机34。所述镜片承载半轴30和32设置在平行于 第一轴线A-A，的第三水平轴线B-B，上。它们具有相互面对的自由端36和38， 所述自由端36和38适于在研磨操作时夹住要研磨的眼镜片或者在测量砂轮 的位置或工具承载组件的位置的操作时支撑校准工具40，下面将对其进行详细描述。用于将支架8相对于研磨组件6移动的装置10包括用于将研磨组件6 沿着平行于轴线A-A，的支撑棒11轴向移动的装置(未示出)，以及用于将支 架8相对于轴线A-A'基本径向地移动的装置，该装置由用于围绕轴线X-X' 在支架远离轴线A-A，的位置和邻近轴线A-A，的活动位置之间摇摆的装置构成。所述摇摆装置包括由电机42驱动的垂直螺杆支撑件41，与啮合在螺 杆41上的螺母44固定连接、并且被阻止转动的柱塞43，以及弹簧45。设 计柱塞43的顶端，使柱塞43的顶端靠近轴线B-B'与支架8的邻接件接触， 用于使支架朝向轴线A-A'摆动。弹簧45朝向柱塞43推动支架。研磨机2还包括工具承载组件54和枢轴装置，仅在图2中示出，所述 工具承载组件54沿着轴线A-A，固定在所述砂轮组12上；所述枢轴装置用于 使组件54围绕垂直于轴线A-A'且与所述轴线相交的轴线D枢转。工具承载组件54包括底座56、从底座56突出的连接臂58和工具承载 轴60，所述工具承载轴60可转动地安装在所述臂58的自由端，以围绕基本 垂直于所述臂58的轴线旋转。所述工具承载轴60承载有开槽砂轮62和斜削砂轮64，并在其末端承载 有钻头66。在本专利技术的第一实施方式中，校准工具40示意性地表示在图3中。 所述校准工具40包括支撑件68，所述支撑件68具有安装在其上的接触式检测器70和砂轮检测件72。所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于研磨眼镜片的研磨机（２）的校准工具（４０），该研磨机具有由支架（８）承载的两个镜片承载半轴（３０，３２）和用于位移所述半轴（３０，３２）的装置（１０），其特征在于，所述校准工具（４０）包括：支撑件（６８），所述支撑件（６８）适于安装在镜片承载半轴（３０，３２）上；至少一个压电元件（９２），所述压电元件（９２）固定在支撑件（６８）上；以及至少一个检测件（７２），所述检测件（７２）由支撑件（６８）承载，所述检测件（７２）具有检测区（１２４）和至少一个支撑面（１３２，１３４），所述至少一个支撑面（１３２，１３４）适于当检测区（１２４）与研磨机（２）的表面之间产生接触时在压电元件（９２）上施加压力，使压电元件（９２）产生代表所述接触的检测信号。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：JM默尼耶，JE梅里斯，
申请(专利权)人：布其蒙国际公司，
类型：发明
国别省市：FR[]