酸检测用荧光探针制造技术

技术编号:24963407 阅读:32 留言:0更新日期:2020-07-21 15:03
本申请涉及一类用于酸检测的荧光化合物,该荧光化合物在固体时发射强荧光,并且可以酸的存在的情况下发生聚集。在存在酸的情况下,该化合物发射的荧光强度相对于原始强度水平是显著增强的。在存在极低浓度的酸的情况下,例如浓度为至少约10

【技术实现步骤摘要】
酸检测用荧光探针相关申请的交叉引用本申请要求于2019年1月15日提交的临时美国专利申请No.62/918,057的优先权,该申请由本专利技术人提交,并且该申请的全部内容通过并入本文。
本申请涉及一类利用荧光检测酸的化合物和这类化合物在功能化硅基板表面上的应用,以及通过对这类化合物实现超快速的荧光调控的应用。
技术介绍
在过去的几十年中,材料科学已成为一个丰富的跨学科研究领域。当前人们面临的许多紧迫的科学问题,都受限于材料的可获得性以及受限于如何有效使用材料,所述材料例如为陶瓷、玻璃、金属、聚合物和复合材料。除材料的化学组成外,还必须考虑材料的表面以实现材料的最佳用途。即使表面发生微小变化,材料也会受到显著影响。近年来,对具有理想特性和可调功能的表面(称为“智能表面”)进行了广泛的研究。对各种变化或因素(例如温度、光子、电子、pH值和溶剂接触)有响应的智能表面,对于各种应用(包括智能设备、可控的水油的分离以及生物燃料的应用)都至关重要。然而,这些常规表面的响应性通常不如预期的那么快。因此,人们非常需要具有超快速响应、操作本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于酸检测的荧光化合物,其中所述化合物包括以下骨架架构:/n

【技术特征摘要】
20190115 US 62/918,0571.一种用于酸检测的荧光化合物,其中所述化合物包括以下骨架架构:



其中R1选自由下基团组成的组中

-(CH2)nCH3、-F、-Cl、-Br、-I、-COOH和-CHO;
其中R2选自由下基团组成的组中

-H、-(CH2)nCH3、-F、-Cl、-Br、-I、-OH、-COOH和–CHO;
其中R3选自由下基团组成的组中

-H、-(CH2)nCH3、-F、-Cl、-Br、-I、-OH、-COOH和–CHO;
其中n是0至100范围内的整数;并且
其中p是1至100范围内的整数。


2.根据权利要求1所述的化合物,其中所述化合物选自由以下结构式组成的组中:





3.根据权利要求1所述的化合物,其中R2和R3是相同的。


4.根据权利要求3所述的化合物,其中R2是-H并且R3是-H。


5.根据权利要求1所述的化合物,其中R2和R3是不同的。


6.根据权利要求1所述的化合物,其中在存在酸的情况下,所述化合物发射的荧光强度相对于原始强度水平是增强的。


7.一种用于检测材料的表面上存在酸的方法,包括:
用根据权利要求1所述的化合物使所述材料的表面功能化,以及
用所述化合物使所述表面功能化后,监测所述化合物发射的荧光强度;
当所述化合物的荧光强度增强时表明所述材料的所述表面存在酸。


8.根据权利要求7所述的方法,其中在存在酸的情况下,所述化合物发生聚集。


9.根据权利要求7所述的方法,其中所述酸处于选自气态和溶液态组成的组中的一种状态。


10.根据权利要求9所述的方法,其中在存在至少约10-20M的酸的情况下,所述化合物发射的荧光强度增强。


11.根据权利要求10所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:唐本忠蔡歆王建国
申请(专利权)人:香港科技大学
类型:发明
国别省市:中国香港;81

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