一种万能测长仪制造技术

本实用新型专利技术提供一种万能测长仪，属于自动化测量设备技术领域。它解决了现有多采用读数显微镜及刻度尺进行测量，操作繁琐，测量精度不高，容易受到外界干扰而造成较大误差的问题。本实用新型专利技术包括机架、设置于机架上的第一测量部、第二测量部、工作台、直线导轨及计算机；第一测量部包括第一测量轴和测量帽；第二测量部包括电缸、第二测量轴、测量帽及与用于测量第二测量轴移动距离的光栅尺装置；工作台包括用于放置待测物品的测量支架、与直线导轨配合的底座、用于抬升支架的抬升气缸、用于移动工作台的旋转轮机构以及用于支撑抬升气缸的滑动支架，滑动支架与机架滑动连接。本实用新型专利技术具有操作方便、测量精度高、不易受外界干扰的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种万能测长仪
本技术属于自动化测量设备
，具体涉及一种万能测长仪。
技术介绍
万能测长仪是一种由精密机械、光学系统和电气等部分相结合而成的用于进行长度计量的高精度仪器。然而现有仪器多采用读数显微镜及刻度尺进行测量，操作繁琐，而且测量精度不高，容易受到外界干扰而造成较大误差。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术中存在的上述问题，提供了一种操作方便、测量精度高、不易受外界干扰的万能测长仪。为了实现上述技术目的，本技术采用了以下技术方案：一种万能测长仪，其特征在于，包括机架、设置于机架上的第一测量部、与第一测量部配合的第二测量部、用于放置待测物的工作台、与第二测量部和工作台配合的直线导轨及用于测量计算的计算机；所述的第一测量部固连于机架左端，所述的第一测量部包括用于测量的第一测量轴和设置于第一测量轴顶端的测量帽；所述的第二测量部包括与用于驱动第二测量轴沿直线导轨长度方向做往复运动的电缸、用于配合第一测量轴的第二测量轴、设置于第二测量轴顶端的测量帽及与用于测量第二测量轴移动距离的光栅尺装置；所述的工作台包括用于放置本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种万能测长仪，其特征在于，包括机架（1）、设置于机架（1）上的第一测量部（2）、与第一测量部（2）配合的第二测量部（3）、用于放置待测物的工作台（4）、与第二测量部（3）和工作台（4）配合的直线导轨（5）及用于测量计算的计算机（6）；所述的第一测量部（2）包括用于测量的第一测量轴（21）和设置于第一测量轴（21）顶端的测量帽（7）；所述的第二测量部（3）包括与用于驱动第二测量轴（33）沿直线导轨（5）长度方向做往复运动的电缸（32）、与第一测量轴（21）配合的第二测量轴（33）、设置于第二测量轴（33）顶端的测量帽（7）及与用于测量第二测量轴（33）移动距离的光栅尺装置（31）；所述的工...

【技术特征摘要】
1.一种万能测长仪，其特征在于，包括机架（1）、设置于机架（1）上的第一测量部（2）、与第一测量部（2）配合的第二测量部（3）、用于放置待测物的工作台（4）、与第二测量部（3）和工作台（4）配合的直线导轨（5）及用于测量计算的计算机（6）；所述的第一测量部（2）包括用于测量的第一测量轴（21）和设置于第一测量轴（21）顶端的测量帽（7）；所述的第二测量部（3）包括与用于驱动第二测量轴（33）沿直线导轨（5）长度方向做往复运动的电缸（32）、与第一测量轴（21）配合的第二测量轴（33）、设置于第二测量轴（33）顶端的测量帽（7）及与用于测量第二测量轴（33）移动距离的光栅尺装置（31）；所述的工作台（4）包括用于放置待测物品的测量支架（41）、与直线导轨（5）配合的底座（42）、用于抬升支架的抬升气缸（43）、用于移动工作台（4）的旋转轮机构（44）以及用于支撑抬升气缸（43）的滑动支架（45），所述的滑动支架（45）与机架（1）滑动连接。


2.根据权利要求1所述的一种万能测长仪，其特征在于，所述的第一测量轴（21）和第二测量轴（33）在同一直线上。


3.根据权利要求1所述的一种万能测长仪，其特征在于，所述的计算机（6）嵌入安装在第一测量部（2）侧面，所述的第一测量部（2）侧面还具有用于控制万能测长仪的控制面板（22）。


4.根据权利要求1所述的一种万能测长仪，其特征在于，所述的第二测量部（3）还包括与直线导轨（5）配合的滑动座（34），所述的滑动座（34）底部具有安装光栅尺装置（31）和直线导轨（5）的开槽。


5.根据权利要求4所述的一种万能测长仪，其特征在于，所述的光栅...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜涛峰，武波，吴文强，
申请(专利权)人：苏州华迪优品校准检测有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32