芯片外观的检测方法及装置、电子设备、存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种芯片外观的检测方法及装置、电子设备、存储介质，该方法包括：获取待测芯片的外观图像；从外观图像中提取待测元素对应的图像检测数据；根据待测元素对应的图像标准数据，判断待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到待测芯片的检测结果。由此无法人工目测检测芯片的缺陷，降低了检测成本，提高了检测效率，由于机器可以按照统一的标准进行自动检测，由此解决了人工判断主观标准变化导致的质量不稳定问题，本申请实施例提供的技术方案，提高了检测质量。

【技术实现步骤摘要】
芯片外观的检测方法及装置、电子设备、存储介质
本申请涉及芯片外观检测
，特别涉及一种芯片外观的检测方法及装置、电子设备、计算机可读存储介质。
技术介绍
如今封装芯片越来越小型化，生产规模也越来越大，对其引脚和其他外观的缺陷检测是对其是否正确封装及芯片封装质量的保证。目前很多生产线上仍然采用人工目测检测，发现不良品后手动剔除。但是，人工检测的效率低下，人工成本也较高，并且人工判断标准无法量化，主观标准的变化会导致检测质量不稳定。
技术实现思路
本申请实施例提供了一种芯片外观的检测方法，用以提高检测质量，降低检测成本，提高检测效率。本申请实施例提供了一种芯片外观的检测方法，包括：获取待测芯片的外观图像；从所述外观图像中提取待测元素对应的图像检测数据；根据所述待测元素对应的图像标准数据，判断所述待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到所述待测芯片的检测结果。在一实施例中，所述从所述外观图像中提取待测元素对应的图像检测数据，包括：根据所述待测元素对应的色彩阈值，对所述外观图像进行阈值分割，获得所述待测元素对应的元素区域；提取所述元素区域的图像检测数据。在一实施例中，所述待测元素包括芯片方向和芯片型号，所述元素区域包括芯片区域，图像检测数据包括图像灰度数据，所述根据所述待测元素对应的图像标准数据，判断所述待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到所述待测芯片的检测结果，包括：根据良品芯片的芯片模板数据，判断所述外观图像中芯片区域的图像灰度数据与所述芯片模板数据是否匹配，确定所述待测芯片的芯片方向和芯片型号是否正确。在一实施例中，所述待测元素包括塑封体，所述元素区域包括塑封体区域，图像检测数据包括塑封体尺寸数据和塑封体灰度数据，所述根据所述待测元素对应的图像标准数据，判断所述待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到所述待测芯片的检测结果，包括：根据良品芯片的塑封体标准尺寸数据和塑封体标准灰度数据，判断所述待测芯片的塑封体尺寸和塑封体灰度数据是否达标，得到所述待测芯片的塑封体检测结果。在一实施例中，所述待测元素包括字符，所述从所述外观图像中提取待测元素对应的图像检测数据，包括：根据芯片色彩阈值，对所述外观图像进行阈值分割，获得芯片区域；根据良品芯片的芯片模板数据，通过模板匹配从所述芯片区域中提取每个字符区域的图像检测数据。在一实施例中，所述图像检测数据包括字符灰度数据，所述根据所述待测元素对应的图像标准数据，判断所述待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到所述待测芯片的检测结果，包括：根据预设的字符标准灰度数据，判断所述待测芯片的字符灰度数据与所述字符标准灰度数据是否匹配，得到所述待测芯片的字符检测结果。在一实施例中，所述图像检测数据包括印刷边距和印刷角度；所述根据所述待测元素对应的图像标准数据，判断所述待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到所述待测芯片的检测结果，包括：根据预设的字符角度和字符边距，判断所述印刷边距和印刷角度是否达标，得到所述待测芯片的字符检测结果。在一实施例中，所述待测元素包括管脚，所述图像检测数据包括尺寸和位置参数，所述从所述外观图像中提取待测元素对应的图像检测数据，包括：对所述外观图像进行二值化处理，提取每个管脚的管脚区域；根据每个管脚的管脚区域，计算每个管脚的尺寸和位置参数。在一实施例中，所述根据所述待测元素对应的图像标准数据，判断所述待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到所述待测芯片的检测结果，包括：根据预设的管脚标准尺寸和管脚标准位置，判断所述待测芯片的每个管脚的尺寸和位置参数是否达标，得到所述待测芯片的管脚检测结果。在一实施例中，在所述根据所述待测元素对应的图像标准数据，判断所述待测元素对应的图像检测数据是否达标之前，所述方法还包括：获取良品芯片的外观图像；从所述良品芯片的外观图像中提取所述待测元素的图像标准数据。本申请实施例还提供了一种芯片外观的检测装置，包括：图像获取模块，用于获取待测芯片的外观图像；数据提取模块，用于从所述外观图像中提取待测元素对应的图像检测数据；数据判断模块，用于根据所述待测元素对应的图像标准数据，判断所述待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到所述待测芯片的检测结果。本申请实施例提供了一种电子设备，所述电子设备包括：处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为执行上述芯片外观的检测方法。本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序可由处理器执行以完成上述芯片外观的检测方法。本申请上述实施例提供的技术方案，通过获取待测芯片的外观图像，提取外观图像中待测元素的图像检测数据，进而根据待测元素的图像标准数据，判断待测元素的图像检测数据是否达标，得到待测芯片的检测结果。由此无法人工目测检测芯片的缺陷，降低了检测成本，提高了检测效率，由于机器可以按照统一的标准进行自动检测，由此解决了人工判断主观标准变化导致的质量不稳定问题，本申请实施例提供的技术方案，提高了检测质量。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。图1为本申请一实施例提供的芯片外观检测方法的应用场景示意图；图2是本申请实施例提供的芯片外观的检测方法的流程示意图；图3是本申请实施例提供的外观图像的拍摄方向示意图；图4是本申请另一实施例提供的芯片外观的检测方法的流程示意图；图5是图4对应实施例的基础上另一实施例提供的芯片外观的检测方法的流程示意图；图6是图4对应实施例的基础上另一实施例提供的芯片外观的检测方法的流程示意图；图7是本申请另一实施例提供的芯片外观的检测方法的流程示意图；图8是图7对应实施例的基础上另一实施例提供的芯片外观的检测方法的流程示意图；图9是图7对应实施例的基础上另一实施例提供的芯片外观的检测方法的流程示意图；图10是本申请又一实施例提供的芯片外观的检测方法的流程示意图；图11是本申请实施例提供的芯片外观的检测装置的框图。具体实施方式下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行描述。相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。图1为本申请实施例提供的芯片外观检测方法的应用场景示意图。如图1所示，该应用场景包括：传送装置110、图像采集装置130以及检测装置120。传送装置110连接检测装置120，可以向检测装置120发送触发信号。图像采集装置130连接检测装置120，检测装置120接收到传送装置110发送的触发信号后，可以控制图像采集装置130拍摄传送装置本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片外观的检测方法，其特征在于，包括：/n获取待测芯片的外观图像；/n从所述外观图像中提取待测元素对应的图像检测数据；/n根据所述待测元素对应的图像标准数据，判断所述待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到所述待测芯片的检测结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片外观的检测方法，其特征在于，包括：
获取待测芯片的外观图像；
从所述外观图像中提取待测元素对应的图像检测数据；
根据所述待测元素对应的图像标准数据，判断所述待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到所述待测芯片的检测结果。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述外观图像中提取待测元素对应的图像检测数据，包括：
根据所述待测元素对应的色彩阈值，对所述外观图像进行阈值分割，获得所述待测元素对应的元素区域；
提取所述元素区域的图像检测数据。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测元素包括芯片方向和芯片型号，所述元素区域包括芯片区域，图像检测数据包括图像灰度数据，所述根据所述待测元素对应的图像标准数据，判断所述待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到所述待测芯片的检测结果，包括：
根据良品芯片的芯片模板数据，判断所述外观图像中芯片区域的图像灰度数据与所述芯片模板数据是否匹配，确定所述待测芯片的芯片方向和芯片型号是否正确。


4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测元素包括塑封体，所述元素区域包括塑封体区域，图像检测数据包括塑封体尺寸数据和塑封体灰度数据，所述根据所述待测元素对应的图像标准数据，判断所述待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到所述待测芯片的检测结果，包括：
根据良品芯片的塑封体标准尺寸数据和塑封体标准灰度数据，判断所述待测芯片的塑封体尺寸和塑封体灰度数据是否达标，得到所述待测芯片的塑封体检测结果。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测元素包括字符，所述从所述外观图像中提取待测元素对应的图像检测数据，包括：
根据芯片色彩阈值，对所述外观图像进行阈值分割，获得芯片区域；
根据良品芯片的芯片模板数据，通过模板匹配从所述芯片区域中提取每个字符区域的图像检测数据。


6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述图像检测数据包括字符灰度数据，所述根据所述待测元素对应的图像标准数据，判断所述待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到所述待测芯片的检测结果，包括：
根据预设的字符标准灰度数据，判断所述待测芯片的字符灰度数据与所述字符标准灰度数据...

【专利技术属性】
技术研发人员：周荣欣，张省委，于长强，徐众，孟小路，
申请(专利权)人：苏州杰锐思智能科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32