芯片外观的检测方法及装置、电子设备、存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种芯片外观的检测方法及装置、电子设备、存储介质，该方法包括：获取待测芯片的外观图像；从外观图像中提取待测元素对应的图像检测数据；根据待测元素对应的图像标准数据，判断待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到待测芯片的检测结果。由此无法人工目测检测芯片的缺陷，降低了检测成本，提高了检测效率，由于机器可以按照统一的标准进行自动检测，由此解决了人工判断主观标准变化导致的质量不稳定问题，本申请实施例提供的技术方案，提高了检测质量。

【技术实现步骤摘要】
芯片外观的检测方法及装置、电子设备、存储介质
本申请涉及芯片外观检测
，特别涉及一种芯片外观的检测方法及装置、电子设备、计算机可读存储介质。
技术介绍
如今封装芯片越来越小型化，生产规模也越来越大，对其引脚和其他外观的缺陷检测是对其是否正确封装及芯片封装质量的保证。目前很多生产线上仍然采用人工目测检测，发现不良品后手动剔除。但是，人工检测的效率低下，人工成本也较高，并且人工判断标准无法量化，主观标准的变化会导致检测质量不稳定。
技术实现思路
本申请实施例提供了一种芯片外观的检测方法，用以提高检测质量，降低检测成本，提高检测效率。本申请实施例提供了一种芯片外观的检测方法，包括：获取待测芯片的外观图像；从所述外观图像中提取待测元素对应的图像检测数据；根据所述待测元素对应的图像标准数据，判断所述待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到所述待测芯片的检测结果。在一实施例中，所述从所述外观图像中提取待测元素对应的图像检测数据，包括：根据所述待测元素对应的色彩阈值，对所述外观本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片外观的检测方法，其特征在于，包括：/n获取待测芯片的外观图像；/n从所述外观图像中提取待测元素对应的图像检测数据；/n根据所述待测元素对应的图像标准数据，判断所述待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到所述待测芯片的检测结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片外观的检测方法，其特征在于，包括：
获取待测芯片的外观图像；
从所述外观图像中提取待测元素对应的图像检测数据；
根据所述待测元素对应的图像标准数据，判断所述待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到所述待测芯片的检测结果。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述外观图像中提取待测元素对应的图像检测数据，包括：
根据所述待测元素对应的色彩阈值，对所述外观图像进行阈值分割，获得所述待测元素对应的元素区域；
提取所述元素区域的图像检测数据。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测元素包括芯片方向和芯片型号，所述元素区域包括芯片区域，图像检测数据包括图像灰度数据，所述根据所述待测元素对应的图像标准数据，判断所述待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到所述待测芯片的检测结果，包括：
根据良品芯片的芯片模板数据，判断所述外观图像中芯片区域的图像灰度数据与所述芯片模板数据是否匹配，确定所述待测芯片的芯片方向和芯片型号是否正确。


4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测元素包括塑封体，所述元素区域包括塑封体区域，图像检测数据包括塑封体尺寸数据和塑封体灰度数据，所述根据所述待测元素对应的图像标准数据，判断所述待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到所述待测芯片的检测结果，包括：
根据良品芯片的塑封体标准尺寸数据和塑封体标准灰度数据，判断所述待测芯片的塑封体尺寸和塑封体灰度数据是否达标，得到所述待测芯片的塑封体检测结果。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测元素包括字符，所述从所述外观图像中提取待测元素对应的图像检测数据，包括：
根据芯片色彩阈值，对所述外观图像进行阈值分割，获得芯片区域；
根据良品芯片的芯片模板数据，通过模板匹配从所述芯片区域中提取每个字符区域的图像检测数据。


6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述图像检测数据包括字符灰度数据，所述根据所述待测元素对应的图像标准数据，判断所述待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到所述待测芯片的检测结果，包括：
根据预设的字符标准灰度数据，判断所述待测芯片的字符灰度数据与所述字符标准灰度数据...

【专利技术属性】
技术研发人员：周荣欣，张省委，于长强，徐众，孟小路，
申请(专利权)人：苏州杰锐思智能科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32