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本申请提供一种芯片外观的检测方法及装置、电子设备、存储介质，该方法包括：获取待测芯片的外观图像；从外观图像中提取待测元素对应的图像检测数据；根据待测元素对应的图像标准数据，判断待测元素对应的图像检测数据是否达标，得到待测芯片的检测结果。由此...
该专利属于苏州杰锐思智能科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州杰锐思智能科技股份有限公司授权不得商用。

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