一种机械振动抛光试样的辅助夹具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种机械振动抛光试样的辅助夹具，包括中间形成第一螺孔的套体以及穿过第一螺孔与套体连接的支撑杆；所述套体的圆周壁形成多个卡槽，多个固定块嵌入卡槽内，且与套体连接，水平设置的固定螺杆与固定块连接；所述支撑杆底端设置支撑头。本实用新型专利技术实现不规则形状试样的机械振动抛光，解决不规则形状试样制样困难及花样质量差等问题，能够对不同形状、尺寸的试样进行夹紧定位，进一步增加夹具的牢固性及稳定性，结构简单，适用性强，试样安装方便，抛光质量较高。

【技术实现步骤摘要】
一种机械振动抛光试样的辅助夹具
本技术属于机械振动抛光装置领域，具体涉及一种机械振动抛光试样的辅助夹具。
技术介绍
电子背散射衍射（EBSD）技术是采用背散射电子衍射菊池花样研究材料结构信息的分析方法。结合扫描电镜（SEM），EBSD技术可以对试样在亚微米级尺度内进行晶体结构分析，如晶体取向、晶界特性分析、真实晶粒尺寸测量、断裂机制、失效机理研究和应变评估等方面，可以解决各种晶体材料（例如金属、陶瓷等）在诸如凝固、形变、结晶、再结晶、相变、断口、腐蚀等过程中存在的问题EBSD花样观察对试样制备的质量要求较高，要求试样表面光滑、无明显划痕且无塑性变形。目前常用的EBSD制样方法包括机械抛光、电解抛光、等离子抛光等。其中影响电解抛光的参数较多，电解液组成复杂，使用时存在一定的爆炸风险。而离子减薄设备的造价较高，针对不同种类的试样，需要探索适宜的离子抛光参数。机械振动抛光是一种有效制备EBSD试样的方法，在常规抛光过程结束后，采用振动抛光可进一步提高试样的表面光洁度、消除细微划痕、去除试样表层的残余应力。该方法适用于所有的金属材料，不论是质地本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种机械振动抛光试样的辅助夹具，其特征在于：包括中间形成第一螺孔（11）的套体（10）以及穿过第一螺孔（11）与套体（10）连接的支撑杆（20）；/n所述套体（10）的圆周壁形成多个卡槽（13），多个固定块（40）嵌入卡槽（13）内，且与套体（10）连接，水平设置的固定螺杆（50）与固定块（40）连接；/n所述支撑杆（20）底端设置支撑头（30）。/n

【技术特征摘要】
1.一种机械振动抛光试样的辅助夹具，其特征在于：包括中间形成第一螺孔（11）的套体（10）以及穿过第一螺孔（11）与套体（10）连接的支撑杆（20）；
所述套体（10）的圆周壁形成多个卡槽（13），多个固定块（40）嵌入卡槽（13）内，且与套体（10）连接，水平设置的固定螺杆（50）与固定块（40）连接；
所述支撑杆（20）底端设置支撑头（30）。


2.根据权利要求1所述的机械振动抛光试样的辅助夹具，其特征在于：还包括圆环形砝码（70），砝码（70）放置于套体（10）顶部，支撑杆（20）穿过砝码（70）中间通孔。


3.根据权利要求1所述的机械振动抛光试样的辅助夹具，其特征在于：所述套体（10）为一端敞口的中空圆柱体结构，其顶面形成多个第二螺孔（12）。


4.根据权利要求3所述的机械振动抛光试样的辅助夹具，其特征在于：多个所述第二螺孔（12）以第一螺孔（11）的中心为圆心呈圆周分布。


5.根据权利要求1所述的机械振动抛光试样的辅助夹具，其特征在于：所述支撑杆（20）中下部外壁形成与第一螺孔（11）...

【专利技术属性】
技术研发人员：李昂，张毅，杨国良，
申请(专利权)人：核工业理化工程研究院，
类型：新型
国别省市：天津;12