一种晶体测试装置制造方法及图纸

技术编号:24891949 阅读:36 留言:0更新日期:2020-07-14 18:18
本实用新型专利技术公开了一种晶体测试装置,旨在提供一种能够消除产品内在品质隐患的晶体测试装置。本实用新型专利技术包括机台及晶体上料模组,机台上设置有晶体运输模组、下料模组、晶体电性测试模组及晶体敲击模组,晶体上料模组与晶体运输模组相接,晶体运输模组与晶体运输模组的一侧相接,下料模组与晶体运输模组的另一侧相接,晶体运输模组的一侧上设置有晶体测试工位,晶体电性测试模组及晶体敲击模组均与晶体测试工位配合,晶体敲击模组位于晶体电性测试模组的下方。本实用新型专利技术应用于石英晶体测试装置的技术领域。

【技术实现步骤摘要】
一种晶体测试装置
本技术涉及一种晶体测试装置。
技术介绍
目前石英晶体性能测试方式:在测试机机软件中设置频率、电阻等参数范围后,将待测晶体放入振动料盘内,晶体自动在料盘轨道上逐个纵列,统一引线朝上持续不断进入测试轨道,在轨道旁设置的金属测试探头对逐个经过的晶体进行压触式测试,测得的频率、电阻等各项电性数据与软件中预设电性参数相比对,自动将合格、不合格品分类放置,合格品检验合格后包装发往客户使用;现有测试机测量方式对晶体的频率、电阻等性能参数虽可区分出合格与不合格,但晶体谐振件在制程中会存在一些失效模式,如水晶材质的缺陷、晶片切割研磨产生的边缘微小裂纹、破口,导电胶的粘合度等晶体行业内公认的品质缺陷,而这些缺陷在测试中不易被发现,即使是合格品也会有个别存在品质隐患,通常会随着元件的长时间运行而体现出来,轻则频率发生偏移,重则内在晶片断裂或脱胶,导致产品死机,尤其是我司的晶体产品主要是出口及运用到汽车上,稳定性、安全性及其重大。由此急需一种能完全杜绝品质隐患产品流出的测试装置。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是克服现本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种晶体测试装置,其特征在于:其包括机台(1)及晶体上料模组(2),所述机台(1)上设置有晶体运输模组(3)、下料模组(4)、晶体电性测试模组(5)及晶体敲击模组(6),所述晶体上料模组(2)与所述晶体运输模组(3)相接,所述晶体运输模组(3)与所述晶体运输模组(3)的一侧相接,所述下料模组(4)与所述晶体运输模组(3)的另一侧相接,所述晶体运输模组(3)的一侧上设置有晶体测试工位,所述晶体电性测试模组(5)及所述晶体敲击模组(6)均与所述晶体测试工位配合,所述晶体敲击模组(6)位于所述晶体电性测试模组(5)的下方。/n

【技术特征摘要】
1.一种晶体测试装置,其特征在于:其包括机台(1)及晶体上料模组(2),所述机台(1)上设置有晶体运输模组(3)、下料模组(4)、晶体电性测试模组(5)及晶体敲击模组(6),所述晶体上料模组(2)与所述晶体运输模组(3)相接,所述晶体运输模组(3)与所述晶体运输模组(3)的一侧相接,所述下料模组(4)与所述晶体运输模组(3)的另一侧相接,所述晶体运输模组(3)的一侧上设置有晶体测试工位,所述晶体电性测试模组(5)及所述晶体敲击模组(6)均与所述晶体测试工位配合,所述晶体敲击模组(6)位于所述晶体电性测试模组(5)的下方。


2.根据权利要求1所述的一种晶体测试装置,其特征在于:所述晶体上料模组(2)包括振动盘(201)、顶升模组(202)及晶体感应器(203),所述顶升模组(202)及所述晶体感应器(203)均位于所述振动盘(201)的末端,且均位于所述晶体运输模组(3)的一侧上,所述振动盘(201)及所述晶体运输模组(3)均与所述顶升模组(202)配合。


3.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员:毛毅
申请(专利权)人:珠海东精大电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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