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本实用新型公开了一种晶体测试装置，旨在提供一种能够消除产品内在品质隐患的晶体测试装置。本实用新型包括机台及晶体上料模组，机台上设置有晶体运输模组、下料模组、晶体电性测试模组及晶体敲击模组，晶体上料模组与晶体运输模组相接，晶体运输模组与晶体运...
该专利属于珠海东精大电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海东精大电子科技有限公司授权不得商用。

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