【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及检测设备，具体涉及一种晶体谐振器气密性检测设备。
技术介绍
1、晶体谐振器是一种电子元件，其利用晶体片的压电效应产生高精度振荡频率，通常使用于通信设备以及测量仪器等领域。在生产过程中，晶体谐振器需要对其外表的封装进行气密性检测，以确保封装能够有效保护内部的晶体片和电极，从而保证其输出频率的稳定性。
2、目前，常用的气密性检测方法主要有两种：气泡法和真空法。气泡法是将晶体谐振器浸入液体中，通过加压观察是否产生气泡来判断其气密性，然而，这种方法存在一些缺点：首先，检测后需要处理晶体谐振器表面残留的液体，增加了额外的操作步骤；其次，如果晶体谐振器的气密性不佳，液体可能渗入内部，导致器件损坏。另一种方法是真空法，即将晶体谐振器置于真空环境中，通过检测气体泄漏来判断其气密性。虽然这种方法不会对器件造成负面影响，但其设备复杂，操作要求较高，成本也相对昂贵。
3、因此，亟待设计一种既不产生负面影响又能保留简单操作、高性价比的针对与晶体谐振器进行气密性检测的检测设备，以满足晶体谐振器生产中的检测需求。
技术实现思路
1、本专利技术提出一种晶体谐振器气密性检测设备，旨在解决于上述
技术介绍
中提出的现有技术缺陷。
2、技术方案是：一种晶体谐振器气密性检测设备，包括：框箱，框箱内设置有密闭仓；
3、固定连接在框箱上的安装板；
4、设置在安装板上的封门；
5、固定连接在框箱上的液压机；
6、固定连接在液压机的伸
7、滑动连接在框箱内的活塞板，活塞板设置于密闭仓内，按压块将与活塞板接触而控制其移动，活塞板与框箱之间设有弹性件；
8、设置在框箱内的放料板，放料板设置于密闭仓的空间底部；
9、以及设置在框箱内的检测对接头，检测对接头的屏显设置在框箱上。
10、作为本专利技术的一种优选技术方案，封门滑动连接在安装板上，封门与安装板之间设有弹性件；
11、还包括：滑动连接在框箱上的第一控制板，第一控制板与按压块固定连接；
12、滑动连接在安装板上的第一楔块，第一控制板与第一楔块的斜面接触，第一楔块与安装板之间设有弹性件；
13、以及固定连接在封门上的第二楔块，第一楔块与第二楔块的斜面接触。
14、作为本专利技术的一种优选技术方案，检测对接头滑动连接在框箱内；
15、还包括：滑动连接在框箱上的第二控制板，第二控制板与按压块固定连接；
16、滑动连接在框箱内的第三楔块，第二控制板与第三楔块的斜面接触，第三楔块与框箱之间设有弹性件；
17、以及转动连接在框箱内的转动架，转动架为可伸缩结构，转动架的一端与第三楔块转动连接，转动架的另一端与检测对接头转动连接。
18、作为本专利技术的一种优选技术方案，还包括：固定连接在框箱上的上料台，上料台通向密闭仓；
19、转动连接在上料台上的螺杆；
20、滑动连接在上料台上的移料架，移料架与螺杆螺纹连接；
21、以及固定连接在上料台上的第一电机，第一电机的输出端与螺杆固定连接。
22、作为本专利技术的一种优选技术方案，移料架设置为倒l字型，在移料架被控制移动至螺杆的最端部时，移料架的远端将推动晶体谐振器至密闭仓内。
23、作为本专利技术的一种优选技术方案，放料板转动连接在框箱内；
24、还包括：固定连接在箱内的第二电机，第二电机的输出端与放料板的转轴固定连接；
25、以及固定连接在框箱下部的收集框，收集框位于放料板的下方，收集框内设置有两个分区；
26、收集框上设有两个取料口，分别对应通向收集框的两个分区内。
27、作为本专利技术的一种优选技术方案，还包括：固定连接在放料板上的限位条。
28、作为本专利技术的一种优选技术方案，还包括：固定连接在框箱内的导向块。
29、有益效果：本专利技术使用气压对气密性不良的晶体谐振器的阻值产生影响，使得在使用本专利技术判断气密性结果时，可直接通过阻值变化而直观获得结果，本专利技术的使用方式不产生负面影响，并且使检测操作更便捷化、更具高性价比，因此，相比于现有技术，本专利技术具有显著的技术提升。本专利技术通过使用传动部件，在操控按压块移动的同时，还能够控制封门自动开闭，以及检测对接头与晶体谐振器自动对接，从而进一步简化本专利技术的操作步骤，提高本专利技术的操作便捷性。
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1.一种晶体谐振器气密性检测设备，其特征在于，包括：框箱（1），框箱（1）内设置有密闭仓（2），晶体谐振器（0）于密闭仓（2）内进行气密性检测；
2.根据权利要求1所述的一种晶体谐振器气密性检测设备，其特征在于，封门（5）滑动连接在安装板（3）上，封门（5）与安装板（3）之间设有用于复位封门（5）的弹性件；
3.根据权利要求2所述的一种晶体谐振器气密性检测设备，其特征在于，检测对接头（12）滑动连接在框箱（1）内；
4.根据权利要求3所述的一种晶体谐振器气密性检测设备，其特征在于，还包括：固定连接在框箱（1）上的上料台（25），上料台（25）通向密闭仓（2）；
5.根据权利要求4所述的一种晶体谐振器气密性检测设备，其特征在于，移料架（27）设置为倒L字型，在移料架（27）被控制移动至螺杆（26）的最端部时，移料架（27）的远端将推动晶体谐振器（0）至密闭仓（2）内。
6.根据权利要求5所述的一种晶体谐振器气密性检测设备，其特征在于，放料板（11）转动连接在框箱（1）内；
7.根据权利要求6所述的一种晶体谐振器
8.根据权利要求7所述的一种晶体谐振器气密性检测设备，其特征在于，还包括：固定连接在框箱（1）内的导向块（34），导向块（34）用于调整晶体谐振器（0）的位置。
...【技术特征摘要】
1.一种晶体谐振器气密性检测设备，其特征在于，包括：框箱（1），框箱（1）内设置有密闭仓（2），晶体谐振器（0）于密闭仓（2）内进行气密性检测；
2.根据权利要求1所述的一种晶体谐振器气密性检测设备，其特征在于，封门（5）滑动连接在安装板（3）上，封门（5）与安装板（3）之间设有用于复位封门（5）的弹性件；
3.根据权利要求2所述的一种晶体谐振器气密性检测设备，其特征在于，检测对接头（12）滑动连接在框箱（1）内；
4.根据权利要求3所述的一种晶体谐振器气密性检测设备，其特征在于，还包括：固定连接在框箱（1）上的上料台（25），上料台（25）通向密闭仓（2）；
5.根据权利要求4所述的一种晶体谐振器气密性...
【专利技术属性】
技术研发人员：谢超平，赖思明，彭家玲，
申请(专利权)人：珠海东精大电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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