一种生长金刚石多晶膜用样品托及金刚石多晶膜生长方法技术

技术编号:24842014 阅读:58 留言:0更新日期:2020-07-10 18:59
本发明专利技术涉及晶体合成技术领域,具体涉及一种生长金刚石多晶膜用样品托及金刚石多晶膜生长方法,本发明专利技术的样品托顶部开设有用于放置衬底的容置槽,样品托底部设有由若干个同心圆环间隔分布形成的花纹,若干个同心圆环包括有实心圆环带和空心圆环带,本发明专利技术的样品托采用非对称式底部花纹,利用非均匀的底部散热来补偿由于等离子体球倾斜或偏移所导致的金刚石生长衬底的受热不均匀,可实现大面积金刚石多晶膜的高质量均匀生长;本发明专利技术的生长方法,采用上述结构的样品托进行生长,工艺简单,容易生长,可实现大面积金刚石多晶膜的高质量均匀生长。

【技术实现步骤摘要】
一种生长金刚石多晶膜用样品托及金刚石多晶膜生长方法
本专利技术涉及晶体合成
,特别是涉及一种生长金刚石多晶膜用样品托及金刚石多晶膜生长方法。
技术介绍
金刚石具有高硬度、高热导率、耐酸碱腐蚀和超宽禁带等优异的物理、化学及电学性能,在机械、半导体和饰品等领域均有重要的应用价值。天然金刚石在自然界中储量小,价格昂贵,且具有质量不均匀、尺寸小等问题,因此,为了获得大面积、稳定、均匀、低成本、高质量的金刚石,必须发展金刚石的人工合成技术。目前人工合成金刚石的方法主要有高温高压(HPHT)法和化学气相沉积(CVD)法,在各种CVD金刚石制备方法中,微波等离子体化学气相沉积(MPCVD)法以其具有等离子体功率密度高、无电极放电污染和性能稳定等特性,成为制备高品质金刚石的首选方法。除了外延高质量单晶金刚石外,MPCVD设备亦被应用于异质衬底上的大面积金刚石多晶膜外延,目前市面上采用2.45GHz微波源的MPCVD设备用于外延最大2英寸金刚石多晶膜,采用915MHz微波源的MPCVD设备则可外延4~6英寸金刚石多晶膜。大面积金刚石多晶膜的均匀性很大程度取决于等离子体球的准直性,而后者受微波场的分布、混合生长气体的扰动和样品台、腔体结构等多种因素所影响,所以质量再好的MPCVD设备也很难避免等离子体球的倾斜和偏移,由此会引起样品各位置的温度不均匀,此现象在大面积衬底上尤为严重。温度的差异不仅会导致生长速率和厚度不均匀,而且还会引起不同位置金刚石晶向的差异,更为严重的是在衬底比较薄的情况下受热温度较高的边缘容易形变翘曲,该部位因脱离与样品托的接触而热传导变差,使温度急剧上升,最终导致金刚石晶体石墨化,严重制约了大面积金刚石多晶膜的高质量均匀生长。鉴于上述技术问题,有必要提供一款新的生长金刚石多晶膜用样品托及金刚石多晶膜生长方法,以更好地解决上述技术问题。
技术实现思路
为解决上述问题,本专利技术提供一种生长金刚石多晶膜用样品托及金刚石多晶膜生长方法,本专利技术的样品托,其结构简单,设计合理,能有效补偿因等离子体球的分布不均匀而带来的表面温差;本专利技术的生长方法,其工艺简单,操作方便,便于金刚石多晶膜制备。本专利技术采用的技术方案是:一种生长金刚石多晶膜用样品托,样品托顶部开设有用于放置衬底的容置槽,样品托底部设有由若干个同心圆环间隔分布形成的花纹,若干个同心圆环包括有实心圆环带和空心圆环带。进一步地,单个圆环由实心环带和空心环带组成,实心环带由相同材质制成,空心环带由若干个空心图形串联形成。进一步地,若干个空心图形串联时接触连接。进一步地,空心图形为规则图形或不规则图形。进一步地,规则图形为圆形、矩形、正多边形和三角形中的任一种。进一步地,单个圆环中,实心环带所围成的弧形角度为Y,空心环带所围成的弧形角度为X,Y和X的变化范围分别为0~360°,且X+Y=360°。进一步地,实心环带和空心环带设为相互接触或相互间断。进一步地,若干个同心圆环间隔均匀分布或非均匀间隔分布。一种使用如上述任一项所述的样品托生长金刚石多晶膜的方法,包括如下步骤:步骤一:对应等离子体球的分布,设置非均匀散热样品托;步骤二:将异质衬底放入样品托,使用MPCVD法生长多晶金刚石;步骤三:生长到设定厚度后,即得金刚石多晶膜。进一步地,步骤一中,通过改变样品托底部同心圆环的数量、间隔宽度、实心圆环带、空心圆环带宽度、容置槽深度和空心图形的形状大小,实现对应于等离子体球能量分布的非均匀散热。本专利技术的有益效果如下:1、本专利技术的样品托顶部开设有用于放置衬底的容置槽,样品托底部设有由若干个同心圆环间隔分布形成的花纹,若干个同心圆环包括有实心圆环带和空心圆环带,本专利技术结构简单,设计合理,与现有技术相比,本专利技术的样品托采用非对称式底部花纹,将本专利技术用于生长大面积金刚石多晶膜时,利用非均匀的底部散热来补偿由于等离子体球倾斜或偏移所导致的金刚石生长衬底的受热不均匀,以改善微波等离子体化学气相沉积设备外延金刚石多晶薄膜的厚度和晶向的均匀性,可实现大面积金刚石多晶膜的高质量均匀生长。2、本专利技术的生长方法,通过采用非对称式底部花纹的样品托实现非均匀的底部散热,可补偿由于等离子体球倾斜或偏移所导致的金刚石生长衬底的受热不均匀,保持整个异质外延金刚石多晶生长面的温度均匀,改善微波等离子体化学气相沉积设备外延金刚石多晶薄膜的厚度和晶向的均匀性,实现大面积金刚石多晶膜的高质量均匀生长。附图说明图1为本专利技术的结构示意图;图2为本专利技术底部结构示意图;图3为采用本专利技术样品托生长的金刚石多晶膜产品图;图4为图3样品中的位置1的拉曼光谱图的截图;图5为图3样品中的位置2的拉曼光谱图的截图;图6为图3样品中的位置3的拉曼光谱图的截图;图7为图3样品中的位置4的拉曼光谱图的截图;图8为图3样品中的位置5的拉曼光谱图的截图;图9为图3样品中的位置6的拉曼光谱图的截图;附图标记说明:1.样品托、2.实心环带、3.空心环带、4.容置槽。具体实施方式下面将结合附图对本专利技术作进一步的说明。如图1~图2所示,本实施例所述的用于MPCVD法生长金刚石多晶膜的样品托1,样品托1顶部开设有用于放置衬底的容置槽4,样品托1底部设有由若干个同心圆环间隔分布形成的花纹,若干个同心圆环包括有实心圆环带和空心圆环带,本实施例的若干个同心圆环由实心圆环带和空心圆环带两部分围成整个圆环,其效果作用于样品托1的底部时,在不同方向或位置具有不同的热传导能力,根据不同MPCVD设备等离子体球的倾斜和偏移情况,调整实心圆环带和空心圆环带的组合比例和位置,利用此对应的非均匀的底部散热来补偿样品托1上方金刚石异质外延衬底的非均匀受热,从而实现大面积金刚石多晶膜在均匀温度上外延生长,具体地,在本实施例中,采用一个2英寸钼制的样品托1,样品托1顶部设有存放异质衬底的容置槽4,容置槽4的直径为2英寸,深度为1mm,样品托1的整体厚度为8mm,在样品托1的底部加工有三个同心圆环,每个圆环之间的间隔为4mm凹槽,槽深1mm,每个圆环由两部分组成,第一部分是实心且材质均匀的实心环带2,实心环带2的宽度为4mm,第二部分是由空心圆形串联而成的空心环带3,空心圆图形的外径和内径分别为4mm和3.5mm,空心圆图形的圆心设有深度为1mm的凹槽,每个空心圆图形紧密连接,空心环带3和实心环带2之间非接触连接,三个同心圆环所对应的空心圆带3和实心环带2分别所围成弧度角度为X和Y,且X=180°和Y=180°,此实施例只是根据使用需求选择性设置的一个具体实施例,在其它实施例中,可根据不同使用需求,改变同心圆环的数量、间隔宽度、环带宽度、槽深、空心图形的形状大小以及X和Y的角度大小等。将此实例中的非均匀散热样品托1用于CornesSekiSDS6350MPCVD设备中,在直径2英寸和厚度3mm的<100>单晶硅衬底上异质本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种生长金刚石多晶膜用样品托,样品托顶部开设有用于放置衬底的容置槽,其特征在于,样品托底部设有由若干个同心圆环间隔分布形成的花纹,若干个同心圆环包括有实心圆环带和空心圆环带。/n

【技术特征摘要】
1.一种生长金刚石多晶膜用样品托,样品托顶部开设有用于放置衬底的容置槽,其特征在于,样品托底部设有由若干个同心圆环间隔分布形成的花纹,若干个同心圆环包括有实心圆环带和空心圆环带。


2.根据权利要求1所述的一种生长金刚石多晶膜用样品托,其特征在于,单个圆环由实心环带和空心环带组成,实心环带由相同材质制成,空心环带由若干个空心图形串联形成。


3.根据权利要求2所述的一种生长金刚石多晶膜用样品托,其特征在于,若干个空心图形串联时接触连接。


4.根据权利要求2所述的一种生长金刚石多晶膜用样品托,其特征在于,空心图形为规则图形或不规则图形。


5.根据权利要求4所述的一种生长金刚石多晶膜用样品托,其特征在于,规则图形为圆形、矩形、正多边形和三角形中的任一种。


6.根据权利要求2所述的一种生长金刚石多晶膜用样品托,其特征在于,单个圆环中,实心环带所围成的弧形角度为Y,空心环带所围...

【专利技术属性】
技术研发人员:丁雄傑王忠强王琦张国义
申请(专利权)人:北京大学东莞光电研究院
类型:发明
国别省市:广东;44

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