检测装置、光电经纬仪检测系统、航空机载光学平台检测系统制造方法及图纸

一种检测装置，包括支撑架、第一转动轴和光学目标组件；支撑架的结构为半圆形，支撑架的底部和第一转动轴固定连接；第一转动轴可带动支撑架转动；光学目标组件包括多个平行光管，多个平行光管均匀设于支撑架上，所有平行光管的光轴位于同一平面内，所有平行光管的光轴相交于支撑架的圆心。上述检测装置用于检测光学经纬仪或航空机载光学平台时，第一转动轴可以带动支撑架围绕检测光学经纬仪或航空机载光学平台进行转动，从而可以将动态检测和静态检测相结合，在一个检测装置上就能对多项技术指标进行检测，检测数据较全面。此外，还提供一种光电经纬仪检测系统和航空机载光学平台检测系统。

【技术实现步骤摘要】
检测装置、光电经纬仪检测系统、航空机载光学平台检测系统
本专利技术涉及光电设备
，尤其涉及一种检测装置、光电经纬仪检测系统、航空机载光学平台检测系统。
技术介绍
光电经纬仪光学测量系统主要指以光学成像原理采集飞行目标的信息，经处理得到所需弹道参数与目标特性参数，并获取飞行实况图像资料的专用测量系统。光电经纬仪是在一个二维运动的精密跟踪平台，承载主摄影系统、测角系统、传动系统、测距系统和红外、电视跟踪系统及瞄准镜等。其特点是刚度好，轴系精度高，能确保光电经纬仪对目标的具有快速捕获、高速平稳跟踪和获得高精度测量数据的功能。作为一种大型精密光学仪器，光电经纬仪研制，生产过程中，其各项技术指标的检测方法，检测设备尤为重要，只有科学、合理的方法和手段才能检测出光电经纬仪真实、有效、全面的数据，在光电经纬仪的检测过程中，检测架是多项指标必不可少的设备。通过检测架检测的光电经纬仪主要技术指标包括有：照准差，横轴差等静态测角精度检测，最低速度，最大速度，最大加速度，跟踪误差(数字引导)，主望远、红外、电视等光学系统的脱靶量测量精度，动态测角精度检本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测装置，其特征在于，包括支撑架、第一转动轴和光学目标组件；/n所述支撑架的结构为半圆形，所述支撑架的底部和所述第一转动轴固定连接；/n所述第一转动轴可带动所述支撑架转动；/n所述光学目标组件包括多个平行光管，所述多个平行光管均匀设于所述支撑架上，所有所述平行光管的光轴位于同一平面内，所有所述平行光管的光轴相交于所述支撑架的圆心。/n

【技术特征摘要】
1.一种检测装置，其特征在于，包括支撑架、第一转动轴和光学目标组件；
所述支撑架的结构为半圆形，所述支撑架的底部和所述第一转动轴固定连接；
所述第一转动轴可带动所述支撑架转动；
所述光学目标组件包括多个平行光管，所述多个平行光管均匀设于所述支撑架上，所有所述平行光管的光轴位于同一平面内，所有所述平行光管的光轴相交于所述支撑架的圆心。


2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述光学目标组件还包括转动单元，所述转动单元包括安装板、第二转动轴和平面反射镜，所述第二转动轴设于所述支撑架上，所述第二转动轴相对于所述支撑架可转动，所述安装板设于所述第二转动轴位于所述支撑架内的一端，所述平面反射镜设于所述安装板的一端，所述光学目标组件中的一个所述平行光管设于所述安装板的另一端，设于所述安装板上的所述平行光管的出射端面对所述平面反射镜设置，所述平行光管发射的光线经所述平面反射镜反射后通过所述支撑架的圆心。


3.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述光学目标组件的平行光管的数量为6个，6个所述平行光管分别为第一平行光管、第二平行光管、第三平行光管、第四平行光管、第五平行光管和第六平行光管，所述第二平行光管设于所述安装板远离所述平面反射镜的一端，所述第一平行光管、所述第二转动轴、所述第三平行光管、所述第四平行光管、所述第五平行光管和所述第六平行光管均匀设于所述支撑架上。


4.如权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述第一平行光管和所述第六水平...

【专利技术属性】
技术研发人员：李红光，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：吉林;22