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一种检测装置，包括支撑架、第一转动轴和光学目标组件；支撑架的结构为半圆形，支撑架的底部和第一转动轴固定连接；第一转动轴可带动支撑架转动；光学目标组件包括多个平行光管，多个平行光管均匀设于支撑架上，所有平行光管的光轴位于同一平面内，所有平行光...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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