本实用新型专利技术属于显示装置的技术领域，具体涉及一种Micro LED微型显示装置，包括像素和电源供给部，多个像素排列于显示区域形成像素部，电源供给部设置于显示区域的周围，多个像素通过电源线相连接，电源供给部通过电源线输出电源电压，每个像素包括第一电极和第二电机，第一电极和电源线之间连接有发光元件，第二电极连接有像素电路，第一电极和第二电极之间设置有检查晶体管，检查晶体管用于在被检查控制信号接通后检查像素的缺陷。本实用新型专利技术能够降低检查出缺陷像素信息的难度，有助于降低检查的成本，提高显示装置的良品率，从而提高产品的质量。
【技术实现步骤摘要】
一种MicroLED微型显示装置
本专利技术属于显示装置的
，具体涉及一种MicroLED微型显示装置。
技术介绍
随着信息化社会发展，对显示装置的要求不断增加，液晶显示装置、等离子显示装置、有机发光显示装置等各种类型的显示装置广泛被应用。最近对利用微型发光二极管的高分辨率显示装置，又称为˝微型显示装置˝的关注度不断增加。
技术实现思路
本专利技术的目的之一在于：针对现有技术的不足，提供一种MicroLED微型显示装置，能够降低检查出缺陷像素信息的难度，有助于降低检查的成本，提高显示装置的良品率，从而提高产品的质量。为了实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：一种MicroLED微型显示装置，包括像素和电源供给部，多个所述像素排列于显示区域形成像素部，所述电源供给部设置于所述显示区域的周围，多个所述像素通过电源线相连接，所述电源供给部通过所述电源线输出电源电压，每个所述像素包括第一电极和第二电机，所述第一电极和所述电源线之间连接有发光元件，所述第二电极连接有像素电路，所述第一电极和所述第二电极之间设置有检查晶体管，所述检查晶体管用于在被检查控制信号接通后检查所述像素的缺陷。作为本专利技术所述的一种MicroLED微型显示装置的一种改进，所述微型显示装置还包括驱动部，所述驱动部包括控制部、扫描驱动部、数据驱动部、检查驱动部及检查部，所述控制部控制所述扫描驱动部、所述数据驱动部、所述电源供给部、所述检查驱动部及所述检查部，所述扫描驱动部、所述数据驱动部、所述检查驱动部及所述检查部均连接于所述像素部。作为本专利技术所述的一种MicroLED微型显示装置的一种改进，所述检查部设置在所述电源供给部和所述电源线之间，所述检查部在所述检查晶体管接通时，对所述电源线的电流进行检查。本专利技术的有益效果在于，本专利技术包括像素和电源供给部，多个所述像素排列于显示区域形成像素部，所述电源供给部设置于所述显示区域的周围，多个所述像素通过电源线相连接，所述电源供给部通过所述电源线输出电源电压，每个所述像素包括第一电极和第二电机，所述第一电极和所述电源线之间连接有发光元件，所述第二电极连接有像素电路，所述第一电极和所述第二电极之间设置有检查晶体管，所述检查晶体管用于在被检查控制信号接通后检查所述像素的缺陷。附图说明图1为本专利技术的显示装置的结构示意图；图2为本专利技术的像素的电路图；图3为本专利技术的电源供给的电路图；其中：110-像素部；121-控制部；122-扫描驱动部；123-数据驱动部；124-电源供给部；125-检查驱动部；126-检查部。具体实施方式如在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定组件。本领域技术人员应可理解，硬件制造商可能会用不同名词来称呼同一个组件。本说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。如在通篇说明书及权利要求当中所提及的“包含”为一开放式用语，故应解释成“包含但不限定于”。“大致”是指在可接受的误差范围内，本领域技术人员能够在一定误差范围内解决技术问题，基本达到技术效果。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。在专利技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。以下结合附图对本专利技术作进一步详细说明，但不作为对本专利技术的限定。实施例1如图1~3所示，一种MicroLED微型显示装置，包括像素和电源供给部124，多个像素排列于显示区域形成像素部110，电源供给部124设置于显示区域的周围，多个像素通过电源线相连接，电源供给部124通过电源线输出电源电压，每个像素包括第一电极和第二电机，第一电极和电源线之间连接有发光元件，第二电极连接有像素电路，第一电极和第二电极之间设置有检查晶体管，检查晶体管用于在被检查控制信号接通后检查像素的缺陷。优选的，微型显示装置还包括驱动部，驱动部包括控制部121、扫描驱动部122、数据驱动部123、检查驱动部125及检查部126，控制部121控制扫描驱动部122、数据驱动部123、电源供给部124、检查驱动部125及检查部126，扫描驱动部122、数据驱动部123、检查驱动部125及检查部126均连接于像素部110；检查部126设置在电源供给部124和电源线之间，检查部126在检查晶体管接通时，对电源线的电流进行检查。显示装置可以包括：发光元件数组和驱动电路基板。发光元件数组可以与驱动电路基板相结合。显示装置可以是微型显示装置。发光元件数组可以包括多数发光元件。发光元件可以是发光二极管LED。发光元件可以是微型或纳米单位尺寸的发光二极管LED。半导体晶圆上可以成长多数发光二极管，以制造至少一个发光元件数组。因此，无需将发光二极管个别向驱动电路基板移送的情况下，将发光元件数组与驱动电路基板相结合的方式可以制造显示装置。在驱动电路基板可以排列各自与发光元件数组上的发光二极管相对应的像素电路。发光元件数组上的发光二极管和驱动电路基板上的像素电路可以以电连接的方式构成像素。像素部110可以布置在图像显示区域。像素部110所定形式可以包括：例如，矩阵形、之字形等以各种形式排列的多个像素PX。像素PX会发射一种颜色，例如，在红色、青色、绿色、白色中可发射一种颜色。像素PX除了红色、青色、绿色、白色以外也可以发射其它颜色。像素PX可以包括发光元件。发光元件也可以是子发光元件。例如，发光元件可以是发光二极管LED。发光元件可以发出单一峰值波长的光，也可以发出多数峰值波长的光。像素PX可以进一步包括与发光元件相连接的像素电路。像素电路可以包括至少一个薄膜晶体管和至少一个电容器等。像素电路可以以基板上的半导体叠层结构来实现。像素部110可以包括：向像素PX施加扫描信号的扫描线SLSLn、向像素PX施加发光控制信号的发光控制线EL-ELn以及向像素PX施加数据信号的数据线DL-DLm。另外，像素部110可以包括向像素PX施加检查控制信号的检查控制线CL-CLn。扫描线SL-SLn和发光控制线EL-ELn各自与在同一行排列的像素PX相连接，数据线DL-DLm各自与在同一列排列的像素PX相连接。驱动部具备像素部110周边的非显示区域，并可以驱动和控制像素部110。驱动部可以包括：控制部121、扫描驱动部122、数据驱动部123、电源供本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种Micro LED微型显示装置，其特征在于：包括像素和电源供给部/n(124)，多个所述像素排列于显示区域形成像素部(110)，所述电源供给部(124)/n设置于所述显示区域的周围，多个所述像素通过电源线相连接，所述电源供给/n部(124)通过所述电源线输出电源电压，每个所述像素包括第一电极和第二电/n极，所述第一电极和所述电源线之间连接有发光元件，所述第二电极连接有像/n素电路，所述第一电极和所述第二电极之间设置有检查晶体管，所述检查晶体/n管用于在被检查控制信号接通后检查所述像素的缺陷。/n
【技术特征摘要】
1.一种MicroLED微型显示装置，其特征在于：包括像素和电源供给部
(124)，多个所述像素排列于显示区域形成像素部(110)，所述电源供给部(124)
设置于所述显示区域的周围，多个所述像素通过电源线相连接，所述电源供给
部(124)通过所述电源线输出电源电压，每个所述像素包括第一电极和第二电
极，所述第一电极和所述电源线之间连接有发光元件，所述第二电极连接有像
素电路，所述第一电极和所述第二电极之间设置有检查晶体管，所述检查晶体
管用于在被检查控制信号接通后检查所述像素的缺陷。
2.如权利要求1所述的一种MicroLED微型显示装置，其特征在于：所述微
型显示装置还包括驱动部，所述驱动...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈廷仰，廖志洋，
申请(专利权)人：禹创半导体广州有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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