一种厚壁圆管内部残余应力的测量方法技术

本发明专利技术公开了一种厚壁圆管内部残余应力的测量方法，涉及残余应力检测领域。该方法包括以下步骤：测量圆管外表面残余应力真实值；车削圆管外表面，壁厚剥除h1；对圆管继续进行电解抛光，壁厚进一步剥除h2，形成对圆管进行第1次剥层后的新表面，测量此时新表面的半径值r

A method of measuring the residual stress in thick wall pipe

【技术实现步骤摘要】
一种厚壁圆管内部残余应力的测量方法
本专利技术公开了一种厚壁圆管内部残余应力的测量方法，涉及残余应力检测领域中的残余应力测量方法。
技术介绍
残余应力是指在消除外力或者不均匀温度场等作用后，物体内自相平衡的内应力。随着对残余应力的分析要求越来越高，仅仅测定工件表面的残余应力是不能说明问题的，人们更关注内部残余应力及残余应力沿层深的分布，准确测量厚壁管件的内部残余应力具有重大意义。目前对于厚壁圆管内部残余应力的测量方法可分为有损检测法和无损检测法两种。有损检测法会对工件造成一定的损伤或者破坏，包括钻孔法、剥层法等。无损法主要有中子衍射法、同步辐射法等，无损法的成本较高、所需设备昂贵。目前这些方法中，操作简单且适合工业应用测量厚壁圆形管件内部残余应力分布的为剥层法。但在剥层的过程中，剩余应力层残余应力会重新分布，因此需要对剥层测量得到的应力值进行修正计算，才能得到初始残余应力值。通过查阅国内外的文献，对于圆管内部残余应力的修正公式普遍采用如下公式：其中σz(r)、σt(r)、σr(r)本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种厚壁圆管内部残余应力的测量方法，所述圆管内表面半径值为a，外表面半径值为b，其特征在于，包括以下步骤：/n(1)测量圆管外表面残余应力真实值；/n(2)车削圆管外表面，壁厚剥除h1；/n(3)对圆管继续进行电解抛光，壁厚进一步剥除h2，形成对圆管进行第1次剥层后形成的新表面，测量此时新表面的半径值r

【技术特征摘要】
1.一种厚壁圆管内部残余应力的测量方法，所述圆管内表面半径值为a，外表面半径值为b，其特征在于，包括以下步骤：
(1)测量圆管外表面残余应力真实值；
(2)车削圆管外表面，壁厚剥除h1；
(3)对圆管继续进行电解抛光，壁厚进一步剥除h2，形成对圆管进行第1次剥层后形成的新表面，测量此时新表面的半径值r1；
(4)测量新表面残余应力测量值；
(5)采用改进的修正公式计算半径r1处的轴向、环向、径向残余应力真实值；
(6)重复步骤(2)至步骤(5)，直至ri＝1.2a，ri为对圆管进行第i次剥层后形成的新表面对应的半径值；
(7)计算得到圆管内表面轴向和环向残余应力真实值。


2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述改进的修正公式为：









其中，ri为对圆管进行第i次剥层后形成的新表面对应的半径值，σz(ri)、σt(ri)、σr(ri)为未剥层时半径ri处的轴向、环向、径向残余应力真实值，σ′z(ri)、σ′t(ri)为剥层后半径ri处的轴向、环向残余应力测量值。


3.根据权利要求1所述的测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：张津，连勇，徐伟生，
申请(专利权)人：北京科技大学，
类型：发明
国别省市：北京;11