一种止口凹凸台测量工具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种止口凹凸台测量工具，属于机械加工及装配辅助设备技术领域，包括止口凸台测量件和止口凹台测量件，所述止口凸台测量件包括凸台尺架，凸台尺架的端部相对设置有第一调整测砧和第二调整测砧，凸台尺架的端部还设置有标准校规表头；所述止口凹台测量件包括凹台尺架，所述凹台尺架的一端设置有可调整测砧，凹台尺架的另一端设置有标准校规表头；所述标准校规表头的零位数值是预先测量的止口凸台或止口凹台的尺寸，所述第一调整测砧、第二调整测砧以及可调整测砧呈直杆状。本实用新型专利技术具有能以较低成本快速测出止口浅凸台和止口浅凹台是否符合要求的尺寸精度的优点。

A measuring tool for the concave convex table

【技术实现步骤摘要】
一种止口凹凸台测量工具
本技术涉及一种止口凹凸台测量工具，属于机械加工及装配辅助设备

技术介绍
机械加工及装配过程中，很多零部件需要使用止口定位来保证装配的精度。由此，止口的精度将直接影响后期装配的精度，止口配合的凸台和凹台在加工中的尺寸和精度需要精确控制。常见的，对于止口凹凸台的精度控制通过加工过程中测量来掌控。目前，对于深度大于10mm的止口凹台，可以使用内径百分表来直接测量，然而对于台深小于10mm的止口凹台，由于内径百分表的尺体与工件干涉无法测量，只能使用三坐标测量机来测量；与止口凹台类似地，对于台深大于8mm的止口凸台，可使用外径千分尺来直接测量，然而对于台深小于8mm的止口凸台外径，由于外径千分尺的螺旋测微筒与工件干涉无法测量，只能通过三坐标测量机来测量。但是，不论止口凸台还是止口凹台，在使用三坐标测量机来测量时，需要对工件恒温后才能测量，因此在测量检验的时效性上，有一定的延迟，影响了测量效率，且使用三坐标测量机带来的成本较高。以上便是现有技术存在的不足之处。
技术实现思路
为解决以上技术上的不足，本技术提供了一种止口凹凸台测量工具，能以较低成本快速测出止口浅凸台和止口浅凹台是否符合要求的尺寸精度。本技术的技术方案如下：一种止口凹凸台测量工具，包括止口凸台测量件和止口凹台测量件，所述止口凸台测量件包括凸台尺架，凸台尺架的端部相对设置有第一调整测砧和第二调整测砧，凸台尺架的端部还设置有标准校规表头；所述止口凹台测量件包括凹台尺架，所述凹台尺架的一端设置有可调整测砧，凹台尺架的另一端设置有标准校规表头；所述标准校规表头的零位数值是预先测量的止口凸台或止口凹台的尺寸，所述第一调整测砧、第二调整测砧以及可调整测砧呈直杆状。本技术的技术方案还包括：所述凹台尺架与可调整测砧通过螺纹连接，所述螺纹位置安装有锁紧螺母和调整螺母。本技术的技术方案还包括：所述凹台尺架呈直杆状。本技术的技术方案还包括：所述凸台尺架呈半圆环状，凸台尺架的两端相对设置，第一调整测砧和第二调整测砧分别位于凸台尺架的两端。本技术的有益效果是：通过在止口凸台测量件和止口凹台测量件上分别安装已经将预先测量的止口凸台和止口凹台尺寸作为零位数值的标准校规表头，即提供了测量时的基础零位，且将与工件接触的测量杆设置成直杆状的第一调整测砧、第二调整测砧以及可调整测砧，由此，在测量较小尺寸的浅止口凸台和浅止口凹台时，只需将第一调整测砧和第二调整测砧对准浅止口凸台外径，或将可调整测砧放入浅止口凹台内即可，之后通过对比和标准校规表头的表显差值，即可测量出浅止口凸台和浅止口凹台的直径，既避免了工件温度条件的等待，又免去了使用三坐标测量机的高成本，可快速准确的测量出浅止口凹凸台的尺寸，以确保后续装配的尺寸精度。附图说明图1是本技术止口凸台测量件的示意图。图2是本技术止口凹台测量件的示意图。1、止口凸台测量件，11、凸台尺架，12、第一调整测砧，13、第二调整测砧；2、止口凹台测量件，21、凹台尺架，22、锁紧螺母，23、调整螺母，24、螺纹，25、可调整测砧；3、标准校规表头。具体实施方式以下结合附图，通过实施例对本技术作进一步说明。如图1和图2所示，本技术的止口凹凸台测量工具，包括止口凸台测量件1和止口凹台测量件2，其中，止口凸台测量件1包括凸台尺架11，具体地，凸台尺架11呈半圆环状，且凸台尺架11的两端相对设置，在凸台尺架11的两端分别设置有直杆状的第一调整测砧12和第二调整测砧13，另外，在凸台尺架11的其中一端上安装有标准校规表头3，其中，标准校规表头3的零位数值是预先测量的加工后止口凸台的尺寸。止口凹台测量件2包括直杆状的凹台尺架21，在凹台尺架21的一端设置有直杆状的可调整测砧25，在凹台尺架21的另一端设置有标准校规表头3，其中，标准校规表头3的零位数值是预先测量的加工后止口凹台的尺寸。具体地，凹台尺架21通过螺纹24与可调整测砧25连接，且在螺纹24位置安装有锁紧螺母22和调整螺母23。当需要测量浅止口凸台时，测量人员手握凸台尺架11，并将第一调整测砧12和第二调整测砧13放在浅止口凸台的两侧与其直径卡准，之后读出标准校规表头3上的数显差值即可，如无差值则代表被测量浅止口凸台尺寸达标，有差值则代表尺寸精度不合格。类似地，在需要测量浅止口凹台时，测量人员手持凹台尺架21，转动调整螺母23将可调整测砧25放入浅止口凹台后，固定锁紧螺母22，之后读出标准校规表头3的数显差值即可，无差值达标工件合格，有差值代表工件尺寸精度不合格。以上所述，仅是本技术的较佳实施例，并非对本技术做任何形式上的限制，凡在本技术的精神和原则之内所做任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种止口凹凸台测量工具，包括止口凸台测量件（1）和止口凹台测量件（2），其特征在于：所述止口凸台测量件（1）包括凸台尺架（11），凸台尺架（11）的端部相对设置有第一调整测砧（12）和第二调整测砧（13），凸台尺架（11）的端部还设置有标准校规表头（3）；所述止口凹台测量件（2）包括凹台尺架（21），所述凹台尺架（21）的一端设置有可调整测砧（25），凹台尺架（21）的另一端设置有标准校规表头（3）；所述标准校规表头（3）的零位数值是预先测量的止口凸台或止口凹台的尺寸，所述第一调整测砧（12）、第二调整测砧（13）以及可调整测砧（25）呈直杆状。/n

【技术特征摘要】
1.一种止口凹凸台测量工具，包括止口凸台测量件（1）和止口凹台测量件（2），其特征在于：所述止口凸台测量件（1）包括凸台尺架（11），凸台尺架（11）的端部相对设置有第一调整测砧（12）和第二调整测砧（13），凸台尺架（11）的端部还设置有标准校规表头（3）；所述止口凹台测量件（2）包括凹台尺架（21），所述凹台尺架（21）的一端设置有可调整测砧（25），凹台尺架（21）的另一端设置有标准校规表头（3）；所述标准校规表头（3）的零位数值是预先测量的止口凸台或止口凹台的尺寸，所述第一调整测砧（12）、第二调整测砧（13）以及可调整测砧（25）...

【专利技术属性】
技术研发人员：张景晓，牛余兵，李支领，高宁，张鹏，高爱悦，
申请(专利权)人：伊莱特能源装备股份有限公司，
类型：新型
国别省市：山东;37