一种测试电路结构及天线测试方法技术

技术编号:24589029 阅读:60 留言:0更新日期:2020-06-21 02:20
本申请公开了一种测试电路结构,所述测试电路结构包括:射频模块、多个天线单元、多个天线匹配电路和阻抗匹配电路,所述射频模块通过所述天线匹配电路与所述天线单元电连接,所述阻抗匹配电路与所述天线匹配电路、所述天线单元电连接,本申请实施例还公开了一种天线测试方法,能够应用于本申请实施例提供的测试电路结构;通过本申请实施例提供的测试电路结构,能够在需要对终端存在多个天线的情况下,对多个天线中的其中一天线进行调试测试的情况下,通过在无需检测的天线跟射频模块之间增加一组阻抗匹配电路,通过本申请实施例提供的阻抗匹配电路将阻抗直接接到地,能够降低调试时的误差,从而提升多个天线在调试测试的精准度。

A test circuit structure and antenna test method

【技术实现步骤摘要】
一种测试电路结构及天线测试方法
本申请实施例涉及通讯
,尤其涉及一种测试电路结构及天线测试方法。
技术介绍
随着技术的发展,手机与平板等移动终端日益成为人们在生活与工作中不可或缺的电子设备。无论对于是手机还是平板来说,这些移动终端设备中都设置有多个天线,比如WIFI、GPS、主天线、分集天线等,而多个频率接近的天线之间是存在互扰影响的,导致调试测试天线时会不准确。在对现有技术的研究和实践过程中,本申请实施例的专利技术人发现,目前行业内工程师在调试测试天线的时候,通常要外接一个50Ω负载,如在提供测试样机给认证机构测试的时候,也是需要焊接同轴线。比如工程师调试一款同时具有主天线和分集天线的手机,在调试主天线的时候,要在分集天线上增加50Ω负载,这样调试出来的主天线才准确,然而外接50Ω负载,由于还要增加一段同轴线,如果同轴线弯折,会给调试带来错误因素,从而影响天线调试性能,导致调试测试准确性低。
技术实现思路
本申请实施例提供一种测试电路结构及天线测试方法,可以通过接入阻抗匹配电路来对电路进行测试,能够降低调试时本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试电路结构,其特征在于,所述测试电路结构,包括:射频模块、多个天线单元、多个天线匹配电路和阻抗匹配电路,所述射频模块通过所述天线匹配电路与所述天线单元电连接,所述阻抗匹配电路与所述天线匹配电路、所述天线单元电连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试电路结构,其特征在于,所述测试电路结构,包括:射频模块、多个天线单元、多个天线匹配电路和阻抗匹配电路,所述射频模块通过所述天线匹配电路与所述天线单元电连接,所述阻抗匹配电路与所述天线匹配电路、所述天线单元电连接。


2.根据权利要求1所述的测试电路结构,其特征在于,所述阻抗匹配电路包括阻抗电阻与阻抗电容,所述阻抗匹配电路的GND脚接地。


3.根据权利要求1所述的测试电路结构,其特征在于,所述天线单元包括第一天线单元与第二天线单元,所述天线匹配电路包括第一天线匹配电路与第二天线匹配电路;所述第一天线单元通过所述第一天线匹配电路与所述射频模块电连接,所述第二天线单元通过所述第二天线匹配电路与所述射频模块电连接;所述阻抗匹配电路串联在所述天线单元与所述天线匹配电路之间。


4.根据权利要求1所述的测试电路结构,其特征在于,所述测试电路结构还包括主板,所述主板与所述射频模块电连接,其中,所述阻抗匹配电路的阻抗值与主板电路的输入阻抗值相等。


5.一种天线测试方法,应用于权利要求1至权利要求4所述的测试电路结构,其特征在于,包括:
阻抗匹配电路按照调试对象与连接规则与多个天线匹配电路、多个天线单元电连接,生成测试电路;
调试所述天线单元。


6.根据权利要求5所述的方法,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐健华冯旭
申请(专利权)人:捷开通讯深圳有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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