本发明专利技术提供一种天线的测试装置，其包括一耦合天线及一网络分析仪，其中该网络分析仪通过一数据线与该耦合天线连接。该耦合天线用于在测试过程中，接收该网络分析仪上产生的入射波，在该入射波的作用下该耦合天线与待测天线发生感应作用，影响该耦合天线的辐射阻抗，从而影响该耦合天线的反射波。该网络分析仪根据入射波与耦合天线反馈的反射波获得一驻波比。本发明专利技术还揭露了一种利用该天线测试装置测试天线性能的方法。本发明专利技术提供的天线的测试装置及方法由于无需将天线与测试仪器网络分析仪（VNA）进行物理连接，从而大大减小了天线损坏的可能性，另外对于设置于产品内的天线出现异常需要异常，也不需要拆开产品，大大节省了成本。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种。
技术介绍
当前天线的测试通过无源测试来判断天线的好坏，具体为将天线与测试仪器网络 分析仪（VNA)进行物理连接，直接测出VSWR等相关参数。该测试方法需物理连接，较不方 便，另外，物理连接容易损坏天线。再者，当前手持式设备的天线都在产品内部，在产品闭合 前，无线产品的最终测试都是在天线连接下的辐射测试，如果天线异常需要检查，就要拆开 产品进行物理连接测试，造成成本增加。
技术实现思路
有鉴于此，提供一种成本较低且测试较方便的天线测试装置。 另，有必要提供一种利用该天线测试装置测试天线性能的方法。 -种天线测试装置，其包括一网络分析仪及一耦合天线，该耦合天线通过一数据 线与所述网络分析仪相连接，所述网络分析仪产生一入射波，所述耦合天线在该入射波的 作用下与待测天线产生感应作用，影响所述耦合天线的辐射阻抗，从而影响所述耦合天线 的反射波，该网络分析仪根据入射波与所述耦合天线反馈的反射波获得一驻波比。 一种天线测试方法，该方法包括如下步骤： 提供一种天线测试装置，所述天线测试装置包括一耦合天线及一网络分析仪，其 中所述网络分析仪通过一数据线与所述耦合天线连接；设置参考天线于距所述耦合天线一 预设距离处；控制所述网络分析仪产生一入射波于所述耦合天线，使得所述耦合天线在该 入射波的作用下与参考天线发生感应作用，并反馈一反射波于所述网络分析仪中；根据该 入射波与反射波获得一上限参考驻波比及一下限参考驻波比并显示于所述网络分析仪中； 取下参考天线，放置一待测天线；控制所述网络分析仪产生所述入射波于所述耦合天线，使 得所述耦合天线在该入射波的作用下与待测天线发生感应作用，并反馈一反射波于所述网 络分析仪中；所述网络分析仪根据所述入射波与所述反射波得到一驻波比；比较该驻波比 与一上限参考驻波比及一下限参考驻波比来判断待测天线是否合格。 相较于现有技术，该天线测试装置利用耦合天线在入射波的作用下与待测天线发 生感应作用，并反馈一反射波于该网络分析仪中；网络分析仪根据入射波与反射波得到一 驻波比，进而判断该待测天线的性能。该天线测试装置无需将天线与测试仪器网络分析仪 (VNA)进行物理连接，大大减小了天线损坏的可能性，另外对于设置于产品内的天线出现异 常需要异常，也不需要拆开产品，大大节省了成本。【附图说明】 图1是本专利技术天线测试装置的实施方式示意图。 图2是本专利技术天线测试方法实施方式流程图。 toon] 主要元件符号说明【主权项】1. 一种天线测试装置，该天线测试装置包括一网络分析仪，其特征在于，所述天线测试 装置还包括一耦合天线，该耦合天线与所述网络分析仪通过一数据线连接；所述网络分析 仪用于产生一入射波；所述耦合天线接收所述入射波并与待测天线发生感应作用，并反馈 一反射波于所述网络分析仪中；所述网络分析仪根据所述入射波与所述反射波得到一驻波 t匕，若该驻波比在一上限参考驻波比及一下限参考驻波比的范围内，则该待测天线合格。2. -种天线测试方法，应用于一天线测试装置中，该方法包括以下步骤： 提供一网络分析仪及一耦合天线，其中该网络分析仪通过一数据线与该耦合天线连 接； 设置待测天线于距该耦合天线一预设距离处； 控制该网络分析仪产生一入射波于该耦合天线，使得该耦合天线在该入射波的作用下 与待测天线发生感应作用，并反馈一反射波于该网络分析仪中； 根据该入射波与反射波获得一驻波比并显示于所述网络分析仪； 比较该驻波比与一上限参考驻波比与一下限参考驻波比； 若该驻波比在该上限参考驻波比及该下限参考驻波比的范围内，则该待测天线合格， 反之，不合格。3. 如权利要求2所述的天线测试方法，其特征在于：所述数据线为RFcable。4. 如权利要求2所述的天线测试方法，其特征在于：所述预设距离的范围为小于或等 于 2cm。5. 如权利要求2所述的天线测试方法，其特征在于：所述预设距离为lcm。6. 如权利要求2所述的天线测试方法，其特征在于：该天线测试方法还包括获取上限 参考驻波比及下限参考驻波比步骤，其中，该获取上限参考驻波比及下限参考驻波比步骤 还包括以下步骤： 设置一参考天线于所述耦合天线一预设距离处； 控制该网络分析仪产生一入射波于该耦合天线，使得该耦合天线在该入射波的作用下 与参考天线发生感应作用，并反馈一反射波于该网络分析仪中；及 根据该入射波与反射波获得所述一上限参考驻波比及所述一下限参考驻波比并显示 于所述网络分析仪中。7. 如权利要求2所述的天线测试方法，其特征在于：该网络分析仪产生入射波频率的 范围为 700-2600MHZ。【专利摘要】本专利技术提供一种天线的测试装置，其包括一耦合天线及一网络分析仪，其中该网络分析仪通过一数据线与该耦合天线连接。该耦合天线用于在测试过程中，接收该网络分析仪上产生的入射波，在该入射波的作用下该耦合天线与待测天线发生感应作用，影响该耦合天线的辐射阻抗，从而影响该耦合天线的反射波。该网络分析仪根据入射波与耦合天线反馈的反射波获得一驻波比。本专利技术还揭露了一种利用该天线测试装置测试天线性能的方法。本专利技术提供的天线的测试装置及方法由于无需将天线与测试仪器网络分析仪（VNA）进行物理连接，从而大大减小了天线损坏的可能性，另外对于设置于产品内的天线出现异常需要异常，也不需要拆开产品，大大节省了成本。【IPC分类】G01R27-06, G01R31-00【公开号】CN104833869【申请号】CN201410049239【专利技术人】钱宪 【申请人】富泰华工业（深圳）有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司【公开日】2015年8月12日【申请日】2014年2月12日【公告号】US20150226777本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种天线测试装置，该天线测试装置包括一网络分析仪，其特征在于，所述天线测试装置还包括一耦合天线，该耦合天线与所述网络分析仪通过一数据线连接；所述网络分析仪用于产生一入射波；所述耦合天线接收所述入射波并与待测天线发生感应作用，并反馈一反射波于所述网络分析仪中；所述网络分析仪根据所述入射波与所述反射波得到一驻波比，若该驻波比在一上限参考驻波比及一下限参考驻波比的范围内，则该待测天线合格。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：钱宪，
申请(专利权)人：富泰华工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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