一种发射电平测试系统技术方案

本实用新型专利技术的实施例提供一种发射电平测试系统，包括：第一陪测样机、第二陪测样机、第一计算机以及第二计算机；所述第一陪测样机具有发射天线和接收天线，与所述第一计算机通信连接；所述第二陪测样机具有发射天线和接收天线，与所述第二计算机通信连接；所述第一陪测样机与所述第二陪测样机桥接。本实用新型专利技术的方案使用桥接待测样机、通过调节线路衰减来降低接收功率、然后通过读取局域网接口抓包检测收包数来实现测试最大发射电平。

A test system of transmitting level

【技术实现步骤摘要】
一种发射电平测试系统
本技术涉及测试系统领域，特别是指一种发射电平测试系统。
技术介绍
现有的测试主要是通过无线测试仪IQview/IQXel等专业的仪器设备来测试；具体方法如下：1)DUT(测试中设备)通过射频同轴电缆、衰减器连接到IQview、IQXel；2)通过测试软件控制IQview发各个模式下的数据包；3)使用命令，读取DUT的接收统计数据；4)逐步加大输入功率，直到丢包率达到阈值(10％)。现有测试方案有如下几个缺点：第一，需要购买IQview/IQXel等设备，价格非常的昂贵，且设备操作复杂，维护成本高，不经过专业培训难以达到保证测试质量；第二，读取样机统计数据，需要知道样机的底层命令。如果是购买来的竞争机型，基本不可能获取到命令。
技术实现思路
本技术提供了一种发射电平测试系统。使用桥接待测样机、通过调节线路衰减来降低接收功率、然后通过读取局域网接口抓包检测收包数来实现测试最大发射电平。为解决上述技术问题，本技术的实施例提供如下方案：一种发射电平测试系统，包括：第一陪测样机、第二陪测样机、第一计算机以及第二计算机；所述第一陪测样机具有发射天线和接收天线，与所述第一计算机通信连接；所述第二陪测样机具有发射天线和接收天线，与所述第二计算机通信连接；所述第一陪测样机与所述第二陪测样机桥接。可选的，所述第一陪测样机与所述第二陪测样机通过衰减器桥接。可选的，所述第二陪测样机的接收天线的接收电平＝第一陪测样机的发射天线的发射功率-线路的衰减功率-衰减器的衰减功率。可选的，所述衰减器的衰减范围可调节。可选的，所述第一陪测样机与所述第一计算机通过第一局域网通信连接。可选的，所述第二陪测样机与所述第二计算机通过第二局域网通信连接。本技术的上述方案至少包括以下有益效果：本技术的上述方案，使用桥接待测样机、通过调节线路衰减来降低接收功率、然后通过读取局域网接口抓包检测收包数来实现测试最大发射电平。附图说明图1为本技术的发射电平测试系统的架构示意图。具体实施方式下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。如图1所示，本技术的实施例提供一种发射电平测试系统，包括：第一陪测样机11、第二陪测样机12、第一计算机21以及第二计算机22；所述第一陪测样机11具有发射天线和接收天线，与所述第一计算机21通信连接；所述第二陪测样机12具有发射天线和接收天线，与所述第二计算机22通信连接；所述第一陪测样机11与所述第二陪测样机12桥接。本技术的该实施例中，所述第一陪测样机与所述第二陪测样机通过衰减器桥接。本技术的该实施例使用桥接待测样机，这里的待测样机分别为第一陪测样机11以及第二陪测样机、通过调节线路衰减来降低接收功率、然后通过读取局域网接口抓包检测收包数来实现测试最大发射电平。本技术的一可选实施例中，所述第二陪测样机的接收天线的接收电平＝第一陪测样机的发射天线的发射功率-线路的衰减功率-衰减器的衰减功率。可选的，所述衰减器的衰减范围可调节。可选的，所述第一陪测样机与所述第一计算机通过第一局域网(如图中的LAN1)通信连接。可选的，所述第二陪测样机与所述第二计算机通过第二局域网(如图中的LAN2)通信连接。本技术的上述实施例中，使用桥接待测样机、通过调节线路衰减来降低接收功率、然后通过读局域网接口抓包检测收包数来实现测试最大发射电平。本技术的上述实施例中，两个测试样机的接收电平和发射功率之间存在以下关系：接收电平＝发射功率-线路衰减-衰减器衰减。天线接收并解析出来的包转到LAN的过程中，丢包的概率无限接近于0；从LAN到发送天线也是如此。本技术的上述实施例中，陪测样机已经被校准，发射功率准确，且已经知道具体的发射功率值，计为A；两个陪测样机之间的线路的线缆Cable，要求Cable质量良好，屏蔽效果好，且线路衰减值已知，记为B；衰减器，衰减范围可调节，且设定衰减与实际衰减值吻合；测试环境，要求环境干扰，无干扰，最好在微波暗室或者屏蔽箱。上述发射电平测试系统测试原理如下：1)按照测试环境搭建测试拓扑，样机和陪测样机上电，并设置为待测的工作模式、信道；2)第一计算机(PC1)使用发包工具发送1000个包到第二计算机(PC2)，在PC2抓包并读取接收到的包数；3)缓慢增大衰减值，重复步骤2)，直到抓取到的报文少于900个(即丢包率为10％)；4)读取衰减器上的衰减值，记为C；测试结果：测试样机的最大接收电平D＝A-B-C。本技术的上述发射电平测试系统无需IQview、IQxel等专业测试设备。对测试人员技术要求低，测试成本低，风险低。测试中只需要保证陪测样机的发射功率准确，线路衰减准确即可；无需底层命令。既可以用来测试自家研发的样机，也可以用来测试市面上购买的竞争机型。以上所述是本技术的优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种发射电平测试系统，其特征在于，包括：第一陪测样机、第二陪测样机、第一计算机以及第二计算机；/n所述第一陪测样机具有发射天线和接收天线，与所述第一计算机通信连接；/n所述第二陪测样机具有发射天线和接收天线，与所述第二计算机通信连接；/n所述第一陪测样机与所述第二陪测样机桥接。/n

【技术特征摘要】
1.一种发射电平测试系统，其特征在于，包括：第一陪测样机、第二陪测样机、第一计算机以及第二计算机；
所述第一陪测样机具有发射天线和接收天线，与所述第一计算机通信连接；
所述第二陪测样机具有发射天线和接收天线，与所述第二计算机通信连接；
所述第一陪测样机与所述第二陪测样机桥接。


2.根据权利要求1所述的发射电平测试系统，其特征在于，所述第一陪测样机与所述第二陪测样机通过衰减器桥接。


3.根据权利要求2所述的发射电平测试系统，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘王幸，邓华，陈薪任，
申请(专利权)人：中移物联网有限公司，中国移动通信集团有限公司，
类型：新型
国别省市：重庆;50