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一种测试电路结构及天线测试方法技术
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文档序号:24589029
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本申请公开了一种测试电路结构,所述测试电路结构包括:射频模块、多个天线单元、多个天线匹配电路和阻抗匹配电路,所述射频模块通过所述天线匹配电路与所述天线单元电连接,所述阻抗匹配电路与所述天线匹配电路、所述天线单元电连接,本申请实施例还公开了一...
该专利属于捷开通讯(深圳)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过捷开通讯(深圳)有限公司授权不得商用。
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