当前位置: 首页 > 专利查询>汪若洁专利>正文

一种测量电介质击穿电压的样品夹具制造技术

技术编号:24577564 阅读:28 留言:0更新日期:2020-06-21 00:36
本实用新型专利技术涉及一种测量电介质击穿电压的样品夹具,包括嵌入式配合的上环绝缘盖和下环绝缘底座、纵向对称配置的上电极和下电极、镶嵌于上电极顶部的绝缘球和固定下电极至下环绝缘底座的电极螺杆;所述的上环绝缘盖内设置纵向圆形通孔,所述的上电极放置在纵向圆形通孔内,所述的下环绝缘底座内设置纵向T形通孔,所述的下电极放置在纵向T形通孔,所述的上环绝缘盖和下环绝缘底座盖合后的形成的中间密闭空间用于放置待测样品。本实用新型专利技术的结构操作简易、安全性高、持久耐用,可以快速准确地放置待测样品,用于测试多种不同形状的样品,如:圆环、扇形和小型物件等。

A sample clamp for measuring dielectric breakdown voltage

【技术实现步骤摘要】
一种测量电介质击穿电压的样品夹具
本技术涉及电介质领域,具体为一种测量电介质击穿电压的样品夹具。
技术介绍
击穿电压顾名思义即使电介质击穿的电压,是电容器的极限电压,超过这个电压,电容器内的介质将被击穿,电容器在不高于击穿电压下工作都是安全可靠的。方便快速地测量出电介质的耐压强度将会大大提高实验效率。夹具是迅速、方便、安全地安装样品的装置,它是测量击穿电压的基础,测量过程中用来固定样品,使之占有正确的位置。目前,公知的夹具构造是由一个杯状绝缘装置以及左右对称设置的电极(用于接触并连接样品和高压电源)、以及用于固定电极的紧固镶嵌结构等组成。这些夹具存在下列问题:1.在硅油中纵向电极不易固定样品;2.与样品接触的电极端面积过大;3.密封性差,易受外界影响;4.与高压电源连接的电极端裸露在外,存在安全隐患;因此,设计一种操作简易、安全性高、持久耐用的测量电介质击穿电压的样品夹具是本技术专利的核心所在。
技术实现思路
为了解决以上所暴露的问题,本技术的目的在于:提供一种测量电介质击本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量电介质击穿电压的样品夹具,其特征在于:包括嵌入式配合的上环绝缘盖和下环绝缘底座、纵向对称配置的上电极和下电极、镶嵌于上电极顶部的绝缘球和固定下电极至下环绝缘底座的电极螺杆;所述的上环绝缘盖内设置纵向圆形通孔,所述的上电极放置在纵向圆形通孔内,所述的下环绝缘底座内设置纵向T形通孔,所述的下电极放置在纵向T形通孔,所述的上环绝缘盖和下环绝缘底座盖合后的形成的中间密闭空间用于放置待测样品。/n

【技术特征摘要】
1.一种测量电介质击穿电压的样品夹具,其特征在于:包括嵌入式配合的上环绝缘盖和下环绝缘底座、纵向对称配置的上电极和下电极、镶嵌于上电极顶部的绝缘球和固定下电极至下环绝缘底座的电极螺杆;所述的上环绝缘盖内设置纵向圆形通孔,所述的上电极放置在纵向圆形通孔内,所述的下环绝缘底座内设置纵向T形通孔,所述的下电极放置在纵向T形通孔,所述的上环绝缘盖和下环绝缘底座盖合后的形成的中间密闭空间用于放置待测样品。


2.根据权利要求1所述的一种测量电介质击穿电压的样品夹具,其特征在于:
所述的上环绝缘盖包括第一实心圆柱体以及设置在第一实心圆柱体下方的圆环,所述的第一实心圆柱体内设置纵向圆形通孔,所述的圆环的内径大于纵向圆形通孔的直径且小于第一实心圆柱体的直径;
所述的下环绝缘底座包括第二实心圆柱体,所述的第二实心圆柱体内设有纵向T形通孔和横向圆形通孔,所述的T形通孔由上圆形通孔和下圆形通孔组成,所述的下圆形通孔的直径小于上圆形通孔的直径,所述的横向圆形通孔与下圆形通孔垂直联通设置;
所述的圆环的外径与上圆形通...

【专利技术属性】
技术研发人员:汪若洁
申请(专利权)人:汪若洁
类型:新型
国别省市:安徽;34

相关技术
    暂无相关专利
网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1