【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】对制成物体进行在线尺寸控制的方法和设备
本专利技术涉及通过X射线对形成一系列物体的相同性质的制成物体(manufacturedobject,被制造的物体)进行尺寸控制的领域。
技术介绍
本专利技术的目的尤其旨在通过X射线获得对线性尺寸的测量,也就是说,获得对在一般意义上的诸如容器、模制或加工部件、机械部件、包装、车体(bodywork)元件等制成物体上所得的长度的测量。现有技术已知允许通过X射线对物体进行尺寸控制的各种技术。行李检查系统也是已知的,行李检查系统不是旨在测量已知物体的尺寸,而是旨在检测呈几乎随机排列、形状和数量的违禁物体或违禁材料量。因此已知轴向旋转系统,其包括计算机辅助断层成像或CT(“计算机断层成像”)。这种传统方法在JPKruth(1)等人在2011年《CIRP年鉴》第60卷第2期第821-842页上的“Computedtomographyfordimensionalmetrology(用于尺寸测量的计算机断层扫描)”一文中被描述,并且例如通过市场上由WerthMesstechnik或GeneralElectric公司销售的断层扫描装置来实施。该方法包括围绕X射线发生器管与矩阵或线性X射线图像传感器之间的垂直轴线将物体定位在转台上。在旋转过程中获取物体的大量的(至少100个,且通常超过600个)2D射线图像(radiographicimage,射线照相图像)。如果图像传感器是矩阵图像传感器,则(射线)束(beam)是圆锥形的。如果图像传感器是线性图像传感器,则对于螺旋型的完 ...
【技术保护点】
1.一种用于自动测量一系列制成物体(2)的线性尺寸的方法,包括:/n-选择一系列制成物体(2),其中每个所述物体由在所述物体的所有点上具有恒定衰减系数的材料制成;/n-从其中至少一个线性尺寸待测量的所述物体中选择至少一个待检查区域;/n-借助运输装置,在沿着输送平面(Pc)中的基本直线轨迹的位移方向(T)上运输移动的所述物体,这些物体在其位移期间生成输送体积(Vt);/n-将X射线发生器管和多个图像传感器(Cji)的至少一个焦点(Fj)定位在所述输送体积(Vt)之外,每个所述图像传感器暴露于从相关的焦点(Fj)获得的X射线并且对所述X射线敏感,这些X射线至少已经穿过所述待检查区域,从而在每个所述图像传感器上产生沿投影方向(Dji)的射线投影;/n-针对处于其位移期间的每个物体,使用所述图像传感器(Cji)获取所述待检查区域的至少三个射线图像,所述至少三个射线图像从所述待检查区域的至少三个射线投影获得,其投影方向(Dji)彼此不同;/n-使用计算机系统分析所述至少三个射线图像;/n-向所述计算机系统提供用于所述系列的物体的待检查区域的先验几何模型;/n-使用所述计算机系统,考虑到恒定的衰 ...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171027 FR 17601751.一种用于自动测量一系列制成物体(2)的线性尺寸的方法,包括:
-选择一系列制成物体(2),其中每个所述物体由在所述物体的所有点上具有恒定衰减系数的材料制成;
-从其中至少一个线性尺寸待测量的所述物体中选择至少一个待检查区域;
-借助运输装置,在沿着输送平面(Pc)中的基本直线轨迹的位移方向(T)上运输移动的所述物体,这些物体在其位移期间生成输送体积(Vt);
-将X射线发生器管和多个图像传感器(Cji)的至少一个焦点(Fj)定位在所述输送体积(Vt)之外,每个所述图像传感器暴露于从相关的焦点(Fj)获得的X射线并且对所述X射线敏感,这些X射线至少已经穿过所述待检查区域,从而在每个所述图像传感器上产生沿投影方向(Dji)的射线投影;
-针对处于其位移期间的每个物体,使用所述图像传感器(Cji)获取所述待检查区域的至少三个射线图像,所述至少三个射线图像从所述待检查区域的至少三个射线投影获得,其投影方向(Dji)彼此不同;
-使用计算机系统分析所述至少三个射线图像;
-向所述计算机系统提供用于所述系列的物体的待检查区域的先验几何模型;
-使用所述计算机系统,考虑到恒定的衰减系数并根据所述待检查区域的至少三个射线图像和先验几何模型来确定用于所述系列的每个物体的所述待检查区域的数字几何模型,所述数字几何模型包括至少两个三维点,所述至少两个三维点各自属于所述待检查区域的边界表面并且位于不与所述投影方向Dji正交的平面中;
-从所述待检查区域的数字几何模型,为所述系列的每个物体确定所述待检查区域的至少一个线性尺寸测量值,作为所述至少两个三维点之间的距离,所述至少两个三维点各自属于所述待检查区域的边界表面并且位于不与所述投影方向(Dji)正交的平面中。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法包括确定数字几何模型,所述数字几何模型包括:
-空间的至少两个三维点,其各自属于所述待检查区域的边界表面,并且位于不与所述投影方向(Dji)正交且不与所述位移方向(T)平行的平面中;
-和/或所述待检查区域的至少一个三维表面,其包含不属于与所述投影方向(Dji)正交的平面并且不属于与所述位移方向(T)平行的平面的点;
-和/或所述待检查区域的至少一部分,其根据不同于与投影方向(Dji)正交的平面并且不同于与所述位移方向(T)平行的平面的平面。
3.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法包括:向所述计算机系统提供恒定衰减系数的值。
4.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法包括:向所述计算机系统提供用于所述系列的待检查区域的先验几何模型,所述先验几何模型由以下获得:
-用于所述系列的物体的计算机设计的数字模型;
-或通过测量装置对同一系列的一个或多个物体进行测量而获得的数字几何模型;
-或由所述计算机系统从输入的值和/或操作员在所述计算机系统的人机界面上选择的图形和/或形状生成的数字几何模型。
5.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,从中获得具有大于或等于120°的开口的发散型X射线束的焦点,或者从中获得的开口之和大于或等于120°的发散型X射线束的至少两个焦点被定位。
6.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法包括在所述输送平面(Pc)上布置至少一个焦点。
7.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法包括:
-在正交于所述输送平面(Pc)、与所述输送体积(Vt)相交的平面(Ps)的一侧上布置焦点(Fj),从所述焦点获得发散型X射线束,从而使得其射线束穿过相交的所述平面(Ps)和所述待检查区域;
-将与所述焦点(Fj)相关的至少一个图像传感器(Cji)布置在相对于相交的所述平面(Ps)的相对侧上,以接收从所述焦点(Fj)获得的X射线。
8.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法包括:
-将焦点(Fj)布置在所述输送平面(Pc)的一侧上,从所述焦点获得发散型X射线束,从而使得其射线束穿过所述输送平面(Pc);
-将与所述焦点(Fj)相关的至少一个图像传感器相对于所述输送平面(Pc)布置在相对侧上,以接收来自所述焦点(Fj)的X射线。
9.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法包括:针对处于其位移期间的所述系列的每个物体,使用所述图像传感器(Cji)获取对应于所述投影方向(Dji)的被检查区域的至少两个射线图像,所述投影方向限定大于或等于45°且小于或等于90°的有用角度(α),有利地大于或等于60°且小于或等于90°的有用角度(α)。
10.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法包括:针对处于其位移期间的所述系列的每个物体,使用所述图像传感器(Cji)获取对应于投影方向(Dji)的被检查区域的至少一个射线图像,所述投影方向相对于所述位移方向(T)具有处于10°与60°之间的打开角度(β)。
11.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法包括:针对处于其位移期间的所述系列的每个物体,使用图像传感器(Cji)没有获取对应于投影方向(Dji)的被检查区域的任何射线图像,所述投影方向相对于所述位移方向(T)具有小于10°的打开角度(β)。
12.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法包括:生成和获取物体的被检查区域的射线投影,从而使得来自所述焦点或多个所述焦点并到达所述图像传感器(Cji)的X射线不会穿过任何其他物体。
13.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法包括:针对处于其位移期间的所述系列的每个物体,使用所述图像传感器(Cji)获取不同方向的所述待检查区域的由三到四十个射线投影获得的射线图像。
14.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法包括:针对处于其位移期间的所述系列的每个物体,使用所述图像传感器(Cji)获取不同方向的所述待检查区域的由四到十五个射线投影获得的射线图像。
15.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法包括:
-所述图像传感器(Cji)是各自包括线性排列的X射线敏感元件的线性类型,所述X射线敏感元件沿着限定有相关的焦点(Fj)的支撑直线(Lji)分布,投影平面(Pji)包含所述投影方向(Dji),这些图像传感器被布置成:
-这些图像传感器中的每一个的至少m个敏感元件通过从相关的焦点(Fj)获得的所述X射线束来接收所述待检查区域的射线投影;
-用于不同传感器的所述投影平面(Pji)彼此不同,并且不平行于所述输送平面(Pc);
-使用至少三个线性图像传感器(Cji)中的每一个,在每个容器沿轨迹(T)的每个增量位移处,根据选择的数量获取所述待检查区域的线性射线图像,从而使得针对每个物体,整个所述待检查区域完全表现在所有的所述线性射线图像中;
-针对每个物体分析所述待检查区域的至少三组线性射线图像。
16.一种用于自动测量一系列制成物体的至少一个待检查区域的线性尺寸的设备,所述设备包括:
-在位移矢量具体化的...
【专利技术属性】
技术研发人员:L·科斯诺,O·科勒,
申请(专利权)人:蒂阿马公司,
类型:发明
国别省市:法国;FR
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