一种适配MHF插座的双浮动测试工装制造技术

本实用新型专利技术公开了一种适配MHF插座的双浮动测试工装，在测试工装导电外壳内部设置有导电插孔、测试插针以及外导体测试件，测试插针安装在所述导电插孔的内部；在导电插孔中还设置有用于使测试插针贴紧被测插座内导体的第一弹性连接部；在测试工装导电外壳中还设置有用于使外导体测试件贴紧被测插座外导体的第二弹性连接部；测试插针通过第一弹性连接部与导电插孔电连接；外导体测试件通过第二弹性连接部与测试工装导电外壳电连接；本实用新型专利技术提供的适配MHF插座的双浮动测试工装通过设置了第一弹性连接部与第二弹性连接部分别为测试插针以及外导体测试件提供了轴向上的伸缩距离以及回弹力，使测试工装与被测插座的可靠连接，降低了使用场景的限制。

A double floating test fixture for MHF socket

【技术实现步骤摘要】
一种适配MHF插座的双浮动测试工装
本技术涉及测试工装，具体涉及一种适配MHF插座的双浮动测试工装。
技术介绍
随着移动通信领域的快速发展，对通信产品的测试要求越来越高。现有技术中对MHF插座(同轴连接器插座)的测试一般包括内导体的导电测试以及外导体的导电测试，通常都是采用测试转接器进行测试，将测试转接器与MHF插座连接，通过查看测试转接器的导电外壳体是否通电来判断外导体是否导电，通过导电插孔中是否通电判断内导体是否导电。常规的测试转接器在测试过程中，转接器需适配固定长度的测试插针，而且测试对象单一，每次测试完成后需拆卸，不能适用与不同连接器不同板间距的测试，且不适用板间高密度小空间测试，因此现有技术中的测试工装转接器长度固定，不能浮动，在测试过程中，转接器插针与被测连机器插针点接触，接触不稳定，极大的影响了测试效率。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种适配MHF插座的双浮动测试工装，用以解决现有技术中的测试工装转接器长度固定，接触不稳定，影响测试效率等问题。为了实现上述任务，本技术采用以下技术方案：...

【技术保护点】
1.一种适配MHF插座的双浮动测试工装，包括测试工装导电外壳(1)，在所述的测试工装导电外壳(1)内部设置有导电插孔(7)、测试插针(2)以及外导体测试件(3)，所述的测试插针(2)安装在所述导电插孔(7)的内部；其特征在于，/n在所述的导电插孔(7)中还设置有用于使所述的测试插针(2)贴紧被测插座内导体的第一弹性连接部(4)；/n在所述的测试工装导电外壳(1)中还设置有用于使外导体测试件(3)贴紧被测插座外导体的第二弹性连接部(5)；/n所述的测试插针(2)通过第一弹性连接部(4)与所述的导电插孔(7)电连接；/n所述的外导体测试件(3)通过第二弹性连接部(5)与所述的测试工装导电外壳(1)...

【技术特征摘要】
1.一种适配MHF插座的双浮动测试工装，包括测试工装导电外壳(1)，在所述的测试工装导电外壳(1)内部设置有导电插孔(7)、测试插针(2)以及外导体测试件(3)，所述的测试插针(2)安装在所述导电插孔(7)的内部；其特征在于，
在所述的导电插孔(7)中还设置有用于使所述的测试插针(2)贴紧被测插座内导体的第一弹性连接部(4)；
在所述的测试工装导电外壳(1)中还设置有用于使外导体测试件(3)贴紧被测插座外导体的第二弹性连接部(5)；
所述的测试插针(2)通过第一弹性连接部(4)与所述的导电插孔(7)电连接；
所述的外导体测试件(3)通过第二弹性连接部(5)与所述的测试工装导电外壳(1)电连接。


2.如权利要求1所述的适配MHF插座的双浮动测试工装，其特征在于，所述的第一弹性连接部(4)包括用于提供回弹力的弹力件(4-1)以及导电体(4-2)；
在所述的导电插孔(7)的内部沿着导电插孔(7)的长度方向开设有用于容纳所述弹力件(4-1)以及导电体(4-2)的容纳空间(7-1)；
所述的弹力件(4-1)的一端与所述容纳空间(7-1)的一端固定连接，另一端与所述的导电体(4-2)连接；
所述的导电体(4-2)还与所述的测试插针(2)连接。


3.如权利要求2所述的适配MHF插座的双浮动测试工装，其特征在于，所述测试插针(2)与导电体(4-2)连接的一端设置有插针连接件(2-1)，所述的插针连接件(2-1)伸入所述的容纳空间(7-1)内部与所述的导电体(4-2)连接；
所述的第一弹性连接部(4)还包括用于防止所述插针连接件(2-1)伸出所述容纳空间(7-1)的第一限位件(4-3)。


4.如权利要求3所述的适配M...

【专利技术属性】
技术研发人员：武向文，王博，钱凯，
申请(专利权)人：中航富士达科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：陕西;61