一种转盘式Demura检测线制造技术

本实用新型专利技术公开了一种转盘式Demura检测线，其包括导轨，导轨至少一侧设置有多个沿其长度方向间隔布置的暗室，每个暗室内设置有Mura补偿装置，导轨上滑动配合连接有用于移送待测件的机械抓手，机械抓手位于导轨与暗室之间，机械抓手和暗室的下方设置有转盘，转盘上沿其周向设置有多组待测件定位工装。本实用新型专利技术能够有效地实现显示面板的全自动化批量检测且无需人工上下料，从而有效地提高了显示面板的检测效率。

A dial type demura detection line

【技术实现步骤摘要】
一种转盘式Demura检测线
本技术涉及一种Demura检测线，属于显示面板
，具体涉及一种转盘式Demura检测线。
技术介绍
随着显示面板行业风靡全球迅速发展，许多显示面板检测装置已经实现了自动化检测，如中国专利技术专利CN108957809A所公开的一种多工位旋转Demura设备，其将Mura补偿装置和转盘集成于一个平台内并配合承载装置从而实现了对显示面板的Mura补偿同时完成显示面板的换件，但是该装置需要人工上下件，其相对于自动化线体检测模式而言，仍然存在检测效率低的问题，故亟待开发一款通用线体检测站点模块装置，进而以此推广运用到各大面板行业集成线体中。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种转盘式Demura检测线，其能够有效地实现显示面板的全自动化批量检测且无需人工上下料，从而有效地提高了显示面板的检测效率。为解决上述技术问题，本技术采用了这样一种转盘式Demura检测线，其包括导轨，所述导轨至少一侧设置有多个沿其长度方向间隔布置的暗室，每个暗室内设置有Mura补偿装置，所述导轨上滑动配合连接有用于移送待测件的机械抓手，所述机械抓手位于所述导轨与所述暗室之间，所述机械抓手和所述暗室的下方设置有转盘，所述转盘上沿其周向设置有多组待测件定位工装。在本技术的一种优选实施方案中，多组待测件定位工装相对于转盘的中心轴线旋转对称布置。在本技术的一种优选实施方案中，所述转盘上旋转对称布置有两组待测件定位工装。在本技术的一种优选实施方案中，每组待测件定位工装包括平行布置的两个载板和点灯装置。在本技术的一种优选实施方案中，所述暗室包括上光机腔室和下治具封罩。在本技术的一种优选实施方案中，所述上光机腔室内设置有多个分腔室，分腔室的个数与待测件定位工装中载板的个数相对应，每个分腔室内设置有1个Mura补偿装置。在本技术的一种优选实施方案中，所述转盘上布置有n组待测件定位工装，至多n-1组待测件定位工装的上方设置有所述暗室。在本技术的一种优选实施方案中，所述导轨上滑动配合连接有多个机械抓手。本技术的有益效果是：本技术结构简单、使用方便，其通过将机械手、Mura补偿装置和带有待测件定位工装的转盘集成为线体系统，利用机械手实现待测件(即显示面板)的上下料，同时利用转盘实现了Mura补偿装置的检测和机械手上料的同步工作，因而极大地提高了显示面板检测线的工作效率，降低了工人的劳动强度；进一步的，本专利技术公开了一种转盘式Demura检测线的具体布置方案，其通过在转盘上旋转对称布置有两组待测件定位工装，且每组待测件定位工装包括平行布置的两个载板和点灯装置，其不仅能够在一组显示面板上料的同时实现另一组显示面板的检测，而且有效地降低了控制程序的复杂性，提高了设备使用的稳定性。附图说明图1是本技术实施例一种转盘式Demura检测线的剖视图；图2是本技术实施例一种转盘式Demura检测线的第一轴颈局部放大视图；图3是本技术实施例一种转盘式Demura检测线的第一轴颈示意图；图4是本技术实施例一种转盘式Demura检测线的凸轮片示意图；图5是本技术实施例一种转盘式Demura检测线的一字键槽示意图；图6是本技术实施例一种转盘式Demura检测线的俯视图；图中：1-导轨；2-暗室；3-Mura补偿装置；4-转盘；5-待测件定位工装；6-机械抓手；21-上光机腔室；22-下治具封罩；21.1-分腔室。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。由本技术的说明书附图可知，本技术公开了一种转盘式Demura检测线，其旨在提供一种包含自动上料、自动点屏、自动demura检测、自动demura修复、自动下料的全自动化显示面板检测线，从而有效地提高显示面板的检测效率，降低工人的劳动强度。实施例1本技术包括一条导轨1，该导轨1的两侧均设置有多个沿其长度方向间隔布置的暗室2，每个暗室2内设置有Mura补偿装置3，导轨1上滑动配合连接有用于移送待测件的机械抓手6，机械抓手6设置有多个，机械抓手6位于导轨1与暗室2之间，机械抓手6和暗室2的下方设置有转盘4，转盘4上沿其周向设置有2组待测件定位工装5，2组待测件定位工装5相对于转盘4的中心轴线旋转对称布置，每组待测件定位工装5包括平行布置的两个载板和点灯装置，当1组待测件定位工装5位于机械抓手6下方时，另外1组待测件定位工装5位于暗室2内，即在完成1组待测件定位工装5的同时实现另外1组待测件定位工装5的上料，转盘4旋转180度后，检测完毕的显示面板通过机械抓手6下线同时待测显示面板检测，依此循环。实施例2本技术包括一条导轨1，该导轨1的单侧均设置有多个沿其长度方向间隔布置的暗室2，每个暗室2内设置有Mura补偿装置3，导轨1上滑动配合连接有用于移送待测件的机械抓手6，机械抓手6设置有多个，机械抓手6位于导轨1与暗室2之间，机械抓手6和暗室2的下方设置有转盘4，转盘4上沿其周向设置有2组待测件定位工装5，2组待测件定位工装5相对于转盘4的中心轴线旋转对称布置，每组待测件定位工装5包括平行布置的两个载板和点灯装置，当1组待测件定位工装5位于机械抓手6下方时，另外1组待测件定位工装5位于暗室2内，即在完成1组待测件定位工装5的同时实现另外1组待测件定位工装5的上料，转盘4旋转180度后，检测完毕的显示面板通过机械抓手6下线同时待测显示面板检测，依此循环。实施例3本技术包括多条相互平行布置导轨1，任意相邻2条导轨1之间均设置有多个沿其长度方向间隔布置的暗室2，每个暗室2内设置有Mura补偿装置3，导轨1上滑动配合连接有用于移送待测件的机械抓手6，机械抓手6设置有多个，机械抓手6位于导轨1与暗室2之间，机械抓手6和暗室2的下方设置有转盘4，转盘4上沿其周向设置有4组待测件定位工装5，4组待测件定位工装5相对于转盘4的中心轴线旋转对称布置，每组待测件定位工装5包括平行布置的两个载板和点灯装置，当相对的2组待测件定位工装5位于机械抓手6下方时，另外相对的2组待测件定位工装5位于暗室2内，即在完成2组待测件定位工装5的同时实现另外2组待测件定位工装5的上料，转盘4旋转90度后，检测完毕的显示面板通过机械抓手6下线同时待测显示面板检测，依此循环。优选地，本技术的暗室2包括上光机腔室21和下治具封罩22，上光机腔室21内设置有多个分腔室21.1，分腔室21.1的个数与待测件定位工装5中载板的个数相对应，每个分腔室21.1内设置有1个Mura补偿装置3。需要指出，本技术的中导轨1、暗室2、Mura补偿装置3、转盘4、待测件定位工装5和机械抓手6均为现本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种转盘式Demura检测线，其特征在于：包括导轨(1)，所述导轨(1)至少一侧设置有多个沿其长度方向间隔布置的暗室(2)，每个暗室(2)内设置有Mura补偿装置(3)，所述导轨(1)上滑动配合连接有用于移送待测件的机械抓手(6)，所述机械抓手(6)位于所述导轨(1)与所述暗室(2)之间，所述机械抓手(6)和所述暗室(2)的下方设置有转盘(4)，所述转盘(4)上沿其周向设置有多组待测件定位工装(5)。/n

【技术特征摘要】
1.一种转盘式Demura检测线，其特征在于：包括导轨(1)，所述导轨(1)至少一侧设置有多个沿其长度方向间隔布置的暗室(2)，每个暗室(2)内设置有Mura补偿装置(3)，所述导轨(1)上滑动配合连接有用于移送待测件的机械抓手(6)，所述机械抓手(6)位于所述导轨(1)与所述暗室(2)之间，所述机械抓手(6)和所述暗室(2)的下方设置有转盘(4)，所述转盘(4)上沿其周向设置有多组待测件定位工装(5)。


2.根据权利要求1所述的一种转盘式Demura检测线，其特征在于：多组待测件定位工装(5)相对于转盘(4)的中心轴线旋转对称布置。


3.根据权利要求2所述的一种转盘式Demura检测线，其特征在于：所述转盘(4)上旋转对称布置有两组待测件定位工装(5)。


4.根据权利要求3所述的一种转盘式Demura检测线，其特征在于：每组待...

【专利技术属性】
技术研发人员：周小培，
申请(专利权)人：武汉精立电子技术有限公司，武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42