【技术实现步骤摘要】
一种激光三维焦平面阵列成像系统
本专利技术涉及激光探测成像
，具体涉及一种激光三维焦平面阵列成像系统。
技术介绍
激光探测成像是通过激光束对目标进行照射，目标的反射回波由探测器接收，通过信号处理获取目标至探测器的距离和速度等信息，进而获得区别于背景的距离图像和多普勒(速度)图像的一种新型探测成像技术。激光三维成像技术的基本原理是利用照射激光脉冲从探测场景中收集反射辐射线，完成对目标的三维立体像，以达到探测为目的的技术。它将主动成像提高到一个新的层面上，除了强度和角度的标准，还包括成像的范围。三维激光成像系统的高分辨率和准确度使得它能对三维图像做出精确的测量。可以直接获取姿态等二维成像难以获取的信息，利用三维几何形状可以解决对成像区域的目标和任务的识别和鉴定，并能将目标对象进行对比。APD阵列具有全固态结构、高量子效率等特点，且可以在高增益下保持良好的信噪比。基于APD阵列的激光三维成像采用激光对目标场景进行泛光照射，一次激光脉冲即可获得目标的三维图像。当APD的偏置电压低于其雪崩电压时，对入射光电子起到...
【技术保护点】
1.一种激光三维焦平面阵列成像系统，其特征在于，该系统包括控制电路、像素级时间信息测量阵列和通道级强度信息测量电路；其中，所述控制电路产生行选信号、列选信号以及激光脉冲开始信号；所述像素级时间信息测量阵列在激光脉冲开始信号的触发下开始测量时间信息；所述通道级强度信息测量电路在行选信号和列选信号的控制下测量强度信息并输出时间信息和强度信息。/n
【技术特征摘要】
20200103 CN 20201000548101.一种激光三维焦平面阵列成像系统，其特征在于，该系统包括控制电路、像素级时间信息测量阵列和通道级强度信息测量电路；其中，所述控制电路产生行选信号、列选信号以及激光脉冲开始信号；所述像素级时间信息测量阵列在激光脉冲开始信号的触发下开始测量时间信息；所述通道级强度信息测量电路在行选信号和列选信号的控制下测量强度信息并输出时间信息和强度信息。
2.根据权利要求1所述的一种激光三维焦平面阵列成像系统，其特征在于，所述控制电路包括中央时序控制模块、行选电路和列选电路；所述中央时序控制模块根据输入的主时钟信号和控制数据分别产生行选使能信号、列选使能信号以及激光脉冲开始信号；所述行选电路在行选使能信号的控制下产生依次选中每一行的行选信号；所述列选电路在列选使能信号的控制下产生依次选中每一列的列选信号。
3.根据权利要求1所述的一种激光三维焦平面阵列成像系统，其特征在于，所述像素时间信息测量阵列中每个像素都有其对应的时间信息测量电路，每个像素根据激光脉冲开始信号同时检测时间信息。
4.根据权利要求3所述的一种激光三维焦平面阵列成像...
【专利技术属性】
技术研发人员：周云，杨凯，闵道刚，张逸，阙隆成，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：四川;51
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