【技术实现步骤摘要】
一种电子产品的底壳检测装置
本申请涉及电子产品检测
,具体为一种电子产品的底壳检测装置。
技术介绍
目前,采用流水线的方式对电子产品底壳缺陷进行检测,通常是通过人工观察进行,但是在长时间的人工检测的过程中,会出现疲劳,产生漏检或错检的情况。鉴于此,克服该现有技术所存在的不足是本
亟待解决的问题。
技术实现思路
本申请主要解决的技术问题是提供一种电子产品的底壳检测装置,通过光源和图像采集单元之间的相互配合,对被测电子产品的底壳进行光学判断,对易混淆缺陷可进行区分;采用智能化的方式进行外观检测,可以提高准确性,而且可以有效避免人工检测所带来的漏检和错检。为解决上述技术问题,本申请采用的一个技术方案是:提供一种电子产品的底壳检测装置,所述底壳检测装置设置在流水线的指定位置,用于对电子产品的底壳进行检测;所述底壳检测装置包括第一检测台、第一图像采集单元和第一光源,所述第一图像采集单元和所述第一光源设置在所述第一检测台的下方;所述第一检测台用于承载被测电子产品;所 ...
【技术保护点】
1.一种电子产品的底壳检测装置,其特征在于,所述底壳检测装置设置在流水线的指定位置,用于对电子产品的底壳进行检测;/n所述底壳检测装置包括第一检测台、第一图像采集单元和第一光源,所述第一图像采集单元和所述第一光源设置在所述第一检测台的下方;/n所述第一检测台用于承载被测电子产品;/n所述第一光源用于发出光线,以照射所述被测电子产品的底壳,所述第一图像采集单元用于采集所述被测电子产品的底壳图像,以检测所述被测电子产品的底壳的外观情况。/n
【技术特征摘要】
1.一种电子产品的底壳检测装置,其特征在于,所述底壳检测装置设置在流水线的指定位置,用于对电子产品的底壳进行检测;
所述底壳检测装置包括第一检测台、第一图像采集单元和第一光源,所述第一图像采集单元和所述第一光源设置在所述第一检测台的下方;
所述第一检测台用于承载被测电子产品;
所述第一光源用于发出光线,以照射所述被测电子产品的底壳,所述第一图像采集单元用于采集所述被测电子产品的底壳图像,以检测所述被测电子产品的底壳的外观情况。
2.根据权利要求1所述的底壳检测装置,其特征在于,所述底壳检测装置还包括处理终端,所述处理终端与所述第一图像采集单元连接;
所述处理终端用于接收所述第一图像采集单元所采集到的底壳图像,以分析确定所述被测电子产品的底壳的缺陷等级和缺陷部位。
3.根据权利要求1所述的底壳检测装置,其特征在于,所述第一检测台的下方设置有光线集中单元,所述光线集中单元的表面呈球面状;
所述光线集中单元用于将照射在所述光线集中单元表面的光线集中反射至所述被测电子产品处。
4.根据权利要求3所述的底壳检测装置,其特征在于,所述第一光源包括第一子光源和第二子光源,所述第一子光源和所述第二子光源对应分布在所述光线集中单元的两侧。
5.根据权利要求4所述的底壳检测装置,其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员:叶飞,何帆,
申请(专利权)人:深圳回收宝科技有限公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
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