一种基于视觉技术的表面缺陷检测系统及其检测方法技术方案

本发明专利技术公开的一种基于视觉技术的表面缺陷检测系统及其检测方法，该表面缺陷检测系统包括光源子系统、视觉采集子系统和控制中心，检测方法包括缺陷特征载入、检测区域调节、图像采集、图像预处理、图像定位分切、缺陷特征调取、缺陷判别和缺陷定位等步骤，本发明专利技术设计合理，通过设定差分阈值，进行图像重叠，降低缺陷判别的溢漏现象，阵列光源由形态控制机构控制，进行多形态的变化调整，达到适配多种待测物品的表面缺陷检测的目的，可有效实现待测物品的高速、连续、自动化表面缺陷检测，并提高表面缺陷的检测精度。

A surface defect detection system based on vision technology and its detection method

【技术实现步骤摘要】
一种基于视觉技术的表面缺陷检测系统及其检测方法
本专利技术涉及表面缺陷检测
，特别是一种基于视觉技术的表面缺陷检测系统及其检测方法。
技术介绍
表面缺陷检测是一种针对产品表面缺陷的检测过程，基于视觉设备检测产品的表面缺陷。常规的表面缺陷系统在图像的分切处理上，往往是连续分切，导致，相邻图像的边缘是连续的，因此在对该种图像进行缺陷判别时，对其边缘区域的判别往往会存在溢漏的情况，导致，缺陷判别误差变大，缺陷检测精度下降，而且，对于不同待测物品(如块状、面材的区别)的照明也需要针对调节，而这是常规的表面缺陷系统所不具备的。
技术实现思路
本专利技术针对上述问题，从而公开了一种基于视觉技术的表面缺陷检测系统及其检测方法。具体的技术方案如下：一种基于视觉技术的表面缺陷检测系统及其检测方法，其特征在于，该表面缺陷检测系统包括光源子系统、视觉采集子系统和控制中心；所述光源子系统：包括阵列光源、光源控制器和形态控制机构；所述视觉采集子系统：包括相机矩阵和光学传感器；所述控制中心：包括控制主机、图像处理模块、光学定位模块、缺陷检测模块、光学标记模块和缺陷特征存储单元；所述相机矩阵由多个相机单元组合而成，并与光学传感器控制交互，由光学传感器触发；该表面缺陷检测系统的检测方法如下：(1)检测前准备：(1-1)缺陷特征载入：通过控制主机载入缺陷特征图谱，并存储于缺陷特征存储单元；(1-2)检测区域调节：根据待测物品和物品传输装置，进行检测区域的设定，从而调节相机矩阵拍摄参数，以及阵列光源的照射参数；(2)图像采集：(2-1)图像采集：物品传输装置运行，待测物品持续运动，阵列光源启动，光学传感器感应光源，触发相机矩阵工作，进行图像采集；(2-2)图像预处理：采集的图像由图像处理模块进行预处理，转换为单通道灰度图像，并进行降噪，生成二值化图像数据；(2-3)图像定位分切：光学定位模块对连续的二值化图像数据进行光学定位，并进行图像分切；(3)图像分析：(3-1)缺陷特征调取：缺陷检测模块调取载入的缺陷特征图谱；(3-2)缺陷判别：基于调取缺陷特征图谱，缺陷检测模块对分切的二值化图像进行分析，判别缺陷；(3-3)缺陷定位：基于光学定位模块生成的定位信息，光学标记模块对缺陷位置进行光学标记，确定缺陷区域。上述的一种基于视觉技术的表面缺陷检测系统及其检测方法，其中，步骤(2-3)，在进行图像分切时，需预设差分阈值，避免图像的边缘特征溢漏。上述的一种基于视觉技术的表面缺陷检测系统及其检测方法，其中，步骤(3-2)，在进行缺陷判别时，基于缺陷特征图谱，对检测出的缺陷进行缺陷分类，并返回存储于控制主机中，同步展现与显示设备上。上述的一种基于视觉技术的表面缺陷检测系统及其检测方法，其中，所述相机矩阵所用的相机为工业CCD相机。上述的一种基于视觉技术的表面缺陷检测系统及其检测方法，其中，所述相机矩阵中的多个相机单元由姿态控制器独立调节。上述的一种基于视觉技术的表面缺陷检测系统及其检测方法，其中，所述阵列光源的形态包括但不限于条形、环形、四面形中的一种，并由形态控制机构调节光源形态。上述的一种基于视觉技术的表面缺陷检测系统及其检测方法，其中，所述形态控制机构由轨道、电动滑块和直线驱动器构成，所述轨道的数量为多条，且平行设置，所述电动滑块滑动设置于轨道上，且同一轨道上设置多个电动滑块，所述直线驱动器竖直设置，并固定连接与电动滑块下方。上述的一种基于视觉技术的表面缺陷检测系统及其检测方法，其中，所述阵列光源由多个光源单元组合而成，多个所述光源单元由光源控制器独立控制，光源单元与直线驱动器一一对应，固定连接于直线驱动器下端，由直线驱动器控制升降，并由电动滑块控制位于，实现阵列光源的形态控制。本专利技术的有益效果为：本专利技术公开的一种基于视觉技术的表面缺陷检测系统及其检测方法，该表面缺陷检测系统包括光源子系统、视觉采集子系统和控制中心，检测方法包括缺陷特征载入、检测区域调节、图像采集、图像预处理、图像定位分切、缺陷特征调取、缺陷判别和缺陷定位等步骤，本专利技术设计合理，通过设定差分阈值，进行图像重叠，降低缺陷判别的溢漏现象，阵列光源由形态控制机构控制，进行多形态的变化调整，达到适配多种待测物品的表面缺陷检测的目的，可有效实现待测物品的高速、连续、自动化表面缺陷检测，并提高表面缺陷的检测精度。附图说明图1为本专利技术示意图。图2为形态控制机构仰视图(阵列光源呈四面形)。图3为形态控制机构仰视图(阵列光源呈环形)。图4为形态控制机构正视图。具体实施方式为使本专利技术的技术方案更加清晰明确，下面结合实施例对本专利技术进行进一步描述，任何对本专利技术技术方案的技术特征进行等价替换和常规推理得出的方案均落入本专利技术保护范围。实施例一一种基于视觉技术的表面缺陷检测系统及其检测方法，其特征在于，该表面缺陷检测系统包括光源子系统、视觉采集子系统和控制中心；所述光源子系统：包括阵列光源、光源控制器和形态控制机构；所述视觉采集子系统：包括相机矩阵和光学传感器；所述控制中心：包括控制主机、图像处理模块、光学定位模块、缺陷检测模块、光学标记模块和缺陷特征存储单元；所述相机矩阵由多个相机单元组合而成，并与光学传感器控制交互，由光学传感器触发；该表面缺陷检测系统的检测方法如下：(1)检测前准备：(1-1)缺陷特征载入：通过控制主机载入缺陷特征图谱，并存储于缺陷特征存储单元；(1-2)检测区域调节：根据待测物品和物品传输装置，进行检测区域的设定，从而调节相机矩阵拍摄参数，以及阵列光源的照射参数；(2)图像采集：(2-1)图像采集：物品传输装置运行，待测物品持续运动，阵列光源启动，光学传感器感应光源，触发相机矩阵工作，进行图像采集；(2-2)图像预处理：采集的图像由图像处理模块进行预处理，转换为单通道灰度图像，并进行降噪，生成二值化图像数据；(2-3)图像定位分切：光学定位模块对连续的二值化图像数据进行光学定位，并进行图像分切；(3)图像分析：(3-1)缺陷特征调取：缺陷检测模块调取载入的缺陷特征图谱；(3-2)缺陷判别：基于调取缺陷特征图谱，缺陷检测模块对分切的二值化图像进行分析，判别缺陷；(3-3)缺陷定位：基于光学定位模块生成的定位信息，光学标记模块对缺陷位置进行光学标记，确定缺陷区域。实施例二本实施例的一种基于视觉技术的表面缺陷检测系统及其检测方法，其中，步骤(2-3)，在进行图像分切时，需预设差分阈值，避免图像的边缘特征溢漏。常规的图像分切采用连续分切方式进行，图像为连续的，独立图像的边缘被切割，导致在进行缺陷判别时，会存在溢漏；当设定差分阈值后，相邻图像本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于视觉技术的表面缺陷检测系统及其检测方法，其特征在于，该表面缺陷检测系统包括光源子系统、视觉采集子系统和控制中心；/n所述光源子系统：包括阵列光源、光源控制器和形态控制机构；/n所述视觉采集子系统：包括相机矩阵和光学传感器；/n所述控制中心：包括控制主机、图像处理模块、光学定位模块、缺陷检测模块、光学标记模块和缺陷特征存储单元；/n所述相机矩阵由多个相机单元组合而成，并与光学传感器控制交互，由光学传感器触发；/n该表面缺陷检测系统的检测方法如下：/n(1)检测前准备：/n(1-1)缺陷特征载入：通过控制主机载入缺陷特征图谱，并存储于缺陷特征存储单元；/n(1-2)检测区域调节：根据待测物品和物品传输装置，进行检测区域的设定，从而调节相机矩阵拍摄参数，以及阵列光源的照射参数；/n(2)图像采集：/n(2-1)图像采集：物品传输装置运行，待测物品持续运动，阵列光源启动，光学传感器感应光源，触发相机矩阵工作，进行图像采集；/n(2-2)图像预处理：采集的图像由图像处理模块进行预处理，转换为单通道灰度图像，并进行降噪，生成二值化图像数据；/n(2-3)图像定位分切：光学定位模块对连续的二值化图像数据进行光学定位，并进行图像分切；/n(3)图像分析：/n(3-1)缺陷特征调取：缺陷检测模块调取载入的缺陷特征图谱；/n(3-2)缺陷判别：基于调取缺陷特征图谱，缺陷检测模块对分切的二值化图像进行分析，判别缺陷；/n(3-3)缺陷定位：基于光学定位模块生成的定位信息，光学标记模块对缺陷位置进行光学标记，确定缺陷区域。/n...

【技术特征摘要】
1.一种基于视觉技术的表面缺陷检测系统及其检测方法，其特征在于，该表面缺陷检测系统包括光源子系统、视觉采集子系统和控制中心；
所述光源子系统：包括阵列光源、光源控制器和形态控制机构；
所述视觉采集子系统：包括相机矩阵和光学传感器；
所述控制中心：包括控制主机、图像处理模块、光学定位模块、缺陷检测模块、光学标记模块和缺陷特征存储单元；
所述相机矩阵由多个相机单元组合而成，并与光学传感器控制交互，由光学传感器触发；
该表面缺陷检测系统的检测方法如下：
(1)检测前准备：
(1-1)缺陷特征载入：通过控制主机载入缺陷特征图谱，并存储于缺陷特征存储单元；
(1-2)检测区域调节：根据待测物品和物品传输装置，进行检测区域的设定，从而调节相机矩阵拍摄参数，以及阵列光源的照射参数；
(2)图像采集：
(2-1)图像采集：物品传输装置运行，待测物品持续运动，阵列光源启动，光学传感器感应光源，触发相机矩阵工作，进行图像采集；
(2-2)图像预处理：采集的图像由图像处理模块进行预处理，转换为单通道灰度图像，并进行降噪，生成二值化图像数据；
(2-3)图像定位分切：光学定位模块对连续的二值化图像数据进行光学定位，并进行图像分切；
(3)图像分析：
(3-1)缺陷特征调取：缺陷检测模块调取载入的缺陷特征图谱；
(3-2)缺陷判别：基于调取缺陷特征图谱，缺陷检测模块对分切的二值化图像进行分析，判别缺陷；
(3-3)缺陷定位：基于光学定位模块生成的定位信息，光学标记模块对缺陷位置进行光学标记，确定缺陷区域。


2.如权利要求1所述的一种基于视觉技...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫业斌，
申请(专利权)人：上海普密德自动化科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31