一种孔隙率评估方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种孔隙率评估方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：对被测零件的目标检测区域进行孔隙率检测，得到所述目标检测区域的检测孔隙率；基于预先建立的孔隙率数据库对所述检测孔隙率进行校正，得到所述目标检测区域的校正孔隙率，其中，所述孔隙率数据库中对应存储有检测区域、孔隙率标准值和孔隙率参考值；基于所述目标检测区域的校正孔隙率，确定所述被测零件的零件孔隙率。本发明专利技术实施例通过预先建立的孔隙率数据库对被测零件的检测孔隙率进行分区域校正，解决了被测零件的周围孔隙率检测不准确的问题，提高了被测零件的孔隙率测量结果的准确度。

A porosity evaluation method, device, equipment and storage medium

【技术实现步骤摘要】
一种孔隙率评估方法、装置、设备及存储介质
本专利技术实施例涉及无损检测
，尤其涉及一种孔隙率评估方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
孔隙率是指单位体积内孔隙缺陷的体积百分比，孔隙是零件在制作过程中不可避免会出现的缺陷，而孔隙的存在会影响到零件的质量和使用性能，因此，孔隙率是用来衡量零件孔隙缺陷严重程度的一个重要指标。CT检测技术是利用X射线探测零件内部的缺陷，通过测定射线衰减系数，采用数学算法，求解出衰减系数在零件某剖面上的二维分布矩阵，转变为图像画面上的灰度分布，从而实现建立断面图像的成像技术。基于上述的现有技术方案，CT检测技术对于尺寸较大的零件，孔隙率检测结果并不理想。CT检测的空间分辨率随着离旋转中心轴的距离增大而降低，从而容易遗漏尺寸较小的孔隙，导致零件的孔隙率测量结果不准确。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种孔隙率评估方法、装置、设备及存储介质，以提高零件的孔隙率测量结果的准确度。第一方面，本专利技术实施例提供了一种孔隙率评估方法，该方法包括：对被测零件的目标检测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种孔隙率评估方法，其特征在于，包括：/n对被测零件的目标检测区域进行孔隙率检测，得到所述目标检测区域的检测孔隙率；/n基于预先建立的孔隙率数据库对所述检测孔隙率进行校正，得到所述目标检测区域的校正孔隙率，其中，所述孔隙率数据库中对应存储有检测区域、孔隙率标准值和孔隙率参考值；/n基于所述目标检测区域的校正孔隙率，确定所述被测零件的零件孔隙率。/n

【技术特征摘要】
1.一种孔隙率评估方法，其特征在于，包括：
对被测零件的目标检测区域进行孔隙率检测，得到所述目标检测区域的检测孔隙率；
基于预先建立的孔隙率数据库对所述检测孔隙率进行校正，得到所述目标检测区域的校正孔隙率，其中，所述孔隙率数据库中对应存储有检测区域、孔隙率标准值和孔隙率参考值；
基于所述目标检测区域的校正孔隙率，确定所述被测零件的零件孔隙率。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
根据至少两个检测区域对标准试块进行孔隙率检测，确定所述各检测区域的孔隙率参考值；
根据所述孔隙率参考值、所述检测区域和所述标准试块的孔隙率标准值，构建孔隙率数据库。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：
获取所述标准试块的试块尺寸，并基于所述试块尺寸，确定所述至少两个检测区域。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述试块尺寸，确定所述至少两个检测区域，包括：
基于所述试块尺寸和所述被测零件的旋转中心轴，对所述被测零件在各旋转角度上的旋转半径进行划分，将每间隔一个所述试块尺寸的图像区域作为标准试块的检测区域。


5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于预先建立的孔隙率数据库对所述检测孔隙率进行校正，得到所述目标检测区域的校正孔隙率，包括：
根据所述目标检测区域和所述检测孔隙率，在所述孔隙率数据库查找与所述目标检测区域和所述检测孔隙率对应的孔隙率标准值；
基于所述孔隙率标准值对所述检测孔隙率进行校正，得到校正孔隙率。


6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：孟嘉，刘奎，肖鹏，南方，
申请(专利权)人：上海飞机制造有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31