一种孔隙率检测方法技术

本发明专利技术涉及孔隙率检测技术领域，具体公开了一种孔隙率检测方法，该孔隙率检测方法包括：建立评估曲线，评估曲线的横坐标为孔隙率，纵坐标为底片的灰度；对待检测工件进行射线扫描，并获得检测底片；确认检测底片的实际灰度；从评估曲线中查找与实际灰度匹配的横坐标的值，以作为待检测工件的实际孔隙率。该检测方法，通过射线扫描待检测工件，相比相关技术中的超声波不会造成待检测工件损伤，并且检测效率高。

A test method of porosity

【技术实现步骤摘要】
一种孔隙率检测方法
本专利技术涉及孔隙率检测
，尤其涉及一种孔隙率检测方法。
技术介绍
孔隙是碳纤维复合材料制造过程中不可避免的微小缺陷，且复合材料的机械性能对孔隙十分敏感。评定孔隙对复合材料影响的参数是孔隙率，孔隙率是指材料中孔隙体积与材料在自然状态下总体积的百分比。碳纤维复合材料孔隙率检测方法主要有两类：破坏性检测和无损检测。破坏性检测主要包括密度法、显微照相法；无损检测主要指超声检测。目前，复合材料孔隙率无损检测广泛采用超声检测，但这种方法检测效率低，速度慢。
技术实现思路
本专利技术的目的在于：提供一种孔隙率检测方法，以提高孔隙率检测效率。本专利技术提供一种孔隙率检测方法，该孔隙率检测方法包括：建立评估曲线，所述评估曲线的横坐标为孔隙率，纵坐标为底片的灰度；对待检测工件进行射线扫描，并获得检测底片；确认所述检测底片的实际灰度；从所述评估曲线中查找与所述实际灰度匹配的横坐标的值，以作为所述待检测工件的实际孔隙率。作为孔隙率检测方法的优选技术方案，建立所述评估曲线的方法包括：制作样品组合，所述样品组合包括多个相同厚度的对比试块，各个所述对比试块的孔隙率各不相同，所述对比试块的材质与所述待检测工件的材质相同；分别对所述样品组合的各个所述对比试块进行射线扫描，并获得多个样品底片；确认各个所述样品底片的灰度；在坐标系中以所述对比试块的孔隙率为横坐标，以所述对比试块的样品底片的灰度为纵坐标，建立各个所述对比试块的坐标点；将各个所述坐标点拟合成所述评估曲线。作为孔隙率检测方法的优选技术方案，所述样品组合的数量为多个，多个所述样品组合形成样品库，各个所述样品组合中的所述对比试块的厚度不相同；分别对各个所述样品组合建立所述评估曲线，且各个所述评估曲线的纵坐标不重叠。作为孔隙率检测方法的优选技术方案，所述射线为X射线。作为孔隙率检测方法的优选技术方案，还包括待检测工件的材质为碳纤维复合材料。作为孔隙率检测方法的优选技术方案，通过CT系统对所述待检测工件进行射线扫描，并获得所述检测底片。本专利技术的有益效果为：本专利技术提供一种孔隙率检测方法，该孔隙率检测方法包括：建立评估曲线，评估曲线的横坐标为孔隙率，纵坐标为底片的灰度；对待检测工件进行射线扫描，并获得检测底片；确认检测底片的实际灰度；从评估曲线中查找与实际灰度匹配的横坐标的值，以作为待检测工件的实际孔隙率。该检测方法，通过射线扫描待检测工件，相比相关技术中的超声波不会造成待检测工件损伤，并且检测效率高。附图说明图1为本专利技术实施例中孔隙率检测方法的流程图；具体实施方式下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。其中，术语“第一位置”和“第二位置”为两个不同的位置，而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。如图1所示，本实施例提供一种孔隙率检测方法，该孔隙率检测方法包括以下步骤：S1：建立评估曲线，评估曲线的横坐标为孔隙率，纵坐标为底片的灰度。建立评估曲线的方法包括：1)、制作样品组合，样品组合包括多个相同厚度的对比试块，各个对比试块的孔隙率各不相同，对比试块的材质与待检测工件的材质相同。可以理解的是，可以通过样品组合的各个对比试块作为孔隙率检测的对比依据。2)、分别对样品组合的各个对比试块进行射线扫描，并获得多个样品底片。本实施例中，射线为X射线，可通过CT系统进行扫描作业。3)、确认各个样品底片的灰度。可以凭借人工通过经验进行评估，也可以图像处理系统进行评估。4)、在坐标系中以对比试块的孔隙率为横坐标，以对比试块的样品底片的灰度为纵坐标，建立各个对比试块的坐标点。5)、将各个坐标点拟合成评估曲线。可以通过Matlab或Origin等软件，将各个对比试块的坐标点拟合成评估曲线。可选地，样品组合的数量为多个，多个样品组合形成样品库，各个样品组合中的对比试块的厚度不相同；分别对各个样品组合建立评估曲线，且各个评估曲线的纵坐标不重叠。从而，对应一个具体的实际灰度，仅会有一个与之对应的孔隙率。S2：对待检测工件进行射线扫描，并获得检测底片。扫描时，通过CT系统对待检测工件进行全覆盖扫描。S3：确认检测底片的实际灰度；S4：从评估曲线中查找与实际灰度匹配的横坐标的值，以作为待检测工件的实际孔隙率。该检测方法，通过射线扫描待检测工件，相比相关技术中的超声波不会造成待检测工件损伤，并且检测效率高。显然，本专利技术的上述实施例仅仅是为了清楚说明本专利技术所作的举例，而并非是对本专利技术的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本专利技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本专利技术权利要求的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种孔隙率检测方法，其特征在于，包括：/n建立评估曲线，所述评估曲线的横坐标为孔隙率，纵坐标为底片的灰度；/n对待检测工件进行射线扫描，并获得检测底片；/n确认所述检测底片的实际灰度；/n从所述评估曲线中查找与所述实际灰度匹配的横坐标的值，以作为所述待检测工件的实际孔隙率。/n

【技术特征摘要】
1.一种孔隙率检测方法，其特征在于，包括：
建立评估曲线，所述评估曲线的横坐标为孔隙率，纵坐标为底片的灰度；
对待检测工件进行射线扫描，并获得检测底片；
确认所述检测底片的实际灰度；
从所述评估曲线中查找与所述实际灰度匹配的横坐标的值，以作为所述待检测工件的实际孔隙率。


2.根据权利要求1所述的孔隙率检测方法，其特征在于，建立所述评估曲线的方法包括：
制作样品组合，所述样品组合包括多个相同厚度的对比试块，各个所述对比试块的孔隙率各不相同，所述对比试块的材质与所述待检测工件的材质相同；
分别对所述样品组合的各个所述对比试块进行射线扫描，并获得多个样品底片；
确认各个所述样品底片的灰度；
在坐标系中以所述对比试块的孔隙率为横坐标，以所述对...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖鹏，刘奎，孟嘉，张继敏，周晖，
申请(专利权)人：中国商用飞机有限责任公司，上海飞机制造有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31