镜面、类镜面物体表面缺陷检测方法技术

技术编号:24450983 阅读:72 留言:0更新日期:2020-06-10 14:16
本发明专利技术公开了一种镜面、类镜面物体表面缺陷检测方法,包括以下步骤:对左、右相机及投影装置进行系统标定,标记出其中一部相机图像中的缺陷区域;框选缺陷区域,选取预选点集并任选一点记为标记点,记标记点对应在被测物表面上的点为s

Detection method for surface defects of mirror and mirror like objects

【技术实现步骤摘要】
镜面、类镜面物体表面缺陷检测方法
本专利技术涉及缺陷检测领域,具体涉及一种镜面、类镜面物体表面缺陷检测方法。
技术介绍
镜面、类镜面物体广泛存在于现代制造业中,如汽车涂装车身、玻璃面板、光学镜片等,缺陷检测是保证镜面物体表面质量的必要环节。目前物体表面缺陷检测大多是采用:人工目视的方法,此方法主要依靠工人主观判断,存在漏检率高的问题,且人工目视的方法检测效率低,对人眼伤害较大,人工成本高;另一种检测方法为:相位测量偏折术(PhaseMeasuringDeflectometry,PMD),此方法向物体表面投射相位编码的条纹图像,通过解算反射图像相位实现缺陷检测区域识别;但是,由于缺陷区域存在相位信息丢失,因此相位测量偏折术检测方法无法直接实现对缺陷区域的空间定位。
技术实现思路
针对上述问题,本专利技术提出一种镜面、类镜面物体表面缺陷检测方法,本方法利用双目系统及投影装置(相位测量偏折术),不仅可以获得镜面、类镜面物体表面相位信息,基于相位信息识别出缺陷区域;还能够利用标定信息解算出缺陷区域的三维信息,有效解决了:因缺本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种镜面、类镜面物体表面缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:/n1)对左、右相机及投影装置进行系统标定;投影装置向被测物表面投射光栅条纹,左、右相机采集投射在被测物表面的光栅条纹图像;/n任选其中一部相机记为第一相机,另一相机记为第二相机,对第一相机采集到的图像进行处理,标记出缺陷区域;/n2)利用最小外接图形框选所述缺陷区域,从所述最小外接图形的边缘中选取多个边缘点记为预选点集;/n3)从所述预选点集中任选一点记为标记点,将其转换到世界坐标系下,得出三维坐标p

【技术特征摘要】
1.一种镜面、类镜面物体表面缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)对左、右相机及投影装置进行系统标定;投影装置向被测物表面投射光栅条纹,左、右相机采集投射在被测物表面的光栅条纹图像;
任选其中一部相机记为第一相机,另一相机记为第二相机,对第一相机采集到的图像进行处理,标记出缺陷区域;
2)利用最小外接图形框选所述缺陷区域,从所述最小外接图形的边缘中选取多个边缘点记为预选点集;
3)从所述预选点集中任选一点记为标记点,将其转换到世界坐标系下,得出三维坐标p1(xp1,yp1,zp1);通过绝对相位相等,得出点p1对应在投影装置中的点为q1,将其转换到世界坐标系下,得出三维坐标q1(xq1,yq1,zq1);
记所述标记点对应在被测物表面上的点为s1(xs1,ys1,zs1),其中,zs1=a×D,a为比例系数,D为第一相机的工作距;
4)计算矢量v1=s1(xs1,ys1,zs1)-p1(xp1,yp1,zp1)和w1=s1(xs1,ys1,zs1)-q1(xq1,yq1,zq1);
利用第一相机,得到点s1的法向量
记点s1对应在第二相机像平面中的点为p2,将其转换到世界坐标系下,得出三维坐标p2(xp2,yp2,zp2);;
通过绝对相位相等,得出点p2对应在投影装置中的点q2,将其转换到世界坐标系下,得出三维坐标q2(xq2,yq2,zq2);
计算矢量v2=s1(xs1,ys1,zs1)-p2(xp2,yp2,zp2)和w2=s1(xs1,ys1,zs1)-q2(xq2,yq2,zq2);
利用第二相机,得到点s1的法向量
计算法向量n1、n2的夹角:



5)令zs1增加步长Δt,更新点s1(xs1,ys1,zs1)的坐标位置,利用新的点s1坐标,重复步骤4),再次计算夹角β;
6)重复步骤5),直到zs1>b×D时停止迭代,并将得出β值最小的一次对应的点s1(xs1,ys1,zs1)存储为候选空间点;b为比例系数;
7)从预选点集中剔除标记点,得到新的预选点集,重复步骤...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭寅尹仕斌孙博郭磊姜硕
申请(专利权)人:易思维杭州科技有限公司
类型:发明
国别省市:浙江;33

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