一种基于Sagnac实体干涉仪的光谱仪装调方法技术

本发明专利技术目的是提供一种基于Sagnac实体干涉仪的光谱仪装调方法，以解决现有基于Sagnac实体干涉仪的光谱仪的传统装调方法，由于探测器复位精度较差导致的调整基准无法固化，以及由前至后的装调顺序可能会使探测器最终穿轴位置与主箱体预留理论位置偏差较大的问题。本发明专利技术将装调顺序优化为：傅氏镜‑探测器‑准直镜‑干涉仪‑前置镜‑探测器，并且直接将大地水平作为外部基准，无需将探测器行列与外部基准对准，将干涉仪底面与外部基准调平后，只需调整零级干涉条纹与铅垂线在探测器上的像的夹角即可，装调过程中无需对探测器进行反复拆装。

A method of spectrometer adjustment based on Sagnac solid interferometer

【技术实现步骤摘要】
一种基于Sagnac实体干涉仪的光谱仪装调方法
本专利技术涉及一种光谱仪装调方法，尤其涉及一种基于Sagnac实体干涉仪的光谱仪装调方法。
技术介绍
基于Sagnac干涉仪的干涉光谱成像技术原理为，在系统平行光路中放置一个Sagnac横向剪切干涉仪，将平行光路分成两路并产生横向剪切量，由傅里叶变换透镜在焦面上将光路会聚并产生干涉条纹。根据系统谱段要求和傅氏镜焦距、光阑尺寸、视场等数据，使干涉仪尺寸既满足要求又能使体积尽量小，可选择将干涉仪设计为实体干涉仪或者分体干涉仪。对基于Sagnac实体干涉仪的光谱成像仪(其结构原理如图1所示)，传统装调方法是由前至后依次装调，具体装调顺序为前置镜-准直镜-干涉仪-傅氏镜-探测器，其缺点是：1.在装调过程中需要先将探测器像元与外部基准对准，然后将探测器像元行与列作为装调基准对实体干涉仪进行调整。由于探测器的位置复位精度较差，装调基准无法保持恒定不变，降低了干涉仪的装调精度，影响了光谱仪的数据复原精度。2.由前至后的装调顺序有可能会使得探测器最终穿轴位置与主箱体预留理论位置偏差本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于Sagnac实体干涉仪的光谱仪装调方法，其特征在于，包括以下步骤：/n步骤1：将傅氏镜与探测器穿心，并确定傅氏镜与探测器的轴向距离；/n步骤2：将大地水平作为外部基准，调整Sagnac实体干涉仪底座，使Sagnac实体干涉仪的反射面与大地垂直；/n步骤3：将准直镜、Sagnac实体干涉仪、傅氏镜进行穿心；/n步骤4：在准直镜焦面位置处悬挂铅垂线，引入外部基准；/n步骤5：照亮Sagnac实体干涉仪的有效通光口径，使Sagnac实体干涉仪产生的零级干涉条纹与铅垂线同时成像在探测器上；/n步骤6：调整Sagnac实体干涉仪底面相对于大地水平的倾斜，使零级干涉条纹与铅垂线在探测器上所成像...

【技术特征摘要】
1.一种基于Sagnac实体干涉仪的光谱仪装调方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤1：将傅氏镜与探测器穿心，并确定傅氏镜与探测器的轴向距离；
步骤2：将大地水平作为外部基准，调整Sagnac实体干涉仪底座，使Sagnac实体干涉仪的反射面与大地垂直；
步骤3：将准直镜、Sagnac实体干涉仪、傅氏镜进行穿心；
步骤4：在准直镜焦面位置处悬挂铅垂线，引入外部基准；
步骤5：照亮Sagnac实体干涉仪的有效通光口径，使Sagnac实体干涉仪产生的零级干涉条纹与铅垂线同时成像在探测器上；
步骤6：调整Sagnac实体干涉仪底面相对于大地水平的倾斜，使零级干涉条纹与铅垂线在探测器上所成像之间的夹角达到设计允许范围；
步骤7：安装前置镜，并确定前置镜一次像面的轴向位置；
步骤8：再次测试全系统状态下零级干涉条纹与铅垂线在探测器上所成像之间的夹角，...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡炳樑，刘欢，李思远，白清兰，李立波，邹纯博，武俊强，赵强，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：陕西;61