一种轨道测量的后处理方法技术

本发明专利技术公开一种轨道测量的后处理方法，应用于工程测绘技术领域，针对现有的轨道测量通常在CPIII复测后进行，存在的轨道测量效率低的问题；本发明专利技术同时分别进行初步的轨道测量与CPIII复测；初步的轨道测量采用上一阶段CPIII成果进行；上一阶段CPIII成果为建网结果或者上次CPIII复测成果；根据轨道初步测量结果基本能够反映轨道实际情况，若出现偏差过大地段，及时寻找原因，给问题处置预留时间，待根据当前的复测成果完后，及时提交最终扣件购买量，从而缩短备料周期，提高工程进度；在既有线测量时，利用CPIII建网成果进行轨道测量，可与CPIII复测同时进行，减少防护人员，减少整体上道时间，以减少测量成本。

A post-processing method of track measurement

【技术实现步骤摘要】
一种轨道测量的后处理方法
本专利技术属于工程测绘
，特别涉及一种轨道测量技术。
技术介绍
既有线路测量是为既有铁路的运营管理、养护、维修、技术改造和改建提供精确可靠性的技术资料；既有线铁路运营期间，轨道测量通常在CPIII复测后进行，但既有线测量时，天窗时间短，若等CPIII复测测量成果完成再进行轨道测量，工期将增加一倍，也严重制约轨道测量效率。同时，在工期紧张的新建线路，若仍采用CPIII复测后进行轨道测量的方式，势必会影响工程进度。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本专利技术提出一种轨道测量的后处理方法，采用建网成果进行轨道测量，待CPIII复测成果出来进行重新计算，可以节约工期，减少测量成本。本专利技术采用的技术方案包括：一种轨道测量的后处理方法，同时分别进行初步的轨道测量与CPIII复测；所述初步的轨道测量采用上一阶段CPIII成果进行测量。具体包括以下过程：S1、将上一阶段CPIII成果存储到采集设备上；S2、采用步骤S1所述采集设备的软件控制全站仪进行设站测量，并记录设站点号，目标点点号，实测斜距，水平角和天顶距信息，并利用CPIII成果计算设站点初始坐标；S3、根据当前CPIII复测结果对设站坐标进行重新计算；S4、根据步骤S3计算得到的设站坐标对轨道成果进行计算。步骤S1中所述上一阶段CPIII成果为建网结果或者上次复测成果。步骤S2包括：记录设站点点名，目标点点名，实测斜距，水平角与竖直角信息。步骤S4具体为：采用步骤S3计算得到的设站坐标，对轨道信息进行重新计算。本专利技术的有益效果：本专利技术同时分别进行初步的轨道测量与CPIII复测；所述初步的轨道测量采用上一阶段CPIII成果进行测量；上一阶段CPIII成果为建网结果或者上次CPIII复测成果；可以根据轨道初步测量结果基本能够反映轨道实际情况，若出现偏差过大地段，及时寻找原因，给问题处置预留时间，待根据当前的复测成果完后，及时提交最终扣件购买量，从而缩短备料周期，提高工程进度；在既有线测量时，利用CPIII建网成果进行轨道测量，可与CPIII复测同时进行，减少防护人员，减少整体上道时间，以减少测量成本。附图说明图1为本专利技术的方案流程图。具体实施方式为便于本领域技术人员理解本专利技术的
技术实现思路
，下面结合附图对本
技术实现思路
进一步阐释。如图1所示，本专利技术的一种轨道测量的后处理方法，包括以下步骤：第一步：把上一阶段CPIII成果(CPIII点号，坐标X，坐标Y，坐标H，仪器高，如表1)存储在数据采集设备上；表1：CPIII上一阶段成果表第二步：利用上一阶段CPIII成果对轨道进行测量时，记录设站点点名，目标点点名，实测斜距，水平角与天顶距信息(如表2)，此时无论CPIII残差多大都应该测量并保存该条信息，设站坐标SZ2为(3403841.0904,547098.3939,478.9318)。表2：外业测量记录信息及残差表第三步：利用复测成果对设站点坐标进行重新计算；具体分为以下两种情况：在整平状态下通过将竖盘指标差作为附加参数，构建基于竖盘指标差参数的三维平差模型，并利用多组后视点的观测数据通过平差计算设站点坐标和竖盘指标差，使得设站点的点位精度得到有效提高，并且降低了自由设站对全站仪的硬性要求；具体计算过程可按照《一种基于单盘位测量的自由设站方法》(专利号：ZL201811424662.6)进行计算。在不整平状态下，采用改进的布尔莎模型，利用设站点里程、设计超高及纵坡等信息对设站点三维坐标以及设站点到后视点的距离、水平角、竖直角进行计算，从而实现在后续设站点无需瞄准测点进行自动测量，减少了测量工作量，提高了测量工作效率，降低了安全风险，具体计算过程可按照《一种基于改进的布尔莎模型的不整平自由设站方法》(专利公开号：CN110345930A)进行计算。CPIII复测为现有技术，本专利技术中不做详细阐述。表3：CPIII复测成果表表4利用复测成果重新计算CPIII残差表第四步：利用CPIII复测计算的SZ2设站坐标(3403841.0904,547098.3937,478.9311)进行并结合其他相关信息对轨道测量后续计算，具体方法参考《一种轨道平顺性检测分析的方法》(专利公开号：CN109823362A)，并输出轨道测量所需成果。本领域的普通技术人员将会意识到，这里所述的实施例是为了帮助读者理解本专利技术的原理，应被理解为本专利技术的保护范围并不局限于这样的特别陈述和实施例。对于本领域的技术人员来说，本专利技术可以有各种更改和变化。凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的权利要求范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种轨道测量的后处理方法，其特征在于，同时分别进行初步的轨道测量与CPIII复测；所述初步的轨道测量采用上一阶段CPIII成果进行测量。/n

【技术特征摘要】
1.一种轨道测量的后处理方法，其特征在于，同时分别进行初步的轨道测量与CPIII复测；所述初步的轨道测量采用上一阶段CPIII成果进行测量。


2.根据权利要求1所述的一种轨道测量的后处理方法，其特征在于，当新建线进行轨道测量时，所述上一阶段CPIII成果为建网结果；当既有线进行轨道测量时，所述上一阶段CPIII成果为上次CPIII复测成果。


3.根据权利要求2所述的一种轨道测量的后处理方法，其特征在于，所述采用上一阶段CPIII成果进行初步的轨道测量，具体包括以下步骤：
A1、将上一阶段CPIII成果存储到采集...

【专利技术属性】
技术研发人员：王国祥，郑子天，刘志鹏，陈海军，胥海燕，赵龙，汤曦，杨锋，其他发明人请求不公开姓名，
申请(专利权)人：四川拓绘科技有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51