制动阀滑阀副平面度的检测装置及检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种制动阀滑阀副平面度的检测装置及检测方法。其中，制动阀滑阀副平面度的检测装置包括：第一光源；干涉采集器；第一偏光片，第一光源发出的光束在经过第一偏光片时分成反射的参考光束和透射的检测光束，检测光束穿过第一偏光片后被待测工件反射后逆向照射在第一偏光片，且在第一偏光片的反射下射入干涉采集器；反光镜，参考光束反射到反光镜上，并在反光镜的至少一次反射下逆向穿过第一偏光片照射到干涉采集器上，检测光束和参考光束在干涉采集器上形成干涉图像；显示设备，显示设备与干涉采集器连接，并将干涉图像显示出来。本发明专利技术解决了现有技术中无法对制动阀滑阀副的平面度进行有效检测的问题。

Detection device and method of flatness of slide valve pair of brake valve

【技术实现步骤摘要】
制动阀滑阀副平面度的检测装置及检测方法
本专利技术涉及制动阀
，具体而言，涉及一种制动阀滑阀副平面度的检测装置及检测方法。
技术介绍
制动阀阀是制动系统的核心部件。采用滑阀机构的制动阀的心脏是滑阀副——滑阀与主阀体的滑阀座配合副、节制阀与滑阀的配合副(统称为滑阀副)。共3个零部件、4个配合面，各配合面均采用研磨加工，要求平面度达到6μm，表面粗糙度达到Ra0.2μm。此4个面的加工质量直接影响各配合副的密封性，一旦密封失效则有可能导致各通气孔向外漏泄或互相串风，致使制动、缓解失效。目前各面研磨后的质量(平面度、粗糙度)没有有效的检测手段，仍主要依靠操作者经验进行判断，缺乏量化手段及指标。因此急需研发一种可靠的检测工艺及装备，用于生产现场的实物检测。目前常用的平面度检测方法有以下两种：专用检测仪取点检测：采用类似与三坐标取点检测的方法。其检测原理是在一块标准的平面平板上安装一定数量的精密气动量规，将平板与工件密贴后，由气动量规检测出该点与标准平板间的间隙，以此得出工件该点与标准平板之间的高度差，再由计算机拟合为虚拟平面，以此量化工件平面度的误差。从滑阀副的作用原理来讲，无论哪两个面密贴之后，都应实现机械密封，不仅密封面的各孔不能向外漏泄，各孔之间也不能串风，因此需要工件配合面整个表面的平面度均达到技术要求的指标。任何一点的局部凹下都有可能造成密封失效。而上述的检测方法只是在局部取点测量，无法充分反映整个配合面的实际状态，并不适合滑阀副检测。间接检测法：采用的是功能性检测的方式，将被测平面与一标准平面密贴，将工件上的孔封闭后抽真空，通过真空度来判断二者的密封程度，间接评价被测面的平面度。由于此种方法属于间接评价法，因而并不能实现对工件的平面度指标的检测，且检测的重复精度不高
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种制动阀滑阀副平面度的检测装置及检测方法，以解决现有技术中无法对制动阀滑阀副的平面度进行有效检测的问题。为了实现上述目的，根据本专利技术的一个方面，提供了一种制动阀滑阀副平面度的检测装置，包括：第一光源；干涉采集器；第一偏光片，第一偏光片位于第一光源和待测工件之间，且第一光源发出的光束在经过第一偏光片时分成反射的参考光束和透射的检测光束，检测光束穿过第一偏光片后照射在待测工件上，并被待测工件反射后逆向照射在第一偏光片背离第一光源的一侧，且在第一偏光片的反射下射入干涉采集器；反光镜，反光镜位于第一偏光片远离干涉采集器的一侧，参考光束反射到反光镜上，并在反光镜的至少一次反射下逆向穿过第一偏光片照射到干涉采集器上，检测光束和参考光束在干涉采集器上形成干涉图像；显示设备，显示设备与干涉采集器连接，并将干涉图像显示出来。进一步地，第一光源发出的光束的波长为500至760nm，且第一光源采用激光光源。进一步地，第一光源发出的光束的波长为635nm。进一步地，检测装置还包括调整平台，调整平台位于第一偏光片远离第一光源的一侧，待测工件放置在调整平台上，且调整平台的工作表面的倾斜程度能够调节。进一步地，检测装置还包括：第二偏光片，第二偏光片设置在第一偏光片远离反光镜的一侧，并且经由第一偏光片反射的检测光束以及经由反光镜反射的参考光束均照射在第二偏光片上，并分成反射光束和透射光束，反射光束或透射光束射入干涉采集器中并形成干涉图像；调整采集器，调整采集器设置在第一偏光片远离反光镜的一侧并与显示设备连接，透射光束或反射光束射入调整采集器中并形成光斑，且由检测光束形成的光斑和由参考光束形成的光斑之间的相对位置随调整平台的工作表面的倾斜程度改变。进一步地，检测装置还包括透镜，透镜位于第一光源和第一偏光片之间，第一光源发出的光束穿过透镜后照射在第一偏光片上。进一步地，检测装置还包括：第二光源；平晶，平晶能够伸入待测工件的孔洞之中，第二光源发出的光束经由平晶表面照射在待测工件上并形成干涉图像。根据本专利技术的另一方面，提供了一种制动阀滑阀副平面度的检测方法，包括：打开第一光源，第一光源发出的光束在经过第一偏光片时分成反射的参考光束和透射的检测光束，检测光束穿过第一偏光片后照射在待测工件上，并被待测工件反射后逆向照射在第一偏光片背离第一光源的一侧，且在第一偏光片的反射下射入干涉采集器，参考光束反射到反光镜上，并在反光镜的至少一次反射下逆向穿过第一偏光片照射到干涉采集器上，检测光束和参考光束在干涉采集器上形成干涉图像，显示设备显示出来干涉图像；根据显示设备显示的干涉图像判断待测工件的表面的平面度是否满足要求，当干涉图像的各干涉条纹之间均相互平行，则待测工件的平面度满足要求，当干涉图像中未有干涉条纹或者各干涉条纹之间不平行，则待测工件的平面度不满足要求。进一步地，检测方法还包括在打开第一光源后且在判断待测工件的表面的平面度之前的调平操作，调平操作包括经由第一偏光片反射的检测光束以及经由反光镜反射的参考光束均照射在第二偏光片上，并分成反射光束和透射光束，透射光束或反射光束射入调整采集器中并形成光斑，调整调整平台的工作表面，使得由检测光束形成的光斑和由参考光束形成的光斑之间重合。进一步地，检测方法还包括将平晶伸入至待测工件的孔洞之中，打开第二光源，第二光源发出的光束经由平晶表面照射在待测工件上并形成干涉图像，根据平晶表面的干涉图像判断待测工件的孔洞侧壁的平面度。应用本专利技术的技术方案，通过设置有第一偏光片和反光镜，第一偏光片能够对第一光源发出的光束进行反射和透射，其中被反射的部分为参考光束，透射过第一偏光片的部分为检测光束，检测光束会照射到待测工件上，然后被待测工件的表面反射180度，使得检测光束沿着照射到待测工件的方向反向再次照射到第一偏光片上，并且在第一偏光片的反射下转向90度，从而射入到干涉采集器中，与此同时，参考光束经过第一偏光片反射90度，照射到反光镜上，在反光镜上进行至少一次反射，最终使得参考光束沿着照射到反光镜的方向反向再次照射到第一偏光片上，此时参考光束与检测光束相互平行，参考光束透射过第一偏光片射入干涉采集器中，从而使得参考光束与检测光束形成干涉条纹，根据干涉条纹即可判断出待测工件的表面的平面度是否满足要求。上述设置方式由于第一光源的光束能够照射到待测工件的整个表面上，因而一次检测就能够对待测工件的整个表面全部进行检测，避免局部取点测量造成的检测误差，检测更加全面，保证待测工件整个表面的平面度均能够满足要求，而利用光的等厚干涉的作为基本原理，通过两个光束的干涉产生的干涉条纹来判断表面的平面度，使得检测结果更加准确可靠，并且装置结构简单，造价低，易于维护操作，检测方法操作方便，易于现场执行。附图说明构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本专利技术的进一步理解，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1示出了本专利技术的制动阀滑阀副平面度的检测装置的结构示意图；图2示出了图1中的检测装置在进行调平操作之前的结构示意图；图3示出了图2中的检测装置在进行调平操作之后的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种制动阀滑阀副平面度的检测装置，其特征在于，包括：/n第一光源(10)；/n干涉采集器(20)；/n第一偏光片(30)，所述第一偏光片(30)位于所述第一光源(10)和待测工件(100)之间，且所述第一光源(10)发出的光束在经过所述第一偏光片(30)时分成反射的参考光束(11)和透射的检测光束(12)，所述检测光束(12)穿过所述第一偏光片(30)后照射在所述待测工件(100)上，并被所述待测工件(100)反射后逆向照射在所述第一偏光片(30)背离所述第一光源(10)的一侧，且在所述第一偏光片(30)的反射下射入所述干涉采集器(20)；/n反光镜(40)，所述反光镜(40)位于所述第一偏光片(30)远离所述干涉采集器(20)的一侧，所述参考光束(11)反射到所述反光镜(40)上，并在所述反光镜(40)的至少一次反射下逆向穿过所述第一偏光片(30)照射到所述干涉采集器(20)上，所述检测光束(12)和所述参考光束(11)在所述干涉采集器(20)上形成干涉图像；/n显示设备(50)，所述显示设备(50)与所述干涉采集器(20)连接，并将所述干涉图像显示出来。/n

【技术特征摘要】
1.一种制动阀滑阀副平面度的检测装置，其特征在于，包括：
第一光源(10)；
干涉采集器(20)；
第一偏光片(30)，所述第一偏光片(30)位于所述第一光源(10)和待测工件(100)之间，且所述第一光源(10)发出的光束在经过所述第一偏光片(30)时分成反射的参考光束(11)和透射的检测光束(12)，所述检测光束(12)穿过所述第一偏光片(30)后照射在所述待测工件(100)上，并被所述待测工件(100)反射后逆向照射在所述第一偏光片(30)背离所述第一光源(10)的一侧，且在所述第一偏光片(30)的反射下射入所述干涉采集器(20)；
反光镜(40)，所述反光镜(40)位于所述第一偏光片(30)远离所述干涉采集器(20)的一侧，所述参考光束(11)反射到所述反光镜(40)上，并在所述反光镜(40)的至少一次反射下逆向穿过所述第一偏光片(30)照射到所述干涉采集器(20)上，所述检测光束(12)和所述参考光束(11)在所述干涉采集器(20)上形成干涉图像；
显示设备(50)，所述显示设备(50)与所述干涉采集器(20)连接，并将所述干涉图像显示出来。


2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述第一光源(10)发出的光束的波长为500至760nm，且所述第一光源(10)采用激光光源。


3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述第一光源(10)发出的光束的波长为635nm。


4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括调整平台(60)，所述调整平台(60)位于所述第一偏光片(30)远离所述第一光源(10)的一侧，所述待测工件(100)放置在所述调整平台(60)上，且所述调整平台(60)的工作表面的倾斜程度能够调节。


5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：
第二偏光片(70)，所述第二偏光片(70)设置在所述第一偏光片(30)远离所述反光镜(40)的一侧，并且经由所述第一偏光片(30)反射的检测光束(12)以及经由所述反光镜(40)反射的参考光束(11)均照射在所述第二偏光片(70)上，并分成反射光束和透射光束，所述反射光束或所述透射光束射入所述干涉采集器(20)中并形成所述干涉图像；
调整采集器(80)，所述调整采集器(80)设置在所述第一偏光片(30)远离所述反光镜(40)的一侧并与所述显示设备(50)连接，所述透射光束或所述反射光束射入所述调整采集器(80)中并形成光斑，且由所述检测光束(12)形成的光斑和由所述参考光束(11)形成的光斑之间的相对位置随所述调整平台(60)的工作表面的倾斜程度...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵亚栋，吴天园，刘东明，孙刚，吴亮亮，刘新意，邱健，王福全，孟凡义，
申请(专利权)人：中车齐齐哈尔车辆有限公司，
类型：发明
国别省市：黑龙;23